Download or read book Nouvelles m thodes d analyse par diffraction des rayons X des variations de texture dans les couches minces written by Kamal El Ghazouli and published by . This book was released on 1998 with total page 192 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Une méthode adoptant des stratégies de mesures différentes qui combine soit les techniques de Schulz et de faible incidence, soit des mesures goniometriques à épaisseur constante de pénétration des rayons X, est décrite pour déterminer les gradients de texture dans les couches minces. Cette nouvelle méthode, qui utilise une seule raie hkl de diffraction, est testée sur des échantillons possédant un gradient de texture artificiel connu : elle est appliquée à l'étude d'un gradient réel de texture d'une couche de la Zircone. Les résultats d'analyse quantitative de la texture par la méthode vectorielle sont présentés.

Download or read book Etude par diffraction des rayons X de la formation d une couche de laiton par d p t d une couche de cuivre et de zinc et diffusion written by Bernard Bolle and published by . This book was released on 1994 with total page 164 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Cette étude présente les travaux réalisés pour analyser, par diffraction des rayons X, une couche de laiton obtenue par dépôt séquentiel de cuivre et de zinc et diffusion. Nous montrons que la diffraction des rayons X est une méthode d'analyse puissante des couches minces. Nous étendons le principe et les méthodes d'analyse quantitative de phases au cas des matériaux hétérogènes. Nous mettons en évidence l'importance du caractère hétérogène dans le calcul des proportions des phases des couches minces. Nous présentons la méthode de Houska de détermination du profil de concentration par simulation d'une raie de diffraction avec un nouveau formalisme permettant de systématiser la résolution (suppression de la méthode d'essai-erreur). Les résultats obtenus ont été confirmés par d'autres méthodes d'analyse. Ils nous ont permis d'étudier avec précision la transformation de phase. L'étude spécifique de nos matériaux nous a également conduit à développer une nouvelle méthode d'évaluation des contraintes internes applicables aussi bien dans le cas des couches minces que dans le cas des échantillons massifs. L'ensemble de ces outils permet une description fidèle et précise de l'état des matériaux au cours du processus de diffusion. Ils ont été appliqués avec succès au cas des couches laitonnées. Ce travail montre qu'il est possible d'utiliser la diffraction des rayons X pour déterminer les phases présentes ainsi que l'homogénéité de composition des phases. Nous montrons aussi qu'il est possible d'utiliser la diffraction des rayons X en contrôle de fabrication

Download or read book Adaptation de m thodes goniom triques l tude par diffraction X des textures de couches minces et de multicouches written by Abdeslem Tizliouine and published by . This book was released on 1994 with total page 274 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Le but de ce travail consiste à établir des lois de correction des intensités diffractées par des couches minces, des bicouches et des multicouches. Ces lois vérifiées expérimentalement, sont indispensables à l'étude quantitative des textures cristallographiques des couches minces. Deux géométries de diffraction sont souvent utilisées : Bragg-Brentano et faible incidence. Pour des couches de très faibles épaisseurs, l'utilisation de la première géométrie est très limitée, quant à la deuxième faible incidence, elle nous permet d'augmenter le volume diffractant et par conséquent les intensités diffractées. Nous avons particulièrement étudié et comparé deux techniques géométriques qui sont la méthode de Schulz et la méthode des multi-figures de pôles MFDP appliquées à la faible incidence. Nous avons montré que la goniométrie de texture peut apporter des informations précises pour des couches minces dont l'épaisseur est de quelques centaines d'angstroms et pour des multicouches à bicouches alternées. Les multicouches étudiées (Fe+Al)/Si, pour lesquelles les lois de corrections ont été élaborées pour une incidence quelconque, nous ont permis de définir parfaitement la relation l'orientation de l'aluminium et du fer par rapport au silicium

Download or read book Caract risation microstructurale des mat riaux written by Claude Esnouf and published by EPFL Press. This book was released on 2011-01-01 with total page 598 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Cet ouvrage présente de façons exhaustive et pédagogique les bases physiques et méthodologiques de caractérisation des matériaux basées sur l'utilisation des rayonnements X et électronique. Rédigé par l'un des meilleurs spécialistes francophones du domaine, les six chapitres de cet ouvrage couvrent l'ensemble de la discipline, depuis l'exposé du langage spécialisé de la cristallographie jusqu'aux méthodes fines impliquant les grands instruments scientifiques. Les méthodes basées sur l'usage du rayonnement X et du rayonnement électronique et mettant en oeuvre la diffraction ou l'imagerie sont exposées en détail, tout comme les nombreux modes d'imagerie électronique. Un chapitre entier est par ailleurs dévolu à la présentation des spectroscopies utiles tant à la caractérisation d'ordre chimique que celle d'ordre structural. Illustré de nombreux exemples et d'exercices résolus, ce manuel constitue une véritable référence pour les étudiants de second cycle d'écoles d'ingénieur, de Master, ainsi que pour les praticiens désireux d'approfondir leurs connaissances dans le domaine.

Download or read book Diffraction Analysis of the Microstructure of Materials written by Eric J. Mittemeijer and published by . This book was released on 2014-09-01 with total page 580 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:

Download or read book Contribution l analyse par diffraction des rayons X de l tat microstructural et m canique des mat riaux h t rog nes written by Vincent Ning Ji and published by . This book was released on 2003 with total page 116 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: La méthode d'analyse de contraintes internes par diffraction des rayons X (DRX) à différentes échelles d'observation (microscopique, mésoscopique et macroscopique) est appliquée pour étudier l'état microstructural et mécanique des matériaux hétérogènes. Après une brève présentation du principe des méthodes, de leurs domaines d'application et des limites technologiques (chapitre 1), nous avons montré des exemples d'études sur des matériaux bi-phasés ou composites (chapitre II), sur des matériaux revêtus (chapitre III) et sur des alliages à vocation industrielle (chapitre IV). Avec un alliage intermétallique duplex à base de TiAl, nous avons réussit à déterminer expérimentalement, par des essais in-situ sous un goniomètre, les constantes d'élasticité, le niveau de contraintes internes et la loi de comportement de chaque phase en fonction des différentes microstructures duplexes. Les informations locales, directes et précises obtenues par DRX servent à alimenter la modélisation micromécanique qui donne des résultats cohérents avec les essais mécaniques macroscopiques. Les analyses fines par DRX sur des échantillons "modèles" de composites à matrice céramique (CMC) et sur des micro composites de CMC permettent de quantifier l'état mécanique hétérogène de chaque composant (renfort, interphase et matrice) et de confirmer l'origine thermique des contraintes internes. Les résultats de modélisation en tenant compte uniquement des aspects de dilatations thermiques présentent un bon accord avec ceux obtenus par DRX. Sur des revêtements épais de Cu obtenus par projections thermiques (APS, VPS, IPS et HVOF), la méthode de DRX permet de déterminer les modules d'élasticité avec des essais de traction in-situ et la distribution de contraintes macroscopiques dans l'épaisseur du revêtement et dans le substrat de Nb. Les résultats obtenus ont permis de qualifier les procédés de projection thermique et d'optimiser les propriétés mécaniques recherchées. Se basant sur un modèle métallo-thermo-mecanique par éléments finis et sur des études expérimentales, la modélisation numérique a réussit à prédire le champ thermique, la solidification et les contraintes pour le procédé HVOF. En développant une nouvelle méthode d'analyse qui tient compte de l'état bi-axial de contraintes résiduelles, nous avons pu déterminer, par un essai de traction in-situ sous un goniomètre, la limite d'élasticité d'une couche de TiN sur son substrat en acier. La nouvelle méthode tient compte des interactions entre la couche mince et son substrat dans les domaines élasto-plastiques et plastiques, elle est simple à mettre en oeuvre et à utiliser. En introduisant les informations de l'énergie de déformation et des contraintes internes dans les couches minces métalliques (Cu et Ag), nous avons démontré le rôle non-négligeable de l'énergie de déformation, en plus de l'énergie de surface, dans le grossissement anormal des grains en utilisant les informations microstructurales, notamment l'orientation cristallographique préférentielle des grains. Avec l'analyse des contraintes internes microscopiques par élargissement de raies de DRX, 3 alliages CFC (Al 7475, Al 5083 et inconel 600) déformés plastiquement ont été étudiés afin de suivre l'évolution de la microstructure. Les résultats obtenus par DRX sont très intéressants et riches en information par comparaison aux observations directes effectuées en MET. En plus des informations à l'échelle microscopique, l'élargissement des raies est corrélée avec les paramètres mécaniques macroscopiques, tels que le taux d'écrouissage (dans le présent manuscrit), la dureté et la limite d'élasticité (dans les autres études). L'analyse de l'élargissement des raies est ensuite appliquée pour suivre: l'endommagement en corrosion sous contrainte d'un alliage Inconel 600, ou l'endommagement en déformation plastique et en fatigue oligo-cyclique d'un acier 20CDYO5-08.

Download or read book Diffraction des rayons X sur couches d oxydes pitaxi es written by Alexandre Boulle and published by . This book was released on 2002 with total page 176 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Ce travail concerne la mise en oeuvre de la diffraction des rayons X pour l'analyse microstructurale de couches épitaxiées de matériaux oxydes. A cet effet ont été élaborées des méthodes d'acquisition des données spécifiques à ce type de matériau, telle que la cartographie du réseau réciproque, sur un appareil précédemment développé au laboratoire et dédié à l'étude des ma tériaux nanostructurés. Ce montage permet l'enregistrement de cartes du réseau réciproque en haute résolution en quelques dizaines de minutes. La fonction de résolution instrumentale bidimensionnelle a été évaluée en prenant en compte chaque élément optique du montage : source, monochromateur à quatre réflexions, échantillon et détecteur à localisation. Cette étude a montré que la résolution angulaire atteint quelques millièmes de degrés dans la plupart des modes de fonctionnement. Deux systèmes oxydes ont été étudiés. Le premier est le matériau ferroélectrique SrBi2Nb2O9 déposé sur SrTiO3 par voie sol-gel. L' analyse de la largeur, ainsi que l'analyse de Fourier des profils de raie de diffraction X ont montré l'existence de fautes d'empilement le long de l'axe c. L'étude de la microstructure de couches de ZrO2 dopé Y2O3 déposées par voie sol-gel sur Al2O3 a été basée sur la modélisation des profils de diffraction dans plusieurs directions de l'espace réciproque en prenant en compte des paramètres physiques( instrument et microstructure). Les mécanismes d'épitaxie par croissance granulaire et de séparation de phase vide/matière au sein de la couche ont été mis en évidence. L'analyse a de plus montré que les couches sont fortement déformées et que ces déformations sont partiellement relaxées par l'insertion de défauts d'accommodation.

Download or read book Etudes de couches minces par diffraction et fluorescence des rayons X en incidence tr s rasante written by Abdelmounim Bensaid and published by . This book was released on 1988 with total page 134 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: L'utilisation d'un faisceau RX en incidence très rasante permet d'éviter les effets dus au support. Application a la caractérisation de couches de si poreux. Au cours de cette étude : détermination de la densité en surface des couches, mise en évidence de la présence de pores et détermination de leur taille, étude de l'influence de ces pores sur le paramètre cristallin. L'étude de l'épitaxie si/corindon a montré la possibilité d'utiliser les RX en incidence rasante pour le trace de profils de densité en profondeur et pour l'étude des variations structurales à l'interface

Download or read book M thodes physiques d tude des min raux et des mat riaux solides written by Jean-Pierre Eberhart and published by . This book was released on 1976 with total page 532 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:

Download or read book Sur l tude de la structure de couches minces m talliques par diffraction des rayons X et par microscopie et diffraction lectronique written by Madeleine Auvray Gandais and published by . This book was released on 1961 with total page pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:

Download or read book DIFFRACTION DES RAYONS X PAR LES SOLIDES POLYCRISTALLINS ASPECTS METHODOLOGIQUES DE LA DIFFRACTOMETRIE SEQUENTIELLE ET ANALYSE STRUCTURALE ET MICROSTRUCTURALE DE SOLIDES INORGANIQUES written by JACQUES.. PLEVERT and published by . This book was released on 1990 with total page 222 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: LE DIAGRAMME DE POUDRE OBTENU PAR LA DIFFRACTION DES RAYONS X EST SUSCEPTIBLE DE FOURNIR DES INFORMATIONS D'ORDRE STRUCTURAL ET D'ORDRE MICROSTRUCTURAL DES LORS QU'IL EST POSSIBLE D'Y EXTRAIRE LES COMPOSANTS INDIVIDUELS DES PICS DE BRAGG. L'INNOVATION INSTRUMENTALE ET L'EXPLOITATION DES DIFFRACTOGRAMMES A L'AIDE DE METHODES DE FITTING ONT ENTRE AUTRES CONDUIT A L'EMERGENCE DE CETTE DISCIPLINE. ELLE EST APTE DORENAVANT A DETERMINER L'ARRANGEMENT ATOMIQUE DE STRUCTURES CRISTALLINES. DE MEME, L'APPARITION DE DETECTEURS A LOCALISATION SPACIALE FAVORISE LE SUIVI DE L'EVOLUTION STRUCTURALE OU MICROSTRUCTURALE DES ECHANTILLONS SOUS L'INFLUENCE D'UN PARAMETRE DE PERTURBATION. NEANMOINS, LE DEVELOPPEMENT DE LA DIFFRACTION SEQUENTIALISEE INTRODUIT DES POINTS DELICATS DANS L'INTERPRETATION DES DIAGRAMMES 3D LORS DE TRANSFORMATIONS DE PHASES. IL S'AGIT DES EFFETS D'ORIENTATION PREFERENTIELLE DE CRISTALLITES SUR LA VARIATION DE L'INTENSITE INTEGREE DES RAIES DE DIFFRACTION LORS D'UNE TRANSFORMATION DE PHASE ALLOTROPIQUE D'UN IODURE DE CESIUM ET CADMIUM, ET DES EFFETS DE LA RECRISTALLISATION DURANT LA DECOMPOSITION THERMIQUE D'UN NOUVEL HYDROXY-NITRATE DE CADMIUM. UN AUTRE POINT TRAITE DE LA DETERMINATION DE LA STRUCTURE DE CET HYDROXY-NITRATE DE CADMIUM PAR DIFFRACTION CONVENTIONNELLE EN INTEGRANT LES EFFETS MICROSTRUCTURAUX DU COMPOSE DANS LA PHASE D'AFFINEMENT. ENFIN, LES EFFETS MICROSTRUCTURAUX INDUISENT UNE GRANDE VARIETE DE FORME DE RAIES. QUELQUES PROFILS DE RAIES SONT PRESENTES A PARTIR D'EXEMPLES SELECTIONNES. UN EXAMEN PLUS ATTENTIF DES PROFILS SUPRA-LORENTZIENS PERMET DE PROPOSER UNE EXPLICATION SUR LEUR ORIGINE

Download or read book tude de la structure de couches minces d or par diffraction r flexion diffusion de rayons X written by Marie-France Verhaeghe and published by . This book was released on 1973 with total page 455 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Etude de l'elargissement des raies de diffraction et des deformations elastiques du reseau des microcristaux. etude des rugosites des interfaces des couches minces par reflexion diffuse sous incidence rasante

Download or read book Etude de la structure des couches minces d indium d pos es sous vide sur supports amorphes par diffraction de rayons X diffraction et microscopie lectronique written by Alain Marraud and published by . This book was released on 1966 with total page 96 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:

Download or read book Essais non destructifs m thodes d essais pour l analyse des contraintes r siduelles par diffraction des rayons X written by Association Française de Normalisation and published by . This book was released on 1999 with total page 28 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:

Download or read book D termination des contraintes r siduelles dans les rev tements par diffraction des rayons X en faible incidence written by Jun Peng and published by . This book was released on 2006 with total page 155 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Une nouvelle méthode d'analyse par diffraction des rayons X (DRX) en incidence rasante, notée sin2ψ*, a été développée pour répondre à la demande d'analyse du niveau et la distribution des contraintes résiduelles (CR) dans un revêtement. La méthode est basée sur la technique de DRX en faible incidence et elle tient compte des orientations cristallines et de la géométrie de mesure (l'angle d'incidence, les angles ψ et de l'épaisseur de couche à analyser) afin de connaître la profondeur de penétration exacte du faisceau incident. Par cette méthode, on peut non seulement évaluer le niveau moyen des CR dans le revêtement, mais également déterminer le gradient et la distribution en variant l'angle d'incidence pour différentes profondeurs de pénétration voulues. Les incertitudes de mesure ont été ensuite évaluées, et l'influence de la rugosité de surface a été étudiée avec des éprouvettes sous sollicitation mécanique connue. Un modèle analytique a été établi pour la correction de l'influence de la rugosité sur la détermination des CR. Par ailleurs, une éprouvette en alliage base nickel rectifiée avec un fort gradient de contrainte résiduelle a été étudiée en appliquant notre méthode sin2ψ* pour évaluer la sensibilité de la méthode développée. Deux séries d'échantillons de revêtements (Cuivre sur substrat Ni élaboré par le procédé PVD, et Tantale biphasé sur substrat Ti élaboré par le procédé CVD) ont été étudiées avec la nouvelle méthode d'étude afin d'analyser la distribution des CR. La comparaison des résultats avec deux autres méthodes a montré que cette nouvelle méthode d'évaluation par DRX en faible incidence est fiable et facile à utiliser pour déterminer le niveau et la distribution des CR.

Download or read book ICREEC 2019 written by Ahmed Belasri and published by Springer Nature. This book was released on 2020-06-10 with total page 659 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: This book highlights peer reviewed articles from the 1st International Conference on Renewable Energy and Energy Conversion, ICREEC 2019, held at Oran in Algeria. It presents recent advances, brings together researchers and professionals in the area and presents a platform to exchange ideas and establish opportunities for a sustainable future. Topics covered in this proceedings, but not limited to, are photovoltaic systems, bioenergy, laser and plasma technology, fluid and flow for energy, software for energy and impact of energy on the environment.

Download or read book UNESCO General History of Africa Vol I Abridged Edition written by Jacqueline Ki-Zerbo and published by Univ of California Press. This book was released on 1990 with total page 372 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: "This volume covers the period from the end of the Neolithic era to the beginning of the seventh century of our era. This lengthy period includes the civilization of Ancient Egypt, the history of Nubia, Ethiopia, North Africa and the Sahara, as well as of the other regions of the continent and its islands."--Publisher's description