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Book ETUDE EXPERIMENTALE DE L EMISSION D IONS SECONDAIRES A PARTIR DE SURFACES BOMBARDEES PAR DES IONS LOURDS D ENERGIES PAR NUCLEON COMPRISES ENTRE 0 1 ET 5 MEV U

Download or read book ETUDE EXPERIMENTALE DE L EMISSION D IONS SECONDAIRES A PARTIR DE SURFACES BOMBARDEES PAR DES IONS LOURDS D ENERGIES PAR NUCLEON COMPRISES ENTRE 0 1 ET 5 MEV U written by Isabella Lorthiois and published by . This book was released on 1983 with total page 90 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: UN SPECTROMETRE DE MASSE A TEMPS DE VOL ASSOCIE AU **(252)CF A ETE CONSTRUIT AU LABORATOIRE ET UTILISE POUR IDENTIFIER DES MOLECULES ORGANIQUES ET BIOLOGIQUES. LES PROCESSUS COMPLEXES D'INTERACTION ENTRE LES IONS PRIMAIRES ET LES DEPOTS MOLECULAIRES PEUVENT ETRE MIEUX ETUDIES EN UTILISANT LES IONS LOURDS FOURNIS PAR UN ACCELERATEUR. DES RESULTATS SUR LA DESORPTION DE PLUSIEURS TYPES D'IONS ATOMIQUES SUR LA DESORPTION DE PLUSIEURS TYPES D'IONS ATOMIQUES ET MOLECULAIRES, INDUITE PAR DES IONS DE CU, KR, AG DE DIFFERENTES VITESSES SONT PRESENTEES

Book INIS Atomindex

Download or read book INIS Atomindex written by and published by . This book was released on 1984 with total page 1430 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:

Book ETUDE EXPERIMENTALE DEL EMISSION SECONDAIRE  IONS ATOMIQUES ET MOLECULAIRES  AGREGATS  ELECTRONS  INDUITE PAR BOMBARDEMENT DE SURFACE PAR DES IONS LOURDS ENERGETIQUES   EQUIV  A MEV U

Download or read book ETUDE EXPERIMENTALE DEL EMISSION SECONDAIRE IONS ATOMIQUES ET MOLECULAIRES AGREGATS ELECTRONS INDUITE PAR BOMBARDEMENT DE SURFACE PAR DES IONS LOURDS ENERGETIQUES EQUIV A MEV U written by Brigitte Monart and published by . This book was released on 1988 with total page 152 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: ETUDE DE L'EMISSION SECONDAIRE EN FONCTION DE LA VITESSE EN PROJECTILE, DE L'ANGLE D'INCIDENCE DU FAISCEAU PAR RAPPORT A LA CIBLE (MINERALE OU ORGANIQUE) ET SURTOUT DE L'ETAT DE CHARGE AU PROJECTILE, PAR SPECTROMETRIE DE MASSE A TEMPS DE VOL PRINCIPALEMENT: CETTE EMISSION DEPEND FORTEMENT DE LA CHARGE DU PROJECTILE ET AUSSI DU CHANGEMENT D'ETAT DE CHARGE A L'INTERIEUR DU MATERIAU. INTERPRETATION DES RESULTATS A L'AIDE DU MODELE DE MAYNARD ET AL., EN SUPPOSANT L'EXISTENCE D'UNE PROFONDEUR D'INTERACTION ION PRIMAIRE-MATERIAU QUI DEPEND DU TYPE D'IONS SECONDAIRES ET DE LA CHARGE DE L'ION INCIDENT

Book Referativny   zhurnal

Download or read book Referativny zhurnal written by and published by . This book was released on 1985 with total page 528 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:

Book ETUDE DE L EMISSION IONIQUE SECONDAIRE SOUS IMPACT D AGREGATS  INFLUENCE DE LA VITESSE DU NOMBRE D ATOMES DANS LE PROJECTILE ET DE L EPAISSEUR DE LA CIBLE

Download or read book ETUDE DE L EMISSION IONIQUE SECONDAIRE SOUS IMPACT D AGREGATS INFLUENCE DE LA VITESSE DU NOMBRE D ATOMES DANS LE PROJECTILE ET DE L EPAISSEUR DE LA CIBLE written by KARIMA.. BOUSSOFIANE-BAUDIN and published by . This book was released on 1993 with total page 197 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: NOUS AVONS ETUDIE L'EMISSION IONIQUE SECONDAIRE A PARTIR DE FILMS ORGANIQUES ET METALLIQUES BOMBARDES PAR DES AGREGATS DE 10 A 60 KEV D'ENERGIE. LES PARAMETRES ESSENTIELS DE CETTE ETUDE SONT LA VITESSE DES PROJECTILES, LE NOMBRE DE CONSTITUANTS DU PROJECTILE ET LA PROFONDEUR D'EMISSION DES IONS SECONDAIRES. NOUS MONTRONS QUE POUR DES AGREGATS A FAIBLES NOMBRES DE CONSTITUANTS COMME LES AGREGATS D'OR (AU#N#+ N=1 A 5) LES TAUX D'EMISSION IONIQUE SECONDAIRE AUGMENTENT NON LINEAIREMENT AVEC LE NOMBRE D'ATOMES DANS LE PROJECTILE. LES RENDEMENTS D'EMISSION IONIQUE SECONDAIRE VERIFIENT LA RELATION SIMPLE Y=K.N#.VI#2 OU VI EST LA VITESSE DU PROJECTILE ET DEPEND DES IONS SECONDAIRES EMIS. LORSQUE LE NOMBRE D'ATOMES DANS L'AGREGAT AUGMENTE COMME DANS LE CAS DES PROJECTILES POLYATOMIQUES C#2#4H#1#2#+, C#3#7#+, C#6#0#+ ET C#7#0#+ L'EFFET NON LINEAIRE SATURE. LES TAUX D'EMISSION IONIQUE SECONDAIRE S'EXPRIMENT SIMPLEMENT EN FONCTION DE L'ENERGIE DU PROJECTILE PAR LA RELATION Y=K.E. NOUS MONTRONS QUE LORSQUE LE VOLUME D'INTERACTION EST PLUS FAIBLE QUE LE VOLUME D'EMISSION, ALORS UNE TRES GRANDE DENSITE D'ENERGIE EST DEPOSEE PRES DE LA SURFACE. CECI ENTRAINE D'UNE PART L'AUGMENTATION DES TAUX D'EMISSION IONIQUE SECONDAIRE ET D'AUTRE PART LA SATURATION DES EFFETS NON LINEAIRES. LA PROFONDEUR D'EMISSION DES IONS SECONDAIRES A ETE ETUDIEE SUR DES CIBLES LANGMUIR-BLODGETT ET SOUS IMPACT D'AGREGATS D'OR. ELLE EST PROCHE DE 10 NM POUR UNE ENERGIE DU PROJECTILE AU#+ DE 20 KEV DE 7 NM POUR LES AGREGATS AU#2#+ ET AU#3#+ ET SEULEMENT DE 5 NM POUR LES AGREGATS LES PLUS GROS AU#4#+ ET AU#5#+

Book ETUDE EXPERIMENTALE DU RALENTISSEMENT D IONS LOURDS DE 20 A 100 MEV PAR NUCLEON DANS LA MATIERE

Download or read book ETUDE EXPERIMENTALE DU RALENTISSEMENT D IONS LOURDS DE 20 A 100 MEV PAR NUCLEON DANS LA MATIERE written by Joe͏̈l Herault and published by . This book was released on 1988 with total page 150 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: ETUDE EXPERIMENTALE A L'AIDE D'IONS LOURDS DE L'ACCELERATEUR GANIL SUR LE SPECTROMETRE LISE (ANALYSE EN ENERGIE ET EN ANGLE) POUR DETERMINER LE POUVOIR D'ARRET DE 11 CIBLES GAZEUSES AVEC UNE INCERTITUDE DE PLUS OU MOINS 3%. MISE EN EVIDENCE D'UNE DISPARITION DE LA DIFFERENCE ENTRE POUVOIRS D'ARRET DES MATERIAUX SOLIDES ET GAZEUX LORSQUE LA CHARGE DE L'ION TEND VERS SON NUMERO ATOMIQUE. ANALYSE DES DISTRIBUTIONS EN ENERGIES POUR DE NOMBREUX IONS (DE L'OXYGENE AU MOLYBDENE) ET ANALYSE DE LA DISTRIBUTION ANGULAIRE DANS DES CIBLES SOLIDES ET GAZEUSES. COMPARAISON DES DONNEES EXPERIMENTALES AUX CALCULS QUANTIQUES ET CLASSIQUES

Book PRODUCTION D IONS LOURDS MULTICHARGES PAR UNE SOURCE D IONS A LASER CO 2  UTILISATION DE CES IONS POUR L ETUDE DE L INTERACTION ION SURFACE METALLIQUE

Download or read book PRODUCTION D IONS LOURDS MULTICHARGES PAR UNE SOURCE D IONS A LASER CO 2 UTILISATION DE CES IONS POUR L ETUDE DE L INTERACTION ION SURFACE METALLIQUE written by YACINE.. AMDIDOUCHE and published by . This book was released on 1995 with total page 255 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: NOUS AVONS ETUDIE LES CARACTERISTIQUES DES IONS MULTICHARGES ISSUS DE PLASMAS D'ALUMINIUM, DE TANTALE ET DE PLOMB PRODUITS PAR UN LASER CO#2. LA SPECTROMETRIE PAR TEMPS DE VOL NOUS A PERMIS D'IDENTIFIER LES ESPECES IONIQUES PRESENTES DANS LES PLASMAS ETUDIES ET DE DETERMINER LEUR ENERGIE. LA GAMME D'ENERGIE DE CES IONS PRESENTS DANS LE PLASMA S'ETEND DE 10 A 250 KEV. LES DISTRIBUTIONS EN ENERGIE DES IONS D'ALUMINIUM, DE TANTALE ET DE PLOMB ONT EGALEMENT ETE DEDUITES. LES COURANTS IONIQUES AINSI QUE LE NOMBRE D'IONS PAR ETAT DE CHARGE ONT ETE DETERMINES PAR UNE MESURE DU COURANT ELECTRIQUE A L'AIDE D'UN COLLECTEUR DE CHARGE. LE NOMBRE D'IONS CONTENUS DANS CHAQUE BOUFFEE DE PLASMA VARIE AVEC LE NOMBRE DE TIR. EN PARTICULIER, LE NOMBRE D'IONS EMIS EST PLUS FAIBLE POUR LES IONS D'ETATS DE CHARGE ELEVES. LES VALEURS ELEVEES DES COURANTS PAR ETATS DE CHARGE ET LA BRIEVETE DES IMPULSIONS CORRESPONDANTES PROCURENT AUX SOURCES D'IONS A LASER DES AVANTAGES APPRECIABLES PAR RAPPORT AUX AUTRES SOURCES CANDIDATES POUR LE PROJET LHC (LARGE HADRON COLLIDER) DU CERN. NOUS AVONS FAIT USAGE DES IONS LOURDS PRODUITS PAR LA SOURCE A LASER CO#2 POUR MENER UNE ETUDE EXPERIMENTALE DE L'EMISSION D'ELECTRONS INDUITE PAR L'IMPACT DES IONS MULTICHARGES SUR UNE SURFACE METALLIQUE. LES RESULTATS PRESENTES CONCERNENT L'INTERACTION D'IONS DE TANTALE AVEC DES SURFACES DE CUIVRE AU BERYLLIUM ET D'ACIER INOXYDABLE. NOUS AVONS DETERMINE LE RENDEMENT EN ELECTRONS SECONDAIRES EMIS PAR LE CUBE ET L'INOX 316 L LORS DU BOMBARDEMENT PAR DES IONS TA#N#+ D'ETATS DE CHARGE ELEVES (N SUPERIEUR A 10) ET D'ENERGIE INTERMEDIAIRE (DE 10 A 250 KEV). A PARTIR DES DONNEES EXTRAITES DES SPECTRES DE TEMPS DE VOL, NOUS AVONS RECONSTRUIT L'EVOLUTION DU RENDEMENT EN ELECTRONS EN FONCTION DE LA VITESSE D'IMPACT V#I DES PROJECTILES DE TANTALE POUR DIFFERENTS ETATS DE CHARGE, DANS LA GAMME DE VITESSE 2.10#5 - 10#6 M/S. LES VALEURS DU RENDEMENT EN ELECTRONS SECONDAIRES NOUS ONT PERMIS DE DETERMINER LE NOMBRE D'IONS ET LE COURANT MAXIMUM ASSOCIES A CHAQUE ETAT DE CHARGE DES IONS ISSUS D'UN PLASMA DE TANTALE CREE PAR LASER. L'ESTIMATION DE CES PARAMETRES EST NECESSAIRE SI L'ON ENVISAGE D'UTILISER UNE SOURCE D'IONS LASER DANS LA CHAINE DE PREINJECTION POUR LE PROJET D'ACCELERATION D'IONS LOURDS DU CERN. AFIN DE CONNAITRE L'INFLUENCE DE LA PRESENCE DE COUCHES D'OXYDES A LA SURFACE D'UN SUBSTRAT DE CUBE SUR L'EMISSION ELECTRONIQUE SECONDAIRE, NOUS AVONS CALCULE NUMERIQUEMENT A L'AIDE DU PROGRAMME ACIB L'ENERGIE DEPOSEE LORS DES MULTIPLES COLLISIONS SUBIES PAR UN PROJECTILE DE TANTALE D'ENERGIE DONNEE LE LONG DE SON PARCOURS A TRAVERS UN MATERIAU. DANS L'HYPOTHESE OU NE SUBSISTENT SUR LE SUBSTRAT QUE DES COUCHES D'OXYDES BEO, NOUS POUVONS DEDUIRE DE CES CALCULS QUE SI LA COUCHE DE BEO DEPASSE LA DIZAINE DE NM D'EPAISSEUR, L'EMISSION D'ELECTRONS SECONDAIRES EST DUE ESSENTIELLEMENT A LA COUCHE DE MONOXYDE DE BERYLLIUM ; LE SUBSTRAT DE CUBE CONTRIBUANT TRES PEU AU RENDEMENT ELECTRONIQUE

Book Interaction ions surfaces

Download or read book Interaction ions surfaces written by Hussein Hijazi and published by . This book was released on 2011 with total page 187 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Le dépôt d’énergie cinétique d’un projectile rapide dans une cible conduit à l’éjection de matière sous forme d’atomes ou d’agrégats (“pulvérisation“). La mesure des rendements, des distributions en énergie et en angle des particules pulvérisées contribuent à comprendre le processus microscopique de l’endommagement et de la création de défauts dans les matériaux. Un nouveau dispositif expérimental ultra vide (AODO) permet de mesurer les distributions en masse et les vecteurs vitesse de chaque ion secondaire émis par technique d’imagerie XY-TOF-SIMS (“Secondary Ion Mass Spectroscopy“). Ici, nous nous intéressons à la pulvérisation du fluorure de lithium (isolant cristallin “modèle“ à gap très important ≈ 14 eV) irradié par des ions lourds rapides (≈ 10 MeV/u). En fonction du pouvoir d’arrêt Se, deux régimes de l’évolution des rendements de pulvérisation Y des ions secondaires sont observés. Pour les faibles Se ( 8 keV/nm), régime de faible perturbation, Y ~ Se2. Pour les forts Se ( 8 keV/nm), régime de forte perturbation, une saturation (Y = constante) est observée. Les données expérimentales permettent aussi de tester des modèles théoriques proposés dans la littérature (le modèle de l’onde de choc, pointe thermique, explosion coulombienne...). Il apparaît qu’aucun de ces modèles ne peut interpréter correctement l’ensemble de ces résultats. Une distribution de type Maxwell-Boltzmann décrit bien les distributions en énergie des ions secondaires. Les processus générant la pulvérisation doivent donc être principalement d’origine thermique.

Book ETUDE DES REACTIONS DE FUSION D IONS LOURDS ET DU NOYAU DE    124 SN A 30 MEV N

Download or read book ETUDE DES REACTIONS DE FUSION D IONS LOURDS ET DU NOYAU DE 124 SN A 30 MEV N written by BRIGITTE DE. GONCOURT and published by . This book was released on 1984 with total page 198 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:

Book Aspects de l   mission ionique secondaire induite dans des couches isolantes inorganiques par des ions Argon d une dizaine de MeV

Download or read book Aspects de l mission ionique secondaire induite dans des couches isolantes inorganiques par des ions Argon d une dizaine de MeV written by Hakim Allali and published by . This book was released on 1993 with total page 112 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: CE TRAVAIL EXPERIMENTAL EST CONSACRE A L'ETUDE DE L'EMISSION IONIQUE SECONDAIRE RESULTANT DE LA PULVERISATION ELECTRONIQUE INDUITE PAR DES IONS ARGON DE QUELQUES MEV DANS DIVERS MATERIAUX ISOLANTS INORGANIQUES. LE CHOIX DE CES MATERIAUX A ESSENTIELLEMENT RESULTE DE LEUR CARACTERE EXEMPLAIRE DANS LA DESCRIPTION DE CERTAINS ASPECTS FONDAMENTAUX DE L'EMISSION (DEPOT D'ENERGIE ET PRODUCTION-TRANSPORT DES IONS, PROFONDEUR D'ECHAPPEMENT) OU DANS LA PERSPECTIVE D'UNE APPLICATION ANALYTIQUE. EN CE QUI CONCERNE LA PREMIERE CATEGORIE, NOTRE DISPOSITIF DE SPECTROMETRIE PAR TEMPS DE VOL A PERMIS DE METTRE EN EVIDENCE DES PROCESSUS D'EMISSION DIFFERENTS POUR LES IONS NEGATIFS DES SELS ALCALINS, HALOGENURES ET SELS OXYGENES. CES DIFFERENCES S'OBSERVENT DANS L'EMISSION ELECTRONIQUE QUI ACCOMPAGNE L'EMISSION IONIQUE ET DANS LES DISTRIBUTIONS ANGULAIRES RESPECTIVES. ELLES SONT INTERPRETEES A TRAVERS DEUX PROCESSUS DE PRODUCTION DIFFERENTS: CREATION DE DEFAUTS POUR LES HALOGENURES, RADIOLYSE POUR LES SELS OXYGENES. CES DIFFERENCES SONT AUSSI OBSERVEES SUR LA VARIATION DU RENDEMENT D'EMISSION DES IONS CARACTERISTIQUES EN FONCTION DE L'ENERGIE DES IONS PRIMAIRES. AFIN D'OBTENIR DES VALEURS FIABLES DE LA PROFONDEUR D'EMISSION DES IONS SECONDAIRES, ON A PU DISPOSER DE COUCHES ULTRA-MINCES D'OXYDES, EN PARTICULIER SIO#X ET OXYDE DE CHROME, BIEN CARACTERISEES: ON PEUT AINSI FAIRE ETAT DE VALEURS INFERIEURES A 1 NM. DANS LE CAS DE DEPOTS D'AGREGATS DONT ON CONNAIT BIEN LA MORPHOLOGIE, COMME CEUX D'ANTIMOINE, ON PEUT CORRELER LE RENDEMENT D'EMISSION SECONDAIRE AU TAUX DE RECOUVREMENT ET METTRE EN EVIDENCE LA SENSIBILITE DE L'EMISSION A L'INHOMOGENEITE DE LA COUCHE (EFFET DE GRAIN). L'APPLICATION ANALYTIQUE DE LA DETERMINATION DU PHOSPHORE DANS L'OXYDE DE SILICIUM (PREPARE PAR CVD) REND NECESSAIRE LA COMPREHENSION DU ROLE JOUE PAR LES IMPURETES DE SURFACE DANS LA NATURE DES ESPECES POLYATOMIQUES EMISES ET SUR L'INTENSITE DE LEUR EMISSION. DANS CETTE OPTIQUE, DES ETUDES COMPARATIVES ONT ETE MENEES UTILISANT LE SIMS STATIQUE, L'ABLATION LASER ET LA MICROANALYSE NUCLEAIRE. L'ETUDE DU PHENOMENE DE PULVERISATION IONIQUE INDUITE PAR EFFET DE CHAMP, RESPONSABLE D'UNE EMISSION IONIQUE PLUS CONNUE SOUS LE NOM DE DESORPTION SPONTANEE EST PRESENTEE DANS LA PARTIE EXPERIMENTALE PUISQU'ELLE RESULTE ESSENTIELLEMENT DES CARACTERISTIQUES DU SYSTEME D'EXTRACTION. NOUS MONTRONS QUE LE PHENOMENE EST ESSENTIELLEMENT DU AUX MICROPOINTES DES BORDS DE L'ELECTRODE D'EXTRACTION ET QUE LES ADSORBATS INITIALEMENT PRESENTS OU RESULTANT DU VIDE RESIDUEL SONT A L'ORIGINE DES IONS ACCELERES PAR LE POTENTIEL D'EXTRACTION. DE PAR SES ANALOGIES AVEC LE SIMS STATIQUE, CETTE TECHNIQUE SIMPLE A ETE UTILISEE POUR DES INFORMATIONS COMPLEMENTAIRES DANS LES ETUDES PRECEDENTES

Book REPONSE DES DETECTEURS A BARRIERE DE SURFACE AUX IONS LOURDS  ET PERTE D ENERGIE DES IONS DE MASSE MOYENNE DANS LA MATIERE

Download or read book REPONSE DES DETECTEURS A BARRIERE DE SURFACE AUX IONS LOURDS ET PERTE D ENERGIE DES IONS DE MASSE MOYENNE DANS LA MATIERE written by B.. BORDERIE and published by . This book was released on 1973 with total page pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: MESURES FAITES POUR **(40)AR DE 40 A 150 MEV ET POUR **(141)PR DE 10 A 95 MEV DANS DES MILIEUX LEGER, MOYEN ET LOURD (AL, CU, AU). RAPPEL DES THEORIES CONCERNANT LES PERTES D'ENERGIE DES PARTICULES CHARGEES DANS LA MATIERE ET RESUME DES CALCULS DE NORTHCLIFFE ET SCHILLING ET DE STEWARD SUR LES PARCOURS ET LES PERTES D'ENERGIE. ETUDE DES CAUSES DU DEFAUT D'IONISATION. PRESENTATION DE LA TECHNIQUE EXPERIMENTALE ET RESULTATS OBTENUS

Book Processus de capture   lectronique par des ions lourds tr  s   pluch  s canalis  s dans des cristaux minces    des   nergies sup  rieures    20 MeV nucl  on

Download or read book Processus de capture lectronique par des ions lourds tr s pluch s canalis s dans des cristaux minces des nergies sup rieures 20 MeV nucl on written by Denis Dauvergne and published by . This book was released on 1993 with total page 170 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: CE TRAVAIL EST CONSACRE A L'ETUDE DES PROCESSUS D'ECHANGES DE CHARGE PAR DES IONS LOURDS CANALISES DANS DES CRISTAUX MINCES A DES ENERGIES SUPERIEURES A 20 MEV/NUCLEON. LA CANALISATION D'IONS LOURDS DANS UN CRISTAL PERMET L'EXTINCTION DES INTERACTIONS A FAIBLE PARAMETRE D'IMPACT AVEC LES CURS ATOMIQUES DU CRISTAL. DES PROCESSUS D'ECHANGES DE CHARGE QUI SONT MINORITAIRES LORS DE COLLISIONS AVEC DES CIBLES SOLIDES PEUVENT ETRE MIS EN EVIDENCE EN CANALISATION, ET MEME DEVENIR DOMINANTS, CAR LA GRANDE MAJORITE DES IONS INCIDENTS INTERAGIT UNIQUEMENT AVEC LE GAZ D'ELECTRONS DE VALENCE DU CRISTAL. C'EST LE CAS DE LA CAPTURE DIELECTRONIQUE (EN ANGLAIS RESONANT TRANSFER AND EXCITATION, RTE), PROCESSUS RESONNANT DANS LEQUEL LA CAPTURE EST ACCOMPAGNEE DE L'EXCITATION D'UN ELECTRON DE CUR DU PROJECTILE, ET DE LA CAPTURE ELECTRONIQUE RADIATIVE (REC). L'ENSEMBLE DES PROCESSUS D'INTERACTION ION-ELECTRON OBSERVABLES EN CANALISATION SONT PRESENTES DANS LE PREMIER CHAPITRE. LES CHAPITRES SUIVANTS DECRIVENT DEUX EXPERIENCES, REALISEES DANS LA VOIE LISE DE L'ACCELERATEUR GANIL DE CAEN: LA PREMIERE EXPERIENCE EST CONSACREE A L'ETUDE DE LA RESONANCE KLL-RTE D'IONS XE#5#2#+ CANALISES LE LONG DE L'AXE 110 D'UN CRISTAL DE 21 M DE SILICIUM, A DES ENERGIES VARIANT DE 34 A 43 MEV/NUCLEON; LA SECONDE PRESENTE L'ETUDE DE LA CAPTURE REC-K PAR DES IONS KR#3#6#+ DE 60 MEV/NUCLEON CANALISES DANS UN CRISTAL DE 37 M DE SILICIUM ORIENTE SELON L'AXE 110. CES DEUX EXPERIENCES ONT PERMIS DE FAIRE UNE ETUDE DETAILLEE DES DISTRIBUTIONS EN IMPULSION DES ELECTRONS DE VALENCE DU CRISTAL, DANS LA DIRECTION PARTICULIERE DE PROPAGATION DE L'ION INCIDENT CANALISE (PROFILS COMPTON)

Book   tude de l   mission n  gative secondaire par pulv  risation ionique de compos  s m  talliques

Download or read book tude de l mission n gative secondaire par pulv risation ionique de compos s m talliques written by Hassan Chatei and published by . This book was released on 1988 with total page 125 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Mise en évidence de l'existence d'ions négatifs métalliques. Comparaison de l'émission négative du métal pur avec celle de ses composés. On montre que la présence, au sein du composé métallique, d'une espèce électronégative, augmente le rendement d'ions négatifs du métal. Interprétation à partir d'un modèle général d'interaction atome(ion)- surface, de la formation d'ions métalliques secondaires, par une transition électronique résonnante, conduisant pour une même cible à une augmentation de courant d'ions négatifs et positifs émis

Book DISTRIBUTIONS ENERGETIQUES RESOLUES ANGULAIREMENT DES PARTICULES EMISE LORS D UN PROCESSUS DE PULVERISATION PAR FAISCEAU D IONS

Download or read book DISTRIBUTIONS ENERGETIQUES RESOLUES ANGULAIREMENT DES PARTICULES EMISE LORS D UN PROCESSUS DE PULVERISATION PAR FAISCEAU D IONS written by PASCAL.. AUDUREAU and published by . This book was released on 1997 with total page 227 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: LES TRAVAUX RAPPORTES DANS LE PRESENT MEMOIRE PORTENT SUR LA COMPREHENSION DES PHENOMENES PHYSIQUES MIS EN JEU LORS DE L'INTERACTION ION/SOLIDE. L'OBJECTIF PRINCIPAL EST, AU TRAVERS DE L'ANALYSE ENERGETIQUE RESOLUE ANGULAIREMENT DE L'EMISSION IONIQUE SECONDAIRE, DE CARACTERISER LES DIVERS TYPES DE PARTICULES IONISEES ET DE DETERMINER LES MECANISMES CORRESPONDANTS. DANS CETTE OPTIQUE, NOUS AVONS AUSSI CHERCHE A COMPARER LES LOIS D'EMISSION DES PARTICULES NEUTRES PULVERISEES (ATOMES CIBLES) ET DES ATOMES DE GAZ RARE REEMIS AVEC LES LOIS D'EMISSION DE CES IONS SECONDAIRES. L'ETUDE MENEE SUR LES IONS SECONDAIRES MET EN EVIDENCE, DANS LE CAS D'IONS XENON XE#+ DE 10KEV BOMBARDANT A 45 UNE CIBLE DE SILICIUM AMORPHE, L'EXISTENCE DE DEUX POPULATIONS IONIQUES: LA PLUS IMPORTANTE POSSEDE UNE ENERGIE LA PLUS PROBABLE AUTOUR DE 8EV ET EST EMISE DANS UNE DIRECTION PREFERENTIELLE #P NORMALE A LA CIBLE ; ELLE EST ISSUE D'UN PROCESSUS CLASSIQUE DE CASCADES LINEAIRES DE COLLISIONS ET EST CONSTITUEE MAJORITAIREMENT D'IONS MONOCHARGES SI#+ ; L'AUTRE POPULATION EST ATTRIBUEE A DES IONS RAPIDES - ENERGIE LA PLUS PROBABLE AUTOUR DE 220EV - EMIS SELON UNE DIRECTION PREFERENTIELLE PROCHE DE LA DIRECTION DE REFLEXION SPECULAIRE DU FAISCEAU PRIMAIRE (#P AUTOUR DE 55). L'INFLUENCE DES PRINCIPAUX PARAMETRES DE L'INTERACTION (ENERGIE ET ANGLE D'INCIDENCE, TYPE D'IONS PRIMAIRES ET MATERIAU CIBLE) SUR L'EMISSION IONIQUE SECONDAIRE, INDIQUE QUE LA POPULATION D'IONS RAPIDES EST ATTRIBUABLE A UN MECANISME COLLISIONNEL VIOLENT DE SURFACE ASSOCIE AVEC UN PROCESSUS D'IONISATION. DANS LE CAS DES RESULTATS OBTENUS SUR LES PARTICULES NEUTRES PULVERISEES - ATOMES CIBLES - A PARTIR DES CODES DE SIMULATION TRIM.SP ET TRIDYN V4.0, ON OBSERVE L'EXISTENCE DE NEUTRES ENERGETIQUES DONT LES CARACTERISTIQUES CONFIRMENT L'EXISTENCE D'UN MECANISME COLLISIONNEL VIOLENT DE SURFACE. A L'ISSUE DE CETTE ETUDE, LES RESULTATS OBTENUS PERMETTENT D'ATTRIBUER LA POPULATION D'IONS SECONDAIRES ENERGETIQUES AUX IONS MULTICHARGES SI#2#+. SUR LE PLAN DES APPLICATIONS DE L'INTERACTION ION-SURFACE A L'ELABORATION DE COUCHES MINCES, CES TRAVAUX CONFIRMENT, POUR EXPLOITER AU MIEUX LES POTENTIALITES DE LA METHODE, L'INTERET D'UTILISER DES IONS D'ENERGIE INFERIEURE A 5KEV AINSI QUE LES ZONES D'IRRADIATION MINIMALE.

Book COLLISIONS PERIPHERIQUES D IONS LOURDS INDUITES PAR    40 AR AUX ENERGIES INTERMEDIAIRES

Download or read book COLLISIONS PERIPHERIQUES D IONS LOURDS INDUITES PAR 40 AR AUX ENERGIES INTERMEDIAIRES written by Yorick Blumenfeld and published by . This book was released on 1987 with total page 159 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:

Book ETUDE EXPERIMENTALE DE L INTERACTION ION MULTICHARGE   SURFACE

Download or read book ETUDE EXPERIMENTALE DE L INTERACTION ION MULTICHARGE SURFACE written by SZABOLCS-ZOLTAN.. SZILAGYI and published by . This book was released on 1997 with total page 110 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: CETTE THESE A PORTE SUR L'ETUDE EXPERIMENTALE DE L'INTERACTION ENTRE LES IONS MULTICHARGES ET UNE SURFACE. LORS DE CETTE INTERACTION, UN GRAND NOMBRE DE PARTICULES SECONDAIRES EST EMIS : ELECTRONS LENTS, ELECTRONS RAPIDES, IONS POSITIFS ET NEGATIFS, PARTICULES NEUTRES ET PHOTONS. ON A MIS AU POINT UN NOUVEAU MULTIDETECTEUR HEMISPHERIQUE A BASE DES GALETTES DE MICROCANAUX QUI PERMET DE COLLECTER L'ENSEMBLE DE CES PARTICULES SECONDAIRES. SIMULTANEMENT LES PROJECTILES REFLECHIS SONT RECUS SUR UN DETECTEUR SENSIBLE EN POSITION. ON PEUT INTERCALER DANS LE CONE DE DIFFUSION UNE FENTE SUIVIE D'UN ANALYSEUR ELECTROSTATIQUE POUR ETUDIER LA DISTRIBUTION EN CHARGE DES PROJECTILES REFLECHIS. L'EXPERIENCE CONSISTE ALORS A DETERMINER LES CORRELATIONS ENTRE LES DIFFERENTES PARTICULES EMISES GRACE A UNE METHODE DE DETECTION EN COINCIDENCE MULTIPLE. ON PEUT AINSI DETERMINER LE NOMBRE D'ELECTRONS SECONDAIRES EN FONCTION DE L'ETAT CHARGE DU PROJECTILE. ON A AUSSI ETUDIE LA CORRELATION ENTRE LES ELECTRONS AUGER ET LES ELECTRONS LENTS EMIS ET ON A DETERMINE, D'UNE PART, L'EFFICACITE DE DETECTION, ET D'AUTRE PART LA CONTRIBUTION D'ELECTRONS LENTS PROVOQUES PAR D'IMPACT D'ELECTRONS AUGER. DE MEME LA CORRELATION ENTRE LE NOMBRE D'ELECTRONS SECONDAIRES ET LA TRAJECTOIRE DES IONS REFLECHIS DETECTES PAR LE DETECTEUR SENSIBLE A LA POSITION MONTRE QUE L'EFFET DE CANALISATION DE SURFACE ET LE NOMBRE D'ELECTRONS SECONDAIRES SONT RELIES PAR LA PENETRATION DU PROJECTILE DANS L'AXE DE CANALISATION.