EBookClubs

Read Books & Download eBooks Full Online

EBookClubs

Read Books & Download eBooks Full Online

Book Composants de Puissance en Sic

Download or read book Composants de Puissance en Sic written by and published by Ed. Techniques Ingénieur. This book was released on with total page 14 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:

Book Mod  lisation et Simulation Spice des Composants de Puissance

Download or read book Mod lisation et Simulation Spice des Composants de Puissance written by Lotfi Messaadi and published by Univ Europeenne. This book was released on 2016-07-07 with total page 148 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Le carbure de silicium (SiC) est un materiau semi-conducteur a large bande d'energie interdite. Ce materiau possede des caracteristiques en temperature et une tenue aux champs electriques bien superieures a celles du silicium. Les dispositifs a base de ce materiau (SiC) sont bien adaptes pour fonctionner dans des environnements a haute temperature, haute puissance, haute tension et haute radiation. Ces caracteristiques permettent des ameliorations significatives dans une grande variete d'applications et de systemes de puissance. Dans ce travail on presente des etudes analytiques comparatives des modeles des composants a semi-conducteurs en SiC, ainsi que les principales caracteristiques statiques, dynamiques, et thermiques des meilleurs composants comme SiC-JFET, SiC diode Schottky et le SiC-MOSFET, de puissance commercialises de different constructeurs en raison d'elaborer un plan de choix guidant les concepteurs des circuits d'electronique de puissance de selectionner le composant le plus adapte a leur cahier de charge selon leurs objectifs et selon les performances de leurs convertisseurs de puissance.

Book Composants de puissance en SiC   Applications

Download or read book Composants de puissance en SiC Applications written by Tournier and published by . This book was released on with total page 0 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:

Book Power Electronics Semiconductor Devices

Download or read book Power Electronics Semiconductor Devices written by Robert Perret and published by John Wiley & Sons. This book was released on 2013-03-01 with total page 381 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: This book relates the recent developments in several key electrical engineering R&D labs, concentrating on power electronics switches and their use. The first sections deal with key power electronics technologies, MOSFETs and IGBTs, including series and parallel associations. The next section examines silicon carbide and its potentiality for power electronics applications and its present limitations. Then, a dedicated section presents the capacitors, key passive components in power electronics, followed by a modeling method allowing the stray inductances computation, necessary for the precise simulation of switching waveforms. Thermal behavior associated with power switches follows, and the last part proposes some interesting prospectives associated to Power Electronics integration.

Book Advancing Silicon Carbide Electronics Technology II

Download or read book Advancing Silicon Carbide Electronics Technology II written by Konstantinos Zekentes and published by Materials Research Forum LLC. This book was released on 2020-03-15 with total page 292 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: The book presents an in-depth review and analysis of Silicon Carbide device processing. The main topics are: (1) Silicon Carbide Discovery, Properties and Technology, (2) Processing and Application of Dielectrics in Silicon Carbide Devices, (3) Doping by Ion Implantation, (4) Plasma Etching and (5) Fabrication of Silicon Carbide Nanostructures and Related Devices. The book is also suited as supplementary textbook for graduate courses. Keywords: Silicon Carbide, SiC, Technology, Processing, Semiconductor Devices, Material Properties, Polytypism, Thermal Oxidation, Post Oxidation Annealing, Surface Passivation, Dielectric Deposition, Field Effect Mobility, Ion Implantation, Post Implantation Annealing, Channeling, Surface Roughness, Dry Etching, Plasma Etching, Ion Etching, Sputtering, Chemical Etching, Plasma Chemistry, Micromasking, Microtrenching, Nanocrystal, Nanowire, Nanotube, Nanopillar, Nanoelectromechanical Systems (NEMS).

Book Optimisation des   tapes technologiques pour la fabrication de composants de puissance en carbure de silicium

Download or read book Optimisation des tapes technologiques pour la fabrication de composants de puissance en carbure de silicium written by Heu Vang and published by . This book was released on 2006 with total page 170 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: L'électricité est aujourd'hui l'énergie la plus utilisée de part le monde. L'électronique de puissance est au coeur de la gestion de l'électricité. La majorité des systèmes de puissance utilise de nos jours des composants actifs en silicium. Avec les nouvelles contraintes, des tensions plus élevées, des faibles pertes, l'encombrement, les hautes températures, le silicium a atteint ses limites. Le carbure de silicium (SiC) est un semi-conducteur à large bande interdite qui présente des propriétés physiques et électriques à celles du silicium pour les composants de puissance. Les différents travaux à travers le monde démontrent un avenir prometteur pour le SiC dans la prochaine génération des composants de puissance. Ainsi les premiers composants SiC sont disponibles sur le marché depuis 2002 et les premiers systèmes hybrides Si/SiC permettent de mettre en évidence les avantages de cette nouvelle technologie. Le travail réalisé au cours de cette thèse a permis de mettre en place une base pour la technologie de fabrication de composants de puissance en SiC. Plusieurs étapes technologiques nécessaires à la fabrication de dispositifs SiC ont été optimisées. La gravure plasma du SiC avec un réacteur RIE et la formation du contact ohmique le SiC de type P ont été étudiées plus amplement. Ainsi, le procédé de gravure optimisé permet une vitesse de gravure de 0,35 æm/min avec un plasma SF6/O2, il est alors possible avec un masque de nickel de réaliser des structures mesas avec des profondeurs supérieures à 10 æm. Ensuite, une métallisation Ni/Al sur le SiC-4H de type P a été réalisé avec une résistance spécifique reproductible de 3×10-5 Ωcm2. Les optimisations des différentes étapes technologiques ont été implémentées dans la fabrication de diodes SiC avec deux types de protections périphériques : JTE et mesa. Des diodes de 1,2 kV et 5 kV ont été réalisées et caractérisées. Ces dispositifs ont permis de valider les optimisations apportées par le travail réalisé dans cette thèse. Cependant, il reste encore à améliorer les techniques de croissance du SiC pour permettre la fabrication de composants bipolaires de puissance en SiC fiables et robustes.

Book Vieillissement et m  canismes de d  gradation sur des composants de puissance en carbure de silicium  SIC  pour des applications haute temp  rature

Download or read book Vieillissement et m canismes de d gradation sur des composants de puissance en carbure de silicium SIC pour des applications haute temp rature written by Rémy Ouaida and published by . This book was released on 2014 with total page 0 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Dans les années 2000, les composants de puissance en carbure de silicium (SiC) font leur apparition sur le marché industriel offrant d'excellentes performances. Elles se traduisent par de meilleurs rendements et des fréquences de découpage plus élevées, entrainant une réduction significative du volume et de la masse des convertisseurs de puissance. Le SiC présente de plus un potentiel important de fonctionnement en haute température (>200°C) et permet donc d'envisager de placer l'électronique dans des environnements très contraints jusqu'alors inaccessibles. Pourtant les parts de marche du SiC restent limitées dans l'industrie vis à vis du manque de retour d'expérience concernant la fiabilité de ces technologies relativement nouvelles. Cette question reste aujourd'hui sans réponse et c'est avec cet objectif qu'a été menée cette étude axée sur le vieillissement et l'analyse des mécanismes de dégradation sur des composants de puissance SiC pour des applications haute température. Les tests de vieillissement ont été réalisés sur des transistors MOSFET SiC car ces composants attirent les industriels grâce à leur simplicité de commande et leur sécurité "normalement bloqué" (Normally-OFF). Néanmoins, la fiabilité de l'oxyde de grille est le paramètre limitant de cette structure. C'est pourquoi l'étude de la dérive de la tension de seuil a été mesurée avec une explication du phénomène d'instabilité du VTH. Les résultats ont montré qu'avec l'amélioration des procédés de fabrication, l'oxyde du MOSFET est robuste même pour des températures élevées (jusqu'à 300°C) atteintes grâce à un packaging approprié. Les durées de vie moyennes ont été extraites grâce à un banc de vieillissement accéléré développé pour cette étude. Des analyses macroscopiques ont été réalisées afin d'observer l'évolution des paramètres électriques en fonction du temps. Des études microscopiques sont conduites dans l'objectif d'associer l'évolution des caractéristiques électriques par rapport aux dégradations physiques internes à la puce. Pour notre véhicule de test, la défaillance se traduit par un emballement du courant de grille en régime statique et par l'apparition de fissures dans le poly-Silicium de la grille. Pour finir, une étude de comparaison avec des nouveaux transistors MOSFET a été réalisée. Ainsi l'analogie entre ces composants s'est portée sur des performances statiques, dynamiques, dérivé de la tension de seuil et sur la durée de vie moyenne dans le test de vieillissement. Le fil rouge de ces travaux de recherche est une analyse des mécanismes de dégradation avec une méthodologie rigoureuse permettant la réalisation d'une étude de fiabilité. Ces travaux peuvent servir de base pour toutes analyses d'anticipation de défaillances avec une estimation de la durée de vie extrapolée aux températures de l'application visée.

Book Fault Diagnosis  Prognosis  and Reliability for Electrical Machines and Drives

Download or read book Fault Diagnosis Prognosis and Reliability for Electrical Machines and Drives written by Elias G. Strangas and published by John Wiley & Sons. This book was released on 2021-11-19 with total page 448 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Fault Diagnosis, Prognosis, and Reliability for Electrical Machines and Drives An insightful treatment of present and emerging technologies in fault diagnosis and failure prognosis In Fault Diagnosis, Prognosis, and Reliability for Electrical Machines and Drives, a team of distinguished researchers delivers a comprehensive exploration of current and emerging approaches to fault diagnosis and failure prognosis of electrical machines and drives. The authors begin with foundational background, describing the physics of failure, the motor and drive designs and components that affect failure and signals, signal processing, and analysis. The book then moves on to describe the features of these signals and the methods commonly used to extract these features to diagnose the health of a motor or drive, as well as the methods used to identify the state of health and differentiate between possible faults or their severity. Fault Diagnosis, Prognosis, and Reliability for Electrical Machines and Drives discusses the tools used to recognize trends towards failure and the estimation of remaining useful life. It addresses the relationships between fault diagnosis, failure prognosis, and fault mitigation. The book also provides: A thorough introduction to the modes of failure, how early failure precursors manifest themselves in signals, and how features extracted from these signals are processed A comprehensive exploration of the fault diagnosis, the results of characterization, and how they used to predict the time of failure and the confidence interval associated with it A focus on medium-sized drives, including induction, permanent magnet AC, reluctance, and new machine and drive types Perfect for researchers and students who wish to study or practice in the rea of electrical machines and drives, Fault Diagnosis, Prognosis, and Reliability for Electrical Machines and Drives is also an indispensable resource for researchers with a background in signal processing or statistics.

Book CONTRIBUTION A L ETUDE DE COMPOSANTS DE PUISSANCE HAUTE TEMPERATURE EN CARBURE DE SILICIUM

Download or read book CONTRIBUTION A L ETUDE DE COMPOSANTS DE PUISSANCE HAUTE TEMPERATURE EN CARBURE DE SILICIUM written by Dominique Planson and published by . This book was released on 1994 with total page 152 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: LES POTENTIALITES DU CARBURE DE SILICIUM EN TANT QUE MATERIAU SEMICONDUCTEUR EN VUE D'OBTENIR UN COMPOSANT DE PUISSANCE SONT ICI ETUDIEES, POUR DES APPLICATIONS DE PUISSANCE DANS LA GAMME (1500 V-1 A). LES PARAMETRES DU MATERIAU CONNUS A CE JOUR PERMETTENT LA CONCEPTION ASSISTEE PAR ORDINATEUR DE COMPOSANTS EN SIC POUR MIEUX CERNER LA TRIPLE ADEQUATION MATERIAU/COMPOSANT/TECHNOLOGIE. LES CARACTERISTIQUES ELECTRIQUES DE TROIS TYPES DE TRANSISTORS (BIPOLAIRE, MOSFET ET JFET) SONT ETUDIEES A L'AIDE DE SIMULATIONS ELECTRIQUES BIDIMENSIONNELLES (LOGICIEL PISCES). UNE PROTECTION PERIPHERIQUE DES COMPOSANTS DE PUISSANCE EST NECESSAIRE POUR SE PREMUNIR DU CLAQUAGE PAR AVALANCHE DU A LA HAUTE TENSION. DEUX TYPES DE PROTECTION CLASSIQUES DE LA FILIERE SILICIUM (ANNEAUX DE GARDE ET STRUCTURE MESA) SONT ETUDIEES AVEC LES CONTRAINTES LIEES AU SIC. ENFIN, LA GRAVURE DU SIC APPARAIT COMME UNE ETAPE TECHNOLOGIQUE CLEF POUR LES COMPOSANTS DE PUISSANCE, ET NOUS PRESENTONS NOS RESULTATS EXPERIMENTAUX DE GRAVURE PAR PLASMA DANS UN REACTEUR UTILISANT LE PRINCIPE DE LA RESONANCE CYCLOTRONIQUE ELECTRONIQUE DISTRIBUEE

Book Reliability of High Power Mechatronic Systems 2

Download or read book Reliability of High Power Mechatronic Systems 2 written by Abdelkhalak El Hami and published by Elsevier. This book was released on 2017-10-17 with total page 305 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: This second volume of a series dedicated to the reliability of high-power mechatronic systems focuses specifically on issues, testing and analysis in automotive and aerospace applications. In the search to improve industrial competitiveness, the development of methods and tools for the design of products is especially pertinent in the context of cost reduction. This book proposes new methods that simultaneously allow for a quicker design of future mechatronic devices in the automotive and aerospace industries while guaranteeing their increased reliability. The reliability of these critical elements is further validated digitally through new multi-physical and probabilistic models that could ultimately lead to new design standards and reliable forecasting. - Presents a methodological guide that demonstrates the reliability of fractured mechatronic components and devices - Includes numerical and statistical models to optimize the reliability of the product architecture - Develops a methodology to characterize critical elements at the earliest stage in their development

Book Proceedings of the 1st International Conference on Electronic Engineering and Renewable Energy

Download or read book Proceedings of the 1st International Conference on Electronic Engineering and Renewable Energy written by Bekkay Hajji and published by Springer. This book was released on 2018-08-01 with total page 786 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: The proceedings present a selection of refereed papers presented at the 1st International Conference on Electronic Engineering and Renewable Energy (ICEERE 2018) held during 15-17 April 2018, Saidi, Morocco. The contributions from electrical engineers and experts highlight key issues and developments essential to the multifaceted field of electrical engineering systems and seek to address multidisciplinary challenges in Information and Communication Technologies. The book has a special focus on energy challenges for developing the Euro-Mediterranean regions through new renewable energy technologies in the agricultural and rural areas. The book is intended for academia, including graduate students, experienced researchers and industrial practitioners working in the fields of Electronic Engineering and Renewable Energy.

Book Caract  risation  mod  lisation et int  gration de JFET de puissance en carbure de silicium dans des convertisseurs haute temp  rature et haute tension

Download or read book Caract risation mod lisation et int gration de JFET de puissance en carbure de silicium dans des convertisseurs haute temp rature et haute tension written by Rami Mousa and published by . This book was released on 2009 with total page 169 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Les systèmes d’électroniques de puissance ont grandement bénéficié du progrès révolutionnaire des composants de puissance en silicium (Si). Actuellement la quasi-totalité des applications d’électronique de puissance utilise des composants en Si. Les applications d’électroniques de puissance à haute température, haute tension et forte puissance sont de plus en plus croissantes et le silicium atteint ses limites. Le carbure de silicium (SiC) est un matériau semi-conducteur à large bande d’énergie interdite. Les propriétés électriques de ce matériau devancent celles du silicium, ce qui signifie qu’un composant en SiC présente de meilleures performances par rapport à son équivalent en silicium (Si). Les différents travaux à travers le monde démontrent un avenir prometteur pour le SiC dans la prochaine génération des composants de puissance. Le transistor JFET-SiC est l’interrupteur le plus avancé dans son développement technologique car il est au stade de la pré-commercialisation. Un modèle de type circuit pour les composants en SiC présente une extrême importance pour l’analyse et la conception de circuits de convertisseurs, en particulier, si une comparaison avec les composants en Si est établie. Le travail réalisé au cours de cette thèse, consiste à caractériser électriquement plusieurs versions de JFET-SiC pour des températures comprises entre 25°C et 225°C. Les caractérisations sont basées sur des mesures DC (Courant - Tension) en utilisant un traceur de caractéristiques, des mesures AC (Capacité - Tension) en utilisant un analyseur d’impédance et des mesures en commutation sur charge R-L (Résistive-Inductive). L’objectif est d’établir un modèle analytique du transistor JFET-SiCED. Ce modèle est basé sur l’analyse physique et comportementale du JFET en tenant compte de l’influence de la température et de la présence des deux canaux intrinsèques. Le modèle a été développé en langage VHDL-AMS et validé en régime statique ainsi qu’en dynamique en utilisant le simulateur SIMPLORER 7.0. La validation du modèle montre une excellente concordance entre les mesures et la simulation.

Book ETUDE DE LA GRAVURE DU CARBURE DE SILICIUM  APPLICATION A LA REALISATION DE COMPOSANTS DE PUISSANCE

Download or read book ETUDE DE LA GRAVURE DU CARBURE DE SILICIUM APPLICATION A LA REALISATION DE COMPOSANTS DE PUISSANCE written by FREDERIC.. LANOIS and published by . This book was released on 1997 with total page 223 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: EN ELECTRONIQUE, EN GENERAL, ET EN ELECTRONIQUE DE PUISSANCE, EN PARTICULIER, LES COMPOSANTS A BASE DE SILICIUM COMMENCENT A MONTRER DES LIMITES DIRECTEMENT IMPUTABLES AU MATERIAU. AVEC SES EXCELLENTES PROPRIETES PHYSIQUES, LE CARBURE DE SILICIUM (SIC) EST POTENTIELLEMENT UN CONCURRENT SERIEUX DU SILICIUM. LES RECENTS DEVELOPPEMENTS, EN CE QUI CONCERNE LA CROISSANCE DE CE MATERIAU, FONT DE LA FABRICATION DE DISPOSITIFS DE PUISSANCE EN SIC UN OBJECTIF A MOYEN TERME. DANS CE CADRE, LA MISE AU POINT D'UN PROCEDE DE GRAVURE EST IMPORTANTE PUISQU'ELLE INTERVIENT DANS LA REALISATION DE PROTECTIONS PERIPHERIQUES (MESA) ET DE CERTAINS COMPOSANTS (MOSFET EN TRANCHEE). LA GRAVURE A ETE REALISEE DANS UN REACTEUR DECR DANS UN MELANGE GAZEUX A BASE DE SF#6 ET D'O#2. UNE ETUDE PARAMETRIQUE A D'ABORD PERMIS LA DETERMINATION DES GRANDEURS PLASMA PERTINENTES : LA CONCENTRATION EN FLUOR ET LE BOMBARDEMENT IONIQUE. LE DEVELOPPEMENT D'UN MODELE PROPOSE DANS LA LITTERATURE A PERMIS D'ABOUTIR A UNE EXPRESSION MATHEMATIQUE DE LA VITESSE DE GRAVURE. LES PREDICTIONS DE CE MODELE ONT ETE CONFRONTEES AVEC LES RESULTATS EXPERIMENTAUX. LES SURFACES DE GRAVURE ONT ENSUITE ETE ETUDIEES D'UN POINT DE VUE MORPHOLOGIQUE, CHIMIQUE, ET ELECTRIQUE. LA RUGOSITE DES SURFACES AVANT ET APRES GRAVURE ONT ETE COMPAREES . UN PROCEDE DE CONTROLE DE LA PENTE DE LA GRAVURE A ETE MIS AU POINT. DES ANALYSES XPS ONT PERMIS DE COMPARER LES COMPOSITIONS CHIMIQUES DE LA SURFACE, AVANT ET APRES GRAVURE, POUR DEUX TYPES DE PLASMA (SF#6 PUR ET SF#6/O#2). ENFIN, DES CONDENSATEURS MOS ONT PERMIS DE CARACTERISER ELECTRIQUEMENT L'EFFET DE LA GRAVURE SUR LES SURFACES PLANES ET SUR LES FLANCS. LA SIMULATION ET LA REALISATION DE DIODES BIPOLAIRES PROTEGEES PAR MESA FONT L'OBJET DU DERNIER CHAPITRE. LES SIMULATIONS ELECTRIQUES DES COMPOSANTS ONT ETE REALISEES AVEC LES LOGICIELS TSUPREM4 ET MEDICI DE LA SOCIETE TMA. LA PROFONDEUR ET L'ANGLE DE LA GRAVURE ONT AINSI PU ETRE OPTIMISES. LES TENUES EN TENSION OBSERVEES SUR LES DIODES AINSI REALISEES ET LES SIMULATIONS ONT ETE COMPAREES. L'ORIGINE DES ECARTS A ETE DISCUTE AU MOYEN D'OBSERVATIONS AU MEB ET DE MESURES ELECTRIQUES.

Book Advanced Silicon Carbide Devices and Processing

Download or read book Advanced Silicon Carbide Devices and Processing written by Stephen Saddow and published by BoD – Books on Demand. This book was released on 2015-09-17 with total page 260 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Since the production of the first commercially available blue LED in the late 1980s, silicon carbide technology has grown into a billion-dollar industry world-wide in the area of solid-state lighting and power electronics. With this in mind we organized this book to bring to the attention of those well versed in SiC technology some new developments in the field with a particular emphasis on particularly promising technologies such as SiC-based solar cells and optoelectronics. We have balanced this with the more traditional subjects such as power electronics and some new developments in the improvement of the MOS system for SiC MOSFETS. Given the importance of advanced microsystems and sensors based on SiC, we also included a review on 3C-SiC for both microsystem and electronic applications.

Book   tude et mise en   uvre de modules de puissance MOSFET SiC pour leurs futures utilisations dans des convertisseurs ferroviaires

Download or read book tude et mise en uvre de modules de puissance MOSFET SiC pour leurs futures utilisations dans des convertisseurs ferroviaires written by Joseph Fabre and published by . This book was released on 2013 with total page 0 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Le Carbure de Silicium (SiC) va permettre de repousser les limites des convertisseurs dans trois directions : tenue en tension élevée, haute température de fonctionnement et forte vitesse de commutation. Aujourd'hui, les premiers modules MOSFET SiC sont disponibles sur le marché et semblent prometteurs. L'objectif de ces travaux de thèse consiste plus particulièrement à mettre en œuvre des montages permettant de caractériser ces premiers modules de puissance MOSFET SiC en vue de les utiliser dans les convertisseurs ferroviaires. Le premier chapitre est consacré à l'état de l'art d'une chaîne de traction de Tramway. C'est ce type de chaîne de traction sur lequel se concentrent les études des premières implantations de composants en SiC. Le deuxième chapitre présente un état de l'art des composants semi-conducteurs de puissance en SiC. Il rappelle tout d'abord les propriétés du matériau et détaille ensuite différentes structures de composants en SiC. Le troisième chapitre concerne les modélisations et les simulations de modules de puissance MOSFET SiC au sein d'une cellule de commutation. Les phases de commutation de ces composants sont étudiées en détail, les influences de différents paramètres sont mises en évidence et des simulations multi-physiques permettent de concevoir les bancs d'essais nécessaires à la caractérisation. Le quatrième chapitre présente les résultats des caractérisations statiques et dynamiques de modules de puissance MOSFET SiC. Ces résultats d'essai sont comparés à des modules IGBT Si de même calibre. Le cinquième chapitre est consacré à la mise en œuvre d'un banc d'essai utilisant la « méthode d'opposition ». Celui-ci permet de comparer les modules IGBT Si et les MOSFET SiC en fonctionnement onduleur grâce à des mesures électriques et calorimétriques. Le sixième et dernier chapitre présente des conclusions et donne des perspectives d'utilisation des composants MOSFET SiC dans les convertisseurs ferroviaires. Différents projets visant à utiliser des MOSFET SiC sur des applications ferroviaires y sont présentés.

Book Contribution    l optimisation d une technologie de composants hyperfr  quences r  alis  s en carbure de silicium  SIC

Download or read book Contribution l optimisation d une technologie de composants hyperfr quences r alis s en carbure de silicium SIC written by Anne-Sophie Royet and published by . This book was released on 2000 with total page 166 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: LE CARBURE DE SILICIUM (SIC) EST UN MATERIAU A LARGE BANDE INTERDITE COMBINANT UNE VITESSE DE SATURATION DES ELECTRONS ELEVEE, UN FORT CHAMP DE CLAQUAGE, UNE TRES BONNE CONDUCTIVITE THERMIQUE ET DE NOMBREUSES PROPRIETES SPECIFIQUES QUI EN FONT UN CANDIDAT DE CHOIX POUR REPOUSSER LES LIMITES DU SILICIUM (SI) ET DE L'ARSENIURE DE GALLIUM (ASGA), DANS LES DOMAINES DE LA PUISSANCE, DES HAUTES TEMPERATURES ET DES HAUTES FREQUENCES. CE TRAVAIL PRESENTE LA CARACTERISATION ET LA MODELISATION DE DISPOSITIFS SIC DEDIES EN PARTICULIER AUX APPLICATIONS HYPERFREQUENCES DE PUISSANCE. LES AVANTAGES DU SIC POUR CE TYPE D'APPLICATIONS SONT DETAILLES DANS LE PREMIER CHAPITRE. LA DESCRIPTION DES PRINCIPES DE MESURE EN HAUTE FREQUENCE EST AUSSI PRESENTEE. DANS LE SECOND CHAPITRE, NOUS AVONS CARACTERISE DES LIGNES DE TRANSMISSION COPLANAIRES REALISEES SUR DES SUBSTRATS SIC DE RESISTIVITES DIFFERENTES ET ANALYSE LES DIFFERENTS MODES DE PROPAGATION PRESENTS DANS CHAQUE STRUCTURE. LE TROISIEME CHAPITRE EST CONSACRE A L'ETUDE STATIQUE DES TRANSISTORS A EFFET DE CHAMP ET A CONTACT SCHOTTKY (MESFET). L'INFLUENCE DES EFFETS D'AUTOECHAUFFEMENT SUR LES CARACTERISTIQUES DES TRANSISTORS EST ANALYSEE. LE CHAPITRE IV CONCERNE PARTICULIEREMENT LES PERFORMANCES DES MESFET DANS LA GAMME 45 MHZ-18 GHZ. LA MODELISATION PETIT SIGNAL DE CES COMPOSANTS A PERMIS DE METTRE EN EVIDENCE L'INFLUENCE DES EFFETS D'AUTOECHAUFFEMENT SUR LES PERFORMANCES HYPERFREQUENCES. DANS LE DERNIER CHAPITRE, UNE ETUDE EN BRUIT BASSE FREQUENCE (

Book Conception et caract  risation de diodes en SiC pour la d  termination des coefficients d ionisation

Download or read book Conception et caract risation de diodes en SiC pour la d termination des coefficients d ionisation written by Duy Minh Nguyen and published by . This book was released on 2011 with total page 0 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Le carbure de silicium (SiC) possède plusieurs propriétés exceptionnelles comme une large bande interdite, un champ électrique critique et une vitesse de saturation des porteurs élevée pour remplacer le silicium (Si) dans des domaines de fonctionnement jusque-là inaccessibles avec le Si. Un nombre important de démonstrateurs des composants de puissance en SiC faisant état de performances remarquables ainsi que la disponibilité commerciale des composants en SiC confirment la maturité de la filière SiC et montrent les progrès technologiques réalisés au cours des dernières années. Cependant, il existe peu d'études sur les coefficients d'ionisation du SiC, lesquels sont pourtant indispensables pour prévoir précisément la tenue en tension des composants de puissance en SiC. Ce travail contribue donc à mieux déterminer ces coefficients. Pour cela, un bon nombre de diodes spécialement conçues pour la détermination des coefficients d'ionisation du SiC par la technique OBIC (Optical Beam Induced Current) ont été réalisées sur différents wafers de SiC-4H et de SiC-6H, deux polytypes courant du SiC. Cette technique repose sur un faisceau de laser ultraviolet qui génère des paires électrons-trous dans la zone de charge d'espace d'une diode sous test. La mesure du courant résultant permet d'accéder aux coefficients d'ionisation. A partir des mesures OBIC sur les diodes réalisées, nous avons pu déduire les coefficients pour ces deux polytypes du SiC. Plus particulièrement, les coefficients d'ionisation du SiC-4H sont déterminés dans une large gamme de champ électrique grâce aux mesures sur les différents dopages. Les paramètres des coefficients déterminés dans ce travail peuvent être utilisés en conception de dispositifs haute tension pour prédire plus précisément l'efficacité de leur protection périphérique.