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Book CONTRIBUTION A L ETUDE DES CONTRASTES DE DIFFRACTION EN MICROSCOPIE ELECTRONIQUE A TRES HAUTE TENSION  APPLICATION AUX CONTOURS D EXTINCTION ET AUX DEFAUTS D EMPILEMENT

Download or read book CONTRIBUTION A L ETUDE DES CONTRASTES DE DIFFRACTION EN MICROSCOPIE ELECTRONIQUE A TRES HAUTE TENSION APPLICATION AUX CONTOURS D EXTINCTION ET AUX DEFAUTS D EMPILEMENT written by C.. PRUNIER MORY and published by . This book was released on 1973 with total page 31 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: INTRODUCTION, GRACE A LA THEORIE DYNAMIQUE, D'EQUATIONS PERMETTANT DE RENDRE COMPTE DU TRAJET DES ELECTRONS DANS LE CRISTAL PARFAIT ET DES INFORMATIONS RECUEILLIES A LA SORTIE DE CELUI-CI. REGLES DE CONTRASTE DES DEFAUTS D'EMPILEMENT EN HAUTE TENSION

Book Contribution    l   tude des contrastes en microscopie   lectronique    tr  s haute tension

Download or read book Contribution l tude des contrastes en microscopie lectronique tr s haute tension written by André Marc Rocher and published by . This book was released on 1973 with total page 20 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: ETUDE DE LA PENETRATION EN FONCTION DE LA TENSION ET DE L'ORIENTATION DANS DES ECHANTILLONS DE CUIVRE ET D'ALUMINIUM. ETUDE ET INTERPRETATION A PARTIR DE LA THEORIE DYNAMIQUE A N ONDES

Book Th  orie dynamique de la microscopie et diffraction   lectronique

Download or read book Th orie dynamique de la microscopie et diffraction lectronique written by Pierre Haymann and published by Presses universitaires de Rouen et du Havre. This book was released on 1974 with total page 148 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Ce livre est destiné à tous les chercheurs, qu'ils soient universitaires ou industriels, désireux de se mettre au courant des problèmes actuels posés en microscopie électronique, soit comme utilisateurs éventuels, soit comme lecteurs d'ouvrages spécia¬lisés utilisant le microscope électronique comme outil de travail. Dans ce but, un soin particulier a été apporté aux notations et le choix bibliographique permet une référence aux principaux articles.

Book Contribution    l   tude du contraste des objets amorphes en microscopie   lectronique

Download or read book Contribution l tude du contraste des objets amorphes en microscopie lectronique written by Paul Muchin and published by . This book was released on 1974 with total page 132 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:

Book Contribution    diverses   tudes th  oriques du contraste en microscopie   lectronique    transmission

Download or read book Contribution diverses tudes th oriques du contraste en microscopie lectronique transmission written by Noël Bonnet and published by . This book was released on 1976 with total page 266 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: LE PARAMETRE PRINCIPAL QUI GOUVERNE LE CONTRASTE DES IMAGES EST LA TENSION D'ACCELERATION. ON MONTRE TOUTEFOIS QUE LES PARAMETRES PROPRES DE L'ECHANTILLON (LE MOTIF CRISTALLIN ET LA TEMPERATURE EN PARTICULIER) PEUVENT AVOIR AUSSI UNE TRES GRANDE IMPORTANCE. LA SECONDE PARTIE EST CONSACREE A LA "THEORIE DU TRANSFERT" PAR LE MICROSCOPE ELECTRONIQUE. RECHERCHE DES CONDITIONS OPTIMALES DE VISIBILITE EN MICROSCOPIE A HAUTE RESOLUTION. DEUX TYPES D'APPLICATIONS: OBJETS DITS "DE PHASE FAIBLE" ET OBJETS CRISTALLINS.

Book Contribution    l   tude des contrastes en microscopie   lectronique    tr  s haute tension

Download or read book Contribution l tude des contrastes en microscopie lectronique tr s haute tension written by André Marc Rocher and published by . This book was released on with total page 0 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:

Book Contribution    l   tude en microscopie   lectronique de l influence des r  flexions accidentelles sur les contrastes de diffraction

Download or read book Contribution l tude en microscopie lectronique de l influence des r flexions accidentelles sur les contrastes de diffraction written by François Ajustron and published by . This book was released on 1974 with total page pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:

Book CONTRIBUTION DE LA MICROSCOPIE ELECTRONIQUE DES ECHANTILLONS VITRIFIES A L ETUDE STRUCTURALE STATIQUE ET DYNAMIQUE DES COMPOSANTS MUSCULAIRES ISOLES

Download or read book CONTRIBUTION DE LA MICROSCOPIE ELECTRONIQUE DES ECHANTILLONS VITRIFIES A L ETUDE STRUCTURALE STATIQUE ET DYNAMIQUE DES COMPOSANTS MUSCULAIRES ISOLES written by JEAN-FRANCOIS.. MENETRET and published by . This book was released on 1990 with total page pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: NOS OBSERVATIONS DES FILAMENTS MUSCULAIRES SE COMPOSENT DE DEUX PARTIES. NOUS AVONS TOUT D'ABORD VERIFIE QU'IL ETAIT POSSIBLE D'OBSERVER DES FILAMENTS SANS ALTERER LEUR STRUCTURE CONNUE PAR DES METHODES CONVENTIONNELLES D'ETUDE STRUCTURALE (LA DIFFRACTION DES RAYONS X OU LA COLORATION NEGATIVE). NOUS AVONS ENSUITE ABORDE L'ASPECT FONCTIONNEL DES FILAMENTS MUSCULAIRES C'EST-A-DIRE LE DEPLACEMENT MOLECULAIRE ENGENDRANT LA FORCE MUSCULAIRE. LA CONGELATION RAPIDE NOUS A PERMIS DE STOPPER CES PHENOMENES STRUCTURAUX DYNAMIQUES A DIFFERENTS TEMPS AFIN DE COMPRENDRE LEUR DEROULEMENT

Book ETUDE EN MICROSCOPIE ELECTRONIQUE EN TRANSMISSION DE JOINTS DE GRAINS DE FLEXION ET DE TORSION DANS LE SILICIUM PAR LA METHODE DES FRANGES

Download or read book ETUDE EN MICROSCOPIE ELECTRONIQUE EN TRANSMISSION DE JOINTS DE GRAINS DE FLEXION ET DE TORSION DANS LE SILICIUM PAR LA METHODE DES FRANGES written by MARCELLINE.. DEYEME OUEDRAOGO and published by . This book was released on 1990 with total page pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: DES JOINTS DE FLEXION ET DE TORSION EN ORIENTATION DE COINCIDENCE ONT ETE ETUDIES PAR LA METHODE DES FRANGES AFIN DE DETERMINER LA TRANSLATION ENTRE LES DEUX CRISTAUX ADJACENTS. LA DETERMINATION DU VECTEUR TRANSLATION DANS LA MACLE 3 211 A PERMIS DE CONFIRMER LES RESULTATS EXPERIMENTAUX (FRANGES ET MEHR) ET THEORIQUES (CALCULS ENERGETIQUES) DEJA PROPOSES ET DE MONTRER QUE CETTE TRANSLATION N'A PAS ETE SENSIBLE AU TRAITEMENT THERMIQUE EFFECTUE (950#OC-92 H). L'ANALOGIE DES CONTRASTES OBSERVES ENTRE LA MACLE ASYMETRIQUE 3 511//111 ET LA MACLE SYMETRIQUE 3 211 NOUS A AMENE A CONSIDERER QUE DANS LE JOINT 3 511//111, DES FACETTES 211 SONT A L'ORIGINE DE LA TRANSLATION. LE JOINT DE TORSION 9 OBSERVE EST FACETTE SELON LES PLANS 511 ET 410. L'EXISTENCE D'UNE TRANSLATION POUR CES FACETTES A ETE MISE EN EVIDENCE EN MET ET LA COMPARAISON ENTRE LES CONTRASTES OBSERVES SUR LES DEUX FACETTES MONTRE QU'ELLES ONT DES VECTEURS TRANSLATION DIFFERENTS. LA FACETTE 511 EST CARACTERISEE PAR UN VECTEUR TRANSLATION D'INDICES 1/67525#1//1/20102#2, DETERMINE A PARTIR DU POTENTIEL DE KEATING ET EN ACCORD AVEC LES PROFILS OBSERVES ET SIMULES

Book ETUDE PAR MICROSCOPIE ELECTRONIQUE EN TRANSMISSION DES PROCESSUS D ACCOMMODATION DES DISLOCATIONS EXTRINSEQUES DANS DES JOINTS DE GRAINS DE NICKEL

Download or read book ETUDE PAR MICROSCOPIE ELECTRONIQUE EN TRANSMISSION DES PROCESSUS D ACCOMMODATION DES DISLOCATIONS EXTRINSEQUES DANS DES JOINTS DE GRAINS DE NICKEL written by SOPHIE.. POULAT and published by . This book was released on 1997 with total page 235 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: L'OBJECTIF PRINCIPAL DE CE TRAVAIL EST L'ETUDE PAR MICROSCOPIE ELECTRONIQUE EN TRANSMISSION CONVENTIONNELLE (ASSOCIEE A LA TECHNIQUE DU CHAMP FAIBLE) ET PAR MICROSCOPIE ELECTRONIQUE IN SITU, SOUS RECUIT, DES MECANISMES D'ACCOMMODATION DE DISLOCATIONS EXTRINSEQUES DANS DES JOINTS DE GRAINS S'ECARTANT DE LA SINGULARITE. CES PROCESSUS JOUENT UN ROLE IMPORTANT DANS LA DEFORMATION A CHAUD DES MATERIAUX. LES EXPERIENCES ONT ETE REALISEES SUR DES JOINTS PROVENANT DE BICRISTAUX 3 111, 11 311 ET 11 332 DE NICKEL ELABORES PAR SOLIDIFICATION PROGRESSIVE. L'ETUDE DES PROCESSUS D'ACCOMMODATION NECESSITE LA CONNAISSANCE PREALABLE DE LA STRUCTURE D'EQUILIBRE DU JOINT DE GRAINS. CETTE STRUCTURE EST CONNUE POUR LES JOINTS 3 111 ET 11 311 MAIS PAS POUR LE JOINT 11 332. UNE PREMIERE ETAPE DE CE TRAVAIL A DONC ETE D'ETUDIER PAR MICROSCOPIE ELECTRONIQUE A HAUTE RESOLUTION LA STRUCTURE ATOMIQUE DU JOINT 11 332. LES RESULTATS MONTRENT QUE : - LA STRUCTURE THEORIQUE DU JOINT 11 332 N'A ETE OBSERVEE QUE DANS UN ECHANTILLON PROCHE DU GERME BICRISTALLIN. - DANS LA PLUPART DES CAS, LE JOINT DE GRAINS SE MET PARALLELE A DES FACETTES ASYMETRIQUES. - EN GENERAL, LE JOINT 11 332 NE PRESENTE PAS D'ORDRE A LONGUE DISTANCE MAIS UN ORDRE A COURTE DISTANCE PERMETTANT DE DETECTER DES DISLOCATIONS EXTRINSEQUES DISCRETES. LES OBSERVATIONS EN MICROSCOPIE IN SITU SOUS RECUIT MONTRENT, DANS LES JOINTS 3 111 ET 11 311, L'INCORPORATION DANS LA STRUCTURE D'EQUILIBRE DU JOINT DE DISLOCATIONS EXTRINSEQUES INCLINEES PAR RAPPORT AU RESEAU INTRINSEQUES. DANS LES JOINTS PROCHES DE 11 332, L'ETALEMENT DU CONTRASTE DES DISLOCATIONS EXTRINSEQUES, OBSERVE EN CHAMP FAIBLE, SEMBLE PLUS CORRESPONDRE A UNE DELOCALISATION DU CUR DE LA DISLOCATION QU'A UNE DECOMPOSITION EN UN GRAND NOMBRE DE DISLOCATIONS DE PETITS VECTEURS DE BURGERS. CES RESULTATS POSENT LE PROBLEME DE LA DISTINCTION ENTRE UN JOINT DE CARACTERE VRAIMENT GENERAL EN FONCTION DE TOUS LES DEGRES DE LIBERTE GEOMETRIQUES ET UN JOINT QUI CONSERVE UN SINGULARITE MEME S'IL PRESENTE UN DEGRE DE COINCIDENCE ELEVE.

Book   mission de champ en microscopie   lectronique

Download or read book mission de champ en microscopie lectronique written by Michel Denizart and published by . This book was released on 1981 with total page 246 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: RAPPEL DES RESULTATS DE LA THEORIE DE L'EMISSION DE CHAMP PERMETTANT D'APPREHENDER LES PARAMETRES A CONTROLER POUR OBTENIR DES SOURCES FIABLES. SOLUTIONS PROPOSEES PAR LA MISE EN OEUVRE ET LE CONTROLE DU PROCESSUS EMISSIF. PROPRIETES ELECTROOPTIQUES DES CANONS TRIODES. ADAPTATION DU CANON SUR UNE COLONNE DE MICROSCOPE ELECTRONIQUE EQUIPE D'UN SYSTEME DISPERSIF DU TYPE CASTAING ET HENRY. RESULTATS RELATIFS A LA COHERENCE SPATIALE DE LA SOURCE ET AUX PHENOMENES DE DIFFRACTION PAR UN BORD D'ECRAN DUS AUX ELECTRONS DIFFUSES INELASTIQUEMENT PAR CET ECRAN

Book Soils and Sediments

    Book Details:
  • Author : Helene Paquet
  • Publisher : Springer Science & Business Media
  • Release : 2012-12-06
  • ISBN : 3642605257
  • Pages : 523 pages

Download or read book Soils and Sediments written by Helene Paquet and published by Springer Science & Business Media. This book was released on 2012-12-06 with total page 523 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Clays and soils are of great importance in various scientific fields, such as agriculture and environmental science, and in mineral deposits. Students and close collaborators of Georges Millot, the eminent French clay sedimentologist, have put together a book with topics ranging from weathering processes and diagenetic evalution of sediments to sedimentary mineral deposits. The book is of interest to practitioners, advanced students as well as teachers in the above fields.

Book Microscopie electronique selective en transmission   contribution a l etude de l ordre dans la matiere

Download or read book Microscopie electronique selective en transmission contribution a l etude de l ordre dans la matiere written by SERGE GALAUP and published by . This book was released on 1996 with total page 175 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: L'ADAPTATION SUR LES MICROSCOPES ELECTRONIQUES EN TRANSMISSION DE SYSTEMES DISPERSIFS EN ENERGIE D'ELECTRONS ET DE NOUVEAUX DISPOSITIFS DE DETECTION (SYSTEMES SCINTILLATEUR-PHOTOMULTIPLICATEUR, RESEAUX DE PHOTODIODES OU CCD) PERMET D'ENVISAGER UNE DETERMINATION QUANTITATIVE PRECISE DE LA CONTRIBUTION DES PROCESSUS DE DIFFUSION ELASTIQUE ET INELASTIQUE A LA FORMATION DES IMAGES ET DES DIAGRAMMES DE DIFFRACTION ELECTRONIQUE. ELLE CONSTITUE UNE ETAPE ESSENTIELLE POUR LA CONNAISSANCE DE L'ORDRE DANS LA MATIERE A L'ECHELLE ATOMIQUE. LE DEVELOPPEMENT RECENT DE SYSTEMES DE FILTRAGE D'IMAGES CONFIRME CET INTERET, CEPENDANT LES SYSTEMES PROPOSES RESTENT ONEREUX ET SONT ENCORE PEU ACCESSIBLES. A PARTIR D'UN SYSTEME DISPERSIF CONSTITUE D'UN PRISME MAGNETIQUE, DISPOSE SOUS LA COLONNE D'UN MICROSCOPE, NOUS AVONS DEVELOPPE UN SYSTEME DE FILTRAGE EN ENERGIE DES INTENSITES. IL EST EXPLOITABLE LORSQUE L'INFORMATION UTILE EST DISTRIBUEE SUIVANT UNE DIRECTION COMME C'EST LE CAS DANS LES DIAGRAMMES DE DIFFRACTION ELECTRONIQUE OU DANS LES IMAGES DE RESEAUX DE FRANGES ET D'INTERFACES. DANS NOTRE MONTAGE LE MICROSCOPE EST PILOTE PAR UN MICROORDINATEUR QUI PERMET DE COMMANDER LA DEFLEXION DU DIAGRAMME OU DE L'IMAGE DEVANT L'OUVERTURE D'ENTREE DU SPECTROMETRE UTILISE COMME MONOCHROMATEUR. CET ORDINATEUR EST INTERFACE AVEC LE SPECTROMETRE POUR L'ACQUISITION ET LE TRAITEMENT DES DONNEES. LE SYSTEME DE COMPTAGE SCINTILLATEUR-PHOTOMULTIPLICATEUR POSSEDE UNE DYNAMIQUE SUFFISAMMENT LARGE (6 DECADES) POUR PERMETTRE LE TRAITEMENT DE LA PLUPART DES TYPES DE PROFILS D'INTENSITE OBTENUS A PARTIR DES IMAGES OU DES DIAGRAMMES. LE SYSTEME PEUT ETRE UTILISE POUR ETUDIER LES PROCESSUS DE DIFFUSION ELASTIQUE ET INELASTIQUE ET LEUR CONTRIBUTION A LA FORMATION DES IMAGES ET DES DIAGRAMMES DE DIFFRACTION. UNE DES APPLICATIONS IMPORTANTES DE CE DISPOSITIF CONCERNE LA DETERMINATION DE L'ORDRE A COURTE DISTANCE DANS LES MATERIAUX AMORPHES OU POLYCRISTALLINS. ELLE PEUT ETRE FAITE AVEC UNE PRECISION DE 3.10#-#3 NM POUR DES VALEURS DE CES DISTANCES ALLANT JUSQU'A 1,2 NM. ELLE A ETE UTILISEE POUR L'ETUDE DE MATERIAUX CERAMIQUES.

Book Contribution    l   tude des interfaces cristallines

Download or read book Contribution l tude des interfaces cristallines written by Saïda Kaddour (auteur en métallurgie).) and published by . This book was released on 1986 with total page 0 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Analyse du comportement phenomenologique du composite eutectique lamellaire al-al::(2)cu soumis a des experiences de cisaillement a chaud, en fluage et en relaxation de contraintes. Observation en microscopie electronique d'une grande homogeneite des glissements aux joints de phase. Identification par simulation numerique des contrastes de dislocations dans un microscope electronique en transmission des defauts a l'interface cristalline

Book Microscopie   lectronique s  lective en transmission  Contribution    l   tude de l ordre dans la mati  re

Download or read book Microscopie lectronique s lective en transmission Contribution l tude de l ordre dans la mati re written by Serge Galaup and published by . This book was released on 1996 with total page 161 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: L'ADAPTATION SUR LES MICROSCOPES ELECTRONIQUES EN TRANSMISSION DE SYSTEMES DISPERSIFS EN ENERGIE D'ELECTRONS ET DE NOUVEAUX DISPOSITIFS DE DETECTION (SYSTEMES SCINTILLATEUR-PHOTOMULTIPLICATEUR, RESEAUX DE PHOTODIODES OU CCD) PERMET D'ENVISAGER UNE DETERMINATION QUANTITATIVE PRECISE DE LA CONTRIBUTION DES PROCESSUS DE DIFFUSION ELASTIQUE ET INELASTIQUE A LA FORMATION DES IMAGES ET DES DIAGRAMMES DE DIFFRACTION ELECTRONIQUE. ELLE CONSTITUE UNE ETAPE ESSENTIELLE POUR LA CONNAISSANCE DE L'ORDRE DANS LA MATIERE A L'ECHELLE ATOMIQUE. LE DEVELOPPEMENT RECENT DE SYSTEMES DE FILTRAGE D'IMAGES CONFIRME CET INTERET, CEPENDANT LES SYSTEMES PROPOSES RESTENT ONEREUX ET SONT ENCORE PEU ACCESSIBLES. A PARTIR D'UN SYSTEME DISPERSIF CONSTITUE D'UN PRISME MAGNETIQUE, DISPOSE SOUS LA COLONNE D'UN MICROSCOPE, NOUS AVONS DEVELOPPE UN SYSTEME DE FILTRAGE EN ENERGIE DES INTENSITES. IL EST EXPLOITABLE LORSQUE L'INFORMATION UTILE EST DISTRIBUEE SUIVANT UNE DIRECTION COMME C'EST LE CAS DANS LES DIAGRAMMES DE DIFFRACTION ELECTRONIQUE OU DANS LES IMAGES DE RESEAUX DE FRANGES ET D'INTERFACES. DANS NOTRE MONTAGE LE MICROSCOPE EST PILOTE PAR UN MICROORDINATEUR QUI PERMET DE COMMANDER LA DEFLEXION DU DIAGRAMME OU DE L'IMAGE DEVANT L'OUVERTURE D'ENTREE DU SPECTROMETRE UTILISE COMME MONOCHROMATEUR. CET ORDINATEUR EST INTERFACE AVEC LE SPECTROMETRE POUR L'ACQUISITION ET LE TRAITEMENT DES DONNEES. LE SYSTEME DE COMPTAGE SCINTILLATEUR-PHOTOMULTIPLICATEUR POSSEDE UNE DYNAMIQUE SUFFISAMMENT LARGE (6 DECADES) POUR PERMETTRE LE TRAITEMENT DE LA PLUPART DES TYPES DE PROFILS D'INTENSITE OBTENUS A PARTIR DES IMAGES OU DES DIAGRAMMES. LE SYSTEME PEUT ETRE UTILISE POUR ETUDIER LES PROCESSUS DE DIFFUSION ELASTIQUE ET INELASTIQUE ET LEUR CONTRIBUTION A LA FORMATION DES IMAGES ET DES DIAGRAMMES DE DIFFRACTION. UNE DES APPLICATIONS IMPORTANTES DE CE DISPOSITIF CONCERNE LA DETERMINATION DE L'ORDRE A COURTE DISTANCE DANS LES MATERIAUX AMORPHES OU POLYCRISTALLINS. ELLE PEUT ETRE FAITE AVEC UNE PRECISION DE 3.10#-#3 NM POUR DES VALEURS DE CES DISTANCES ALLANT JUSQU'A 1,2 NM. ELLE A ETE UTILISEE POUR L'ETUDE DE MATERIAUX CERAMIQUES