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Book Conception de produits int  gr  s analogiques

Download or read book Conception de produits int gr s analogiques written by Yann Deval and published by . This book was released on 1994 with total page 177 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:

Book Conception de circuits integres analogiques   elaboration d une methode originale d optimisation basee sur la technique des plans d experiences

Download or read book Conception de circuits integres analogiques elaboration d une methode originale d optimisation basee sur la technique des plans d experiences written by Yann Deval and published by . This book was released on 1994 with total page pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:

Book M  thodes d analyse de la variabilit   et de conception robuste des circuits analogiques dans les technologies CMOS avanc  es

Download or read book M thodes d analyse de la variabilit et de conception robuste des circuits analogiques dans les technologies CMOS avanc es written by Hubert Filiol and published by . This book was released on 2010 with total page 187 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Avec la miniaturisation toujours plus poussée des technologies CMOS, il devient de plus en plus difficile de maîtriser les variations des paramètres technologiques lors de la fabrication des circuits intégrés. A cause de ces variations, les performances des circuits peuvent varier de façon considérable. Par conséquent, des méthodes d’analyse de la variabilité et de conception robuste sont plus que jamais nécessaires pour garantir un rendement de fabrication des circuits élevé.Les techniques classiques d’analyse de la variabilité se révèlent soit pessimistes conduisant alors à un surdimensionnement (analyse « pire-cas »), soit très couteuses en temps de calcul (analyse Monte Carlo). Quant aux méthodes de conception automatisée robuste, elles sont généralement basées sur des algorithmes d’optimisation locaux qui améliorent la robustesse des circuits localement, mais risquent de ne pas converger vers le dimensionnement globalement robuste. Dans ce travail de thèse, une nouvelle méthode d’analyse de la variabilité ainsi qu’une nouvelle approche pour concevoir des circuits analogiques robustes ont été développées. La méthode d’analyse de la variabilité consiste à approximer les performances des circuits par des modèles polynomiaux à partir des plans d’expériences, puis à estimer les variations extrêmes grâce au développement limité de Cornish-Fisher. Cette méthode s’avère aussi précise que l’analyse de Monte Carlo, mais présente un coût calculatoire bien plus faible. Enfin, l’approche de conception robuste met en oeuvre la méthode précédente d’analyse de la variabilité dans un algorithme d’optimisation par intervallesafin d’assurer un dimensionnement globalement robuste.

Book Etude des m  thodes de conception et des outils de C A O  pour la synth  se des circuits int  gr  s analogiques

Download or read book Etude des m thodes de conception et des outils de C A O pour la synth se des circuits int gr s analogiques written by Faouzi Chaahoub and published by . This book was released on 2007 with total page 0 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: La realisation des circuits integres analogiques a hautes performances souffre de difficultes principalement dues a la reduction de la tension d'alimentation et a la reduction de la consommation, qui sont conduites par la proliferation des systemes portables alimentes par des batteries, mais patit aussi du manque d'outils de c.a.o permettant d'automatiser la phase de layout qui est assez laborieuse et prend beaucoup de temps. Cette these se situe dans ce contexte. Elle traite de deux domaines assez distincts mais complementaires, a savoir la conception de circuits integres analogiques a faible tension d'alimentation, et la generation automatique (ou assistee) du layout de ces circuits a l'aide d'algorithmes et de logiciels appropries. L'aboutissement de cette these est, premierement, la creation d'une nouvelle methode de conception des circuits integres analogiques, plus precisement la generation d'une technique de conception de nouvelle structure, plus adaptee aux basses tensions d'alimentation et aux faibles consommations, deuxiemement, notre contribution a l'automatisation de la phase du layout des circuits integres analogiques, a savoir l'etude detaillee des contraintes analogiques a prendre en compte dans tout outil d'automatisation du layout (generateur, placeur, routeur, compacteur), ainsi que notre participation au developpement de chrvan (outils d'automatisation des masques des circuits integres analogiques et mixtes, developpes au cnet grenoble) en aidant a sa mise au point, en l'utilisant, en proposant des ameliorations, et surtout en consacrant tous nos efforts a developpe un algorithme de placement des cellules analogiques qui prend en compte toutes ces contraintes analogiques.

Book Optimisation du test de production de circuits analogiques et RF par des techniques de mod  lisation statistique

Download or read book Optimisation du test de production de circuits analogiques et RF par des techniques de mod lisation statistique written by Nourredine Akkouche and published by . This book was released on 2011 with total page 0 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: La part dû au test dans le coût de conception et de fabrication des circuits intégrés ne cesse de croître, d'où la nécessité d'optimiser cette étape devenue incontournable. Dans cette thèse, de nouvelles méthodes d'ordonnancement et de réduction du nombre de tests à effectuer sont proposées. La solution est un ordre des tests permettant de détecter au plus tôt les circuits défectueux, qui pourra aussi être utilisé pour éliminer les tests redondants. Ces méthodes de test sont basées sur la modélisation statistique du circuit sous test. Cette modélisation inclus plusieurs modèles paramétriques et non paramétrique permettant de s'adapté à tous les types de circuit. Une fois le modèle validé, les méthodes de test proposées génèrent un grand échantillon contenant des circuits défectueux. Ces derniers permettent une meilleure estimation des métriques de test, en particulier le taux de défauts. Sur la base de cette erreur, un ordonnancement des tests est construit en maximisant la détection des circuits défectueux au plus tôt. Avec peu de tests, la méthode de sélection et d'évaluation est utilisée pour obtenir l'ordre optimal des tests. Toutefois, avec des circuits contenant un grand nombre de tests, des heuristiques comme la méthode de décomposition, les algorithmes génétiques ou les méthodes de la recherche flottante sont utilisées pour approcher la solution optimale.

Book Etude des m  thodes de conception et des outils de C A O  pour la synth  se des circuits int  gr  s analogiques

Download or read book Etude des m thodes de conception et des outils de C A O pour la synth se des circuits int gr s analogiques written by Faouzi Chaahoub and published by . This book was released on 1999 with total page 181 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: LA REALISATION DES CIRCUITS INTEGRES ANALOGIQUES A HAUTES PERFORMANCES SOUFFRE DE DIFFICULTES PRINCIPALEMENT DUES A LA REDUCTION DE LA TENSION D'ALIMENTATION ET A LA REDUCTION DE LA CONSOMMATION, QUI SONT CONDUITES PAR LA PROLIFERATION DES SYSTEMES PORTABLES ALIMENTES PAR DES BATTERIES, MAIS PATIT AUSSI DU MANQUE D'OUTILS DE C.A.O PERMETTANT D'AUTOMATISER LA PHASE DE LAYOUT QUI EST ASSEZ LABORIEUSE ET PREND BEAUCOUP DE TEMPS. CETTE THESE SE SITUE DANS CE CONTEXTE. ELLE TRAITE DE DEUX DOMAINES ASSEZ DISTINCTS MAIS COMPLEMENTAIRES, A SAVOIR LA CONCEPTION DE CIRCUITS INTEGRES ANALOGIQUES A FAIBLE TENSION D'ALIMENTATION, ET LA GENERATION AUTOMATIQUE (OU ASSISTEE) DU LAYOUT DE CES CIRCUITS A L'AIDE D'ALGORITHMES ET DE LOGICIELS APPROPRIES. L'ABOUTISSEMENT DE CETTE THESE EST, PREMIEREMENT, LA CREATION D'UNE NOUVELLE METHODE DE CONCEPTION DES CIRCUITS INTEGRES ANALOGIQUES, PLUS PRECISEMENT LA GENERATION D'UNE TECHNIQUE DE CONCEPTION DE NOUVELLE STRUCTURE, PLUS ADAPTEE AUX BASSES TENSIONS D'ALIMENTATION ET AUX FAIBLES CONSOMMATIONS, DEUXIEMEMENT, NOTRE CONTRIBUTION A L'AUTOMATISATION DE LA PHASE DU LAYOUT DES CIRCUITS INTEGRES ANALOGIQUES, A SAVOIR L'ETUDE DETAILLEE DES CONTRAINTES ANALOGIQUES A PRENDRE EN COMPTE DANS TOUT OUTIL D'AUTOMATISATION DU LAYOUT (GENERATEUR, PLACEUR, ROUTEUR, COMPACTEUR), AINSI QUE NOTRE PARTICIPATION AU DEVELOPPEMENT DE CHRVAN (OUTILS D'AUTOMATISATION DES MASQUES DES CIRCUITS INTEGRES ANALOGIQUES ET MIXTES, DEVELOPPES AU CNET GRENOBLE) EN AIDANT A SA MISE AU POINT, EN L'UTILISANT, EN PROPOSANT DES AMELIORATIONS, ET SURTOUT EN CONSACRANT TOUS NOS EFFORTS A DEVELOPPE UN ALGORITHME DE PLACEMENT DES CELLULES ANALOGIQUES QUI PREND EN COMPTE TOUTES CES CONTRAINTES ANALOGIQUES.

Book Conception de circuits int  gr  s mixtes sous contrainte de testabilit   et proposition d une m  thodologie

Download or read book Conception de circuits int gr s mixtes sous contrainte de testabilit et proposition d une m thodologie written by Corinne Daujan and published by . This book was released on 1997 with total page 158 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: LE DEVELOPPEMENT DE LA MICROELECTRONIQUE A ETE CONSIDERABLE DEPUIS CES DIX DERNIERES ANNEES. IL SE TRADUIT PAR DES TAILLES DE COMPOSANTS EN CONSTANTE DIMINUTION OFFRANT DES POSSIBILITES D'INTEGRATION, POUR LES CIRCUITS INTEGRES, A TRES GRANDE ECHELLE. CETTE EVOLUTION A EU LIEU CONJOINTEMENT AVEC, ENTRE AUTRE, LE DEVELOPPEMENT DE NOUVEAUX LOGICIELS DE CAO, ET DE METHODES DE SIMULATION DE FAUTES DESTINEES A ANTICIPER LES CONSEQUENCES DES DEFAUTS DE PROCESS ET FACILITER AINSI L'INTERPRETATION DE CERTAINS RESULTATS DANS LA PHASE DE TEST DU CIRCUIT. CES METHODES, TRES AU POINT DANS LE DOMAINE DIGITAL, ONT PRIS UN CERTAIN RETARD DANS LE DOMAINE DE L'ANALOGIQUE DU A LA COMPLEXITE DE CELUI-CI. CE MANUSCRIT A POUR BUT DE PROPOSER UNE METHODE DE SIMULATION DE FAUTES ET D'ISOLATION DE FAUTES POUR LES CIRCUITS INTEGRES ANALOGIQUES ET MIXTES, BASES SUR LA TECHNIQUE DU DICTIONNAIRE DE FAUTES. ELLE EST ENTIEREMENT AUTOMATISABLE CAR NOUS AVONS CHOISI DE TRAITER LES DONNEES DE FACON BINAIRE. SON APPLICATION SUR DES CIRCUITS CONCRETS, PREALABLEMENT CONCUS POUR DES APPLICATIONS SPECIFIQUES, A PERMIS DE DETERMINER LES AVANTAGES AINSI QUE LES LIMITES DE CETTE METHODE.

Book SIMULATION DE FAUTES ET OPTIMISATION DES TESTS DE PRODUCTION POUR LES CIRCUITS ANALOGIQUES AVEC PRISE EN COMPTE DES TOLERANCES

Download or read book SIMULATION DE FAUTES ET OPTIMISATION DES TESTS DE PRODUCTION POUR LES CIRCUITS ANALOGIQUES AVEC PRISE EN COMPTE DES TOLERANCES written by ABDELHAKIM.. KHOUAS and published by . This book was released on 2000 with total page 166 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: FACE AUX PROGRES ACCOMPLIS DANS LE DOMAINE DE L'INTEGRATION DES CIRCUITS INTEGRES VLSI, LES CIRCUITS ANALOGIQUES DEVIENNENT PLUS COMPLEXES ET PLUS DIFFICILES A TESTER. CETTE THESE PRESENTE UNE NOUVELLE METHODOLOGIE POUR LA SIMULATION DE FAUTES ET L'OPTIMISATION AUTOMATIQUE DES TESTS DE PRODUCTION POUR LES CIRCUITS INTEGRES ANALOGIQUES EN TENANT COMPTE DES VARIATIONS DU PROCESSUS DE FABRICATION DES CIRCUITS INTEGRES. LE SIMULATEUR DE FAUTES EST UN OUTIL INDISPENSABLE AU DEVELOPPEMENT DE TOUTE STRATEGIE DE TEST, IL PERMET DE VALIDER LES TECHNIQUES DE CONCEPTION EN VUE DU TEST (DFT), ET DE REDUIRE LES COUTS DES TESTS DE PRODUCTION. LES DEUX CARACTERISTIQUES IMPORTANTES D'UN SIMULATEUR DE FAUTES SONT : PRECISION ET RAPIDITE. POUR REPONDRE A L'EXIGENCE DE PRECISION DANS LE MONDE ANALOGIQUE OU LES VALEURS SONT IMPRECISES ET AVEC TOLERANCES, NOUS AVONS DEFINI UNE FONCTION DE PROBABILITE DE DETECTION DE FAUTES (PDF) QUI PERMET DE QUANTIFIER LE DEGRE DE DETECTION POSSIBLE D'UNE FAUTE DONNEE. POUR LA RAPIDITE, NOUS AVONS PROPOSE UN NOUVEAU ALGORITHME QUI UTILISE DES TESTS D'ARRET POUR REDUIRE LE TEMPS DE SIMULATION DE FAUTES. POUR LES CIRCUITS ANALOGIQUES, LES TESTS DEPENDENT DE LA NATURE DU CIRCUIT A TESTER. IL EST DONC IMPOSSIBLE DE DEVELOPPER UN GENERATEUR AUTOMATIQUE DE VECTEURS DE TEST POUR TOUS LES TYPES DE CIRCUITS. C'EST POURQUOI NOUS AVONS ATTAQUE LE PROBLEME DE L'OPTIMISATION AUTOMATIQUE D'ENSEMBLES DE TESTS PRE-EXISTANTS. AFIN DE TENIR COMPTE DES FLUCTUATIONS DU PROCESSUS DE FABRICATION, UNE METHODE D'OPTIMISATION DES TESTS DE PRODUCTION BASEE SUR LA FONCTION DE PROBABILITE DE DETECTION DE FAUTES A ETE PRESENTEE. UN PROTOTYPE D'OUTIL DE SIMULATION DE FAUTES ET D'OPTIMISATION AUTOMATIQUE DES TESTS DE PRODUCTION A ETE DEVELOPPE POUR VALIDER NOTRE APPROCHE. CE PROTOTYPE NOUS A PERMIS DE VALIDER, SUR PLUSIEURS CIRCUITS, NOTRE METHODE BASEE SUR LES PROBABILITES DE DETECTION DE FAUTES, ET LES RESULTATS DE PERFORMANCE OBTENUS SONT TRES ENCOURAGEANTS.

Book Recherche op  rationnelle et optimisation pour la conception testable de circuits int  gr  s complexes

Download or read book Recherche op rationnelle et optimisation pour la conception testable de circuits int gr s complexes written by Lilia Koutchoukali Zaourar (informaticienne).) and published by . This book was released on 2010 with total page 0 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Le travail de cette thèse est à l'interface des dom aines de la recherche opérationnelle et de la micro -électronique. Il traite de l'utilisation des techniques d'optimisation combinatoire pour la DFT (Design For Test) des Circuits Intégrés (CI). Avec la croissance rapide et la complexité des CI actuels, la qualité ainsi que le coût du test sont devenus des paramètres importants dans l'industrie des semi-conducteurs. Afin de s'assurer du bon fonctionnement du CI, l'étape de test est plus que jamais une étape essentielle et délicate dans le processus de fabrication d'un CI. Pour répondre aux exigences du marché, le test doit être rapide et efficace dans la révélation d'éventuels défauts. Pour cela, il devient incontournable d'appréhender la phase de test dès les étapes de conception du CI. Dans ce contexte, la conception testable plus connue sous l'appellation DFT vise à améliorer la testabilité des CI. Plusieurs problèmes d'optimisation et d'aide à la décision découlent de la micro-électronique. La plupart de ces travaux traitent des problèmes d'optimisation combinatoire pour le placement et routage des circuits. Nos travaux de recherche sont à un niveau de conception plus amont, la DFT en présynthèse au niveau transfert de registres ou RTL (Register Transfer Level). Cette thèse se découpe en trois parties. Dans la première partie nous introduisons les notions de bases de recherche opérationnelle, de conception et de test des CI. La démarche suivie ainsi que les outils de résolution utilisés dans le reste du document sont présentés dans cette partie. Dans la deuxième partie, nous nous intéressons au problème de l'optimisation de l'insertion des chaîne s de scan. A l'heure actuelle, le "scan interne" est une des techniques d'amélioration de testabilité ou de DFT les plus largement adoptées pour les circuits intégrés numériques. Il s'agit de chaîner les éléments mémoires ou bascules du circuit de sorte à former des chaînes de scan qui seront considérées pendant la phase de test comme points de contrôle et d'observation de la logique interne du circuit. L'objectif de notre travail est de développer des algorithmes permettant de générer pour un CI donné et dès le niveau RTL des chaînes de scan optimales en termes de surface, de temps de test et de consommation en puissance, tout en respectant des critères de performance purement fonctionnels. Ce problème a été modélisé comme la recherche de plus courtes chaînes dans un graphe pondéré. Les méthodes de résolution utilisées sont basées sur la recherche de chaînes hamiltoniennes de longueur minimale. Ces travaux ont été réalisés en collaboration avec la start-up DeFacTo Technologies. La troisième partie s'intéresse au problème de partage de blocs BIST (Built In Self Test) pour le test des mémoires. Le problème peut être formulé de la façon suivante : étant données des mémoires de différents types et tailles, ainsi que des règles de partage des colliers en série et en parallèle, il s'agit d'identifier des solutions au problème en associant à chaque mémoire un collier. La solution obtenue doit minimiser à la fois la surface, la consommation en puissance et le temps de test du CI. Pour résoudre ce problème, nous avons conçu un prototype nommé Memory BIST Optimizer (MBO). Il est constitué de deux phases de résolution et d'une phase de validation. La première phase consiste à créer des groupes de compatibilité de mémoires en tenant compte des règles de partage et d'abstraction des technologies utilisées. La deuxième phase utilise les algorithmes génétiques pour l'optimisation multi-objectifs afin d'obtenir un ensemble de solutions non dominées. Enfin, la validation permet de vérifier que la solution fournie est valide. De plus, elle affiche l'ensemble des solutions à travers une interface graphique ou textuelle. Cela permet à l'utilisateur de choisir la solution qui lui correspond le mieux. Actuellement, l'outil MBO est intégré dans un flot d'outils à ST-microelectronics pour une utilisation par ses clients.

Book OPTIMISATION DU TEST DE CIRCUITS INTEGRES MIXTES ANALOGIQUE NUMERIQUE

Download or read book OPTIMISATION DU TEST DE CIRCUITS INTEGRES MIXTES ANALOGIQUE NUMERIQUE written by ARNAUD.. RIAUDEL and published by . This book was released on 1995 with total page 160 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: CETTE THESE S'INSERE DANS LE CADRE DES CIRCUITS INTEGRES COMPLEXES UTILISES DANS LE DOMAINE DES TELECOMMUNICATIONS. LE HAUT DEGRE DE FIABILITE EXIGE POUR LEUR FONCTIONNEMENT ENTRAINE UNE EVOLUTION DES METHODES DE TEST VERS UNE EFFICACITE PLUS GRANDE. LES TRAVAUX MENES ONT POUR BUT DE DEFINIR UNE METHODOLOGIE DE TEST PERMETTANT D'OPTIMISER ET DE SIMPLIFIER LE DEVELOPPEMENT DES PROGRAMMES DE TEST POUR LES CIRCUITS INTEGRES MIXTES ANALOGIQUE-NUMERIQUE COMPLEXES ET SPECIFIQUES AU RESEAU DE TELECOMMUNICATIONS. DANS UNE PREMIERE PARTIE, NOUS PRESENTONS UN CIRCUIT INTEGRE MIXTE ANALOGIQUE-NUMERIQUE-L'INTERFACE U CODE 2B/1Q-. NOUS FAISONS L'ETAT DE L'ART DES DIFFERENTES TECHNIQUES DE TESTABILITE ET MONTRONS QU'UNE ASSOCIATION COHERENTE DES METHODES DE TEST DOIT ACCROITRE L'ASSURANCE DE LA CONFORMITE DU COMPOSANT AUX SPECIFICATIONS. LA SECONDE PARTIE PRESENTE LE TRAVAIL QUI A ETE MENE POUR TESTER LA CONFORMITE DE L'INTERFACE U AUX SPECIFICATIONS FONCTIONNELLES ET PARAMETRIQUES. NOUS PROPOSONS UNE METHODOLOGIE DE TEST BASEE SUR L'UTILISATION D'INSTRUMENTATION ANALOGIQUE COUPLEE A UN TESTEUR NUMERIQUE POUR TESTER LES PRINCIPALES CARACTERISTIQUES DE L'INTERFACE U

Book METHODES D OPTIMISATION POUR LA CAO DE CIRCUITS INTEGRES

Download or read book METHODES D OPTIMISATION POUR LA CAO DE CIRCUITS INTEGRES written by Christian Poivey and published by . This book was released on 1987 with total page 98 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: LA CONCEPTION DES CIRCUITS INTEGRES CONSISTE A DETERMINER DES VALEURS ACCEPTABLES DES PARAMETRES AFIN DE SATISFAIRE CERTAINS CRITERES DE FONCTIONNEMENT DU CIRCUIT DONNE PAR SA TOPOLOGIE. LE PROBLEME EST REFORMULE EN UN PROBLEME NON LINEAIRE A PLUSIEURS DIMENSIONS AVEC CONTRAISNTES. LES FONCTIONS A MINIMISER ET LES CONTRAINTES DEPENDENT IMPLICITEMENT DES PARAMETRES D'OPTIMISATION PAR LES EQUATIONS DU CIRCUIT, CE QUI EXIGE UNE SIMULATION COMPLETE POUR OBTENIR L'EVALUATION DE LA FONCTION. LES METHODES DU GRADIENT ET HESSIENNE NE CONVIENNENT PAS. LA METHODE DU SIMPLEX DE NELDER ET HEAD ADJOINTE A UNE METHODE DE RECHERCHE GLOBALE DES MEILLEURS POINTS D'ATTRACTION A ETE RETENUE. TOUTEFOIS, LA DIMENSION N DOIT RESTER INFERIEURE A 10. ON TENTE DE RESOUDRE LE PROBLEME D'UN GRAND NOMBRE DE VARIABLES EN LE FRACTIONNANT: AU LIEU D'AGIR SUR LA TOTALITE DES VARIABLES, ON EFFECTUE DES MINIMISATIONS SUCCESSIVES SUR DES SOUS-ENSEMBLES. DES ESSAIS SUR DES FONCTIONS TESTS COMPORTANT JUSQU'A 100 VARIABLES SONT SATISFAISANTS. ON OBTIENT LA PROPORTIONNALITE DU TEMPS DE CALCUL ET DU NOMBRE DES VARIABLES. CES METHODES ONT ETE INTERFACEES AVEC LE SIMULATEUR ELECTRIQUE SPICE-PAC ET APPLIQUEES A LA CARACTERISATION DE MODELES DE TRANSISTORS ET A L'OPTIMISATION DE CIRCUITS

Book Connaissance Et Synth  se en Vue de la Conception Et la R  utilisation de Circuits Analogiques Int  gr  s

Download or read book Connaissance Et Synth se en Vue de la Conception Et la R utilisation de Circuits Analogiques Int gr s written by Ramy Iskander and published by . This book was released on 2008 with total page 274 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Les concepteurs des circuits intégrés VLSI ont inventé des méthodes permettant d'exploiter la complexité croissante des circuits intégrés à haute densité d'intégration. L'une d'elles consiste à concevoir des systèmes embarqués sur puce (SoC) à l'aide de blocs pré-existants et déjà validés (appelés IP, comme Intellectual Property), qu'ils aient été élaborés en interne à l'entreprise réalisant le SoC ou issus d'une tierce partie. S'il existe un flot descendant bien établi pour concevoir les blocs intégrés numériques, la conception de circuits analogiques reste toujours une opération sur mesure. Dans cette thèse, nous proposons une méthode pour automatiser le dimensionnement et la polarisation d'un circuit analogique dans le cas général, conduisant ainsi à une définition possible d'un IP analogique. Cette méthode permet de générer automatiquement une procédure pour calculer les dimensions d'une topologie électrique connue et son point de fonctionnement en se fondant sur l'expression de la connaissance du concepteur.

Book Environnement de Conception Multi niveaux Unifi  e Appliqu   Aux Syst  mes Mixtes

Download or read book Environnement de Conception Multi niveaux Unifi e Appliqu Aux Syst mes Mixtes written by Michel Vasilevski and published by . This book was released on 2012 with total page 137 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Ce travail se place dans le contexte de la conception, la modélisation et la simulation de systèmes hétérogènes contenant a la fois des capteurs, des composants analogiques, des composants numériques et des circuits RF.La seule manière de simuler un système avec une telle complexité avec un temps de simulation raisonnable est de faire une modélisation haut niveau.Cependant, pour que ce modèle haut niveau soit fiable, les modèles des blocs analogiques et RF doivent contenir une description précise des leurs imperfections.Dans ce travail nous proposons une méthode systématique pour la caractérisation et le raffinement des modèles des blocs analogiques et RF.Cette méthode est réalisée dans un environnement C++ base sur: - l'outil de simulation haut niveau SystemC-AMS- l'outil de résolution d'expression symbolique GiNaC- l'outil de synthèse de circuits intégrés analogique CAIRO+/CHAMSPour illustrer la validité de la méthode proposée, nous présenterons le modèle d'un nœud d'un réseau de capteurs sans fil avec une caractérisation automatique de certains blocs analogiques et RF.Les points suivant résument les contributions apportées pour ce travail.- La première implémentation d'un modèle analogique numérique mixte complexe avec le langage SystemC AMS: un nœud de réseau de capteurs sans fil.- L'introduction du raffinement pour une approche générique des modèles au niveau système.- Un outil d'évaluation précise des performances linéaires et non-linéaires des circuit analogiques pour le raffinement des modèles niveau système et l'optimisation de la conception niveau circuit.- Une méthodologie de conception niveau circuit basée sur des outils de dimensionnement et d'évaluation des performances avec précision.- Un environnement de conception multi-niveaux unifiée appliqué aux systèmes mixtes avec une très forte interaction entre la simulation niveau système et la conception optimisée niveau circuit.

Book Conception de circuits int  gr  s analogiques mode courant applicable aux syst  mes de t  l  communications

Download or read book Conception de circuits int gr s analogiques mode courant applicable aux syst mes de t l communications written by Stéphane Meillère and published by . This book was released on 2004 with total page 119 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Les circuits intégrés analogiques CMOS dédiés au traitement de l'information sont de plus en plus soumis à de fortes contraintes technologiques et doivent répondre à des critères de performances accrues, en terme de rapidité et de puissance consommée. L'intégration des circuits analogiques soulève une difficulté supplémentaire qui se traduit par la densité d'intégration. L'ensemble des travaux présentés dans ce mémoire s'inscrit dans l'étude des architectures basées sur les techniques 'mode courant', qui permettent de répondre aux contraintes technologiques actuelles. Ainsi, une première approche consiste à rappeler les structures CMOS homologues aux structures bipolaires généralement introduites par la théorie des circuits translinéaires. Une deuxième approche consiste à proposer une équivalence entre les circuits translinéaires et les circuits CMOS.L'ensemble de l'étude des techniques 'mode courant' a permis la mise en œuvre d'un lecteur émetteur de cartes sans contact. Le système de lecture consiste à démoduler et à traiter un signal radio-fréquence à 13.56 MHz. Ce lecteur a été réalisé et testé à l'aide de la technologie CMOS 0.5 millimètre dans le cadre d'une collaboration entre la société INSIDE TECHNOLOGIES et le laboratoire L2MP.

Book CONCEPTION DE CIRCUITS INTEGRES ANALOGIQUES A BASE DE TRANSISTORS BIPOLAIRES TBH GAAS

Download or read book CONCEPTION DE CIRCUITS INTEGRES ANALOGIQUES A BASE DE TRANSISTORS BIPOLAIRES TBH GAAS written by MOHAMED.. MEKHATRI and published by . This book was released on 1990 with total page pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: CETTE THESE DECRIT L'ANALYSE FONDAMENTALE, LA SIMULATION ELECTRIQUE ET LA STRATEGIE D'IMPLANTATION DES CIRCUITS INTEGRES ANALOGIQUES TRES RAPIDES A BASE DE TRANSISTORS BIPOLAIRES A HETEROJONCTION EN ARSENIURE DE GALLIUM (TBH-GAAS). ON DONNE D'ABORD UN APERCU SUR LES REGLES DE DESSIN ET LA METHODOLOGIE D'IMPLANTATION RELATIVES AUX TBH-GAAS ADOPTEES PAR LE LABORATOIRE DU C.N.E.T BAGNEUX, ON PRESENTE ENSUITE L'ETUDE ET LA CONCEPTION D'UN AMPLIFICATEUR OPERATIONNEL UTILISE DANS LE DOMAINE DE L'AMPLIFICATION LINEAIRE HAUTES FREQUENCES ET EN COMMUTATION RAPIDE, PUIS ON ABORDE L'ELABORATION ET L'EVALUATION DES PERFORMANCES D'UN CONVERTISSEUR ANALOGIQUE-NUMERIQUE (CAN) 2 BITS DE STRUCTURE FLASH ET D'UN CAN 8 BITS DE STRUCTURE SEMI-FLASH, TRAVAILLANT SELON LA FAMILLE LOGIQUE CML-ECL

Book Circuits logiques

Download or read book Circuits logiques written by Xavier Maldague and published by Presses de l'Université Laval. This book was released on 2023-07-20T00:00:00-04:00 with total page 450 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Cette troisième édition de Circuits logiques aborde tous les aspects de l’arithmétique binaire de base aux circuits séquentiels complexes (avec un soupçon de microprogrammation) et est destinée à la clientèle universitaire de premier cycle de génie électrique, de génie informatique, de génie logiciel ou de génie physique qui a dans son programme scolaire un cours de base sur les circuits de base logiques, c’est-à-dire des circuits combinatoires jusqu’aux circuits séquentiels. Elle peut aussi servir à l’enseignement collégial, sans doute en excluant la partie séquentielle et en y ajoutant des notions d’électronique non couvertes ici. D’un format compact, elle sera aisément couverte en un trimestre. Une foule d’exposés théoriques magistraux et d’expériences pratiques semble être la combinaison pédagogique idéale. Ce livre a été pensé en conséquence. C’est ainsi que chaque partie est très détaillée. L’ajout de problèmes et de démonstrations (par exemple, des simulations) réalisés en classe complétera judicieusement le contenu de ce volume. On favorise d’ailleurs cette approche d’apprentissage par l’exemple dans ce livre où les notions sont très souvent présentées à même les exemples résolus.