Download or read book Acquisition et traitement de donn es issues de nano objets en microscopie lectronique transmission written by Sébastien Pairis and published by . This book was released on 2003 with total page 105 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:

Download or read book UN SYSTEME INFORMATIQUE POUR L ACQUISITION ET LE TRAITEMENT DES DONNEES EN MICROSCOPIE ELECTRONIQUE written by Marcel Tencé and published by . This book was released on 1987 with total page 108 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: GESTION DES PARAMETRES D'ACQUISITION DES DONNEES A TRAVERS LE CONTROLE DE CERTAINES COMMANDES DU MICROSCOPE ARCHIVAGE DES RESULTATS ET LEUR TRAITEMENT A POSTERIORI. APPLICATION A LA DETERMINATION EN LIGNE DE LA DIMENSION FRACTALE DE FAMILLES D'AGREGATS

Download or read book Mesure de d formation l chelle nanom trique par microscopie lectronique en transmission written by Armand Béché and published by . This book was released on 2009 with total page 188 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Ce travail de thèse est basé sur l'étude des déformations dans les matériaux à l'échelle nanométrique. En effet, depuis une dizaine voire une quinzaine d'années, le développement de nouveaux matériaux structuraux ou destinés à l'industrie de la microélectronique nécessite la maîtrise des phénomènes de déformation à une telle échelle. La demande de caractérisation se trouve donc en forte croissance, avec des contraintes de plus en plus forte en termes de résolution spatiale et de sensibilité en déformation. La mise au point et/ou l'amélioration de techniques repondant à ces critères est donc nécessaire. Le microscope électronique en transmission étant l'un des seuls instruments capables de mesurer quantitativement des déformations à l'échelle nanométrique, quatre différentes techniques liées à cet appareil ont été étudiées : la technique des moirés, la diffraction en faisceau convergent, la nanodiffraction et l'holographie en champ sombre. La disponibilité du microscope de dernière génération FEI Titan a permis d'obtenir des résultats marquants pour chacune de ces techniques. Les quatre techniques étudiées font l'objet d'une étude poussée sur leur résolution, leur sensibilité en déformation, leurs limites d'utilisation, leur mode d'acquisition et les contraintes qu'elles imposent dans la préparation d'échantillons. Ainsi, la technique des moirés possède une résolution de l'ordre de la vingtaine de nanomètre avec une sensibilité de 4.10^-4 mais nécessite des échantillons particuliers. La diffraction en faisceau convergent est la technique possédant la meilleure résolution spatiale (1 à 2 nm) combinée à une excellente sensibilité en déformation (2.10^-4). Cependant, l'inhomogénéité du champ de déplacement dans l'épaisseur de l'échantillon, phénomène très présent dans les lames minces, rend cette méthode difficile à utiliser de façon courante. La nanodiffraction est probablement la technique la plus facile à mettre en place et s'applique à la plus grande partie des matériaux ou objets. Elle possède une résolution intéressante (jusqu'à 3 nm) mais une sensibilité en déformation limitée à 6.10^-4 dans le meilleur des cas. Pour finir, l'holographie en champ sombre, technique très récente, offre une bonne résolution (autour de 4 ou 5 nm) avec une excellente sensibilité en déformation (2.10^-4). Ces quatre techniques sont comparées entre elles sur des échantillons le permettant.

Download or read book Microscopie electronique selective en transmission contribution a l etude de l ordre dans la matiere written by SERGE GALAUP and published by . This book was released on 1996 with total page 175 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: L'ADAPTATION SUR LES MICROSCOPES ELECTRONIQUES EN TRANSMISSION DE SYSTEMES DISPERSIFS EN ENERGIE D'ELECTRONS ET DE NOUVEAUX DISPOSITIFS DE DETECTION (SYSTEMES SCINTILLATEUR-PHOTOMULTIPLICATEUR, RESEAUX DE PHOTODIODES OU CCD) PERMET D'ENVISAGER UNE DETERMINATION QUANTITATIVE PRECISE DE LA CONTRIBUTION DES PROCESSUS DE DIFFUSION ELASTIQUE ET INELASTIQUE A LA FORMATION DES IMAGES ET DES DIAGRAMMES DE DIFFRACTION ELECTRONIQUE. ELLE CONSTITUE UNE ETAPE ESSENTIELLE POUR LA CONNAISSANCE DE L'ORDRE DANS LA MATIERE A L'ECHELLE ATOMIQUE. LE DEVELOPPEMENT RECENT DE SYSTEMES DE FILTRAGE D'IMAGES CONFIRME CET INTERET, CEPENDANT LES SYSTEMES PROPOSES RESTENT ONEREUX ET SONT ENCORE PEU ACCESSIBLES. A PARTIR D'UN SYSTEME DISPERSIF CONSTITUE D'UN PRISME MAGNETIQUE, DISPOSE SOUS LA COLONNE D'UN MICROSCOPE, NOUS AVONS DEVELOPPE UN SYSTEME DE FILTRAGE EN ENERGIE DES INTENSITES. IL EST EXPLOITABLE LORSQUE L'INFORMATION UTILE EST DISTRIBUEE SUIVANT UNE DIRECTION COMME C'EST LE CAS DANS LES DIAGRAMMES DE DIFFRACTION ELECTRONIQUE OU DANS LES IMAGES DE RESEAUX DE FRANGES ET D'INTERFACES. DANS NOTRE MONTAGE LE MICROSCOPE EST PILOTE PAR UN MICROORDINATEUR QUI PERMET DE COMMANDER LA DEFLEXION DU DIAGRAMME OU DE L'IMAGE DEVANT L'OUVERTURE D'ENTREE DU SPECTROMETRE UTILISE COMME MONOCHROMATEUR. CET ORDINATEUR EST INTERFACE AVEC LE SPECTROMETRE POUR L'ACQUISITION ET LE TRAITEMENT DES DONNEES. LE SYSTEME DE COMPTAGE SCINTILLATEUR-PHOTOMULTIPLICATEUR POSSEDE UNE DYNAMIQUE SUFFISAMMENT LARGE (6 DECADES) POUR PERMETTRE LE TRAITEMENT DE LA PLUPART DES TYPES DE PROFILS D'INTENSITE OBTENUS A PARTIR DES IMAGES OU DES DIAGRAMMES. LE SYSTEME PEUT ETRE UTILISE POUR ETUDIER LES PROCESSUS DE DIFFUSION ELASTIQUE ET INELASTIQUE ET LEUR CONTRIBUTION A LA FORMATION DES IMAGES ET DES DIAGRAMMES DE DIFFRACTION. UNE DES APPLICATIONS IMPORTANTES DE CE DISPOSITIF CONCERNE LA DETERMINATION DE L'ORDRE A COURTE DISTANCE DANS LES MATERIAUX AMORPHES OU POLYCRISTALLINS. ELLE PEUT ETRE FAITE AVEC UNE PRECISION DE 3.10#-#3 NM POUR DES VALEURS DE CES DISTANCES ALLANT JUSQU'A 1,2 NM. ELLE A ETE UTILISEE POUR L'ETUDE DE MATERIAUX CERAMIQUES.

Download or read book Contribution de la nanoindentation in situ en Microscopie Electronique en Transmission l tude des c ramiques written by Emilie Calvié and published by . This book was released on 2012 with total page 0 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: La connaissance du comportement et des propriétés des matériaux est d'une grande importance pour optimiser leur mise en forme et adapter leur utilisation. Pour étudier ces propriétés de nombreuses techniques sont couramment utilisées : les essais de traction, la microindentation, la nanoindentation instrumentée... Aujourd'hui, un intérêt particulier est porté sur les nanomatériaux et matériaux nanostructurés car ils présentent souvent des propriétés différentes et plus intéressantes. La nanoindentation instrumentée, notamment, permet de déterminer des paramètres matériaux de manière locale. Cependant, le comportement en temps réel ne peut être observé et l'échantillon ne doit pas être de dimension trop faible (typiquement, l'étude de nanoparticules n'est pas envisageable). Le principal atout de la nanoindentation in situ en Microscopie Electronique en Transmission vis-à-vis des autres techniques existantes est la possibilité d'étudier le comportement de nano-objets ou des comportements très locaux et en temps réel, tout en observant les transformations subies par le matériau. Dans cette étude, nous avons évalué les potentialités de cette nouvelle technique via l'analyse de céramiques très étudiées au laboratoire notamment en tant que biomatériaux : la zircone stabilisée et l'alumine. Dans le cas de la zircone (stabilisée à l'yttrium ou au cérium), le but était de localiser à l'échelle nanométrique les contraintes responsables ou inhérentes à la transformation de phase quadratique-monoclinique, phénomène ayant une très grande influence sur les propriétés du matériau massif. Pour ce faire, après avoir déterminé une technique de préparation adaptée, nous proposons une voie d'étude pour la localisation des contraintes liées à la transformation de phase : le CBED (Convergent Beam Electron Diffraction) couplé à la nanoindentation in situ. Dans le cas de l'alumine, l'objectif était d'étudier le matériau (commercial et non un matériau modèle) dans sa forme originelle à savoir sous forme de nanoparticules d'alumine de transition. L'idée était d'étudier le comportement de ces nanoparticules sous compression. Nous avons notamment constaté que ces particules pouvaient subir une grande déformation plastique à température ambiante. Nous avons pu également, sur quelques particules, obtenir une série d'images en cours de compression ainsi que la courbe de charge-déplacement correspondante. Ces résultats ont ensuite été soumis à une analyse des images couplée à une simulation de type Eléments Finis (réalisées par le LAMCOS).

Download or read book Tomographie lectronique analytique written by Julien Sorel and published by . This book was released on 2020 with total page 189 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Ce travail porte sur l'automatisation du traitement des données de tomographie électronique analytique appliquée aux nano-dispositifs électroniques. La technique utilisée est la spectroscopie de dispersion en énergie des rayons-X en mode balayage en microscopie électronique en transmission (STEM-EDX : Scanning Transmission Electron Microscopy, Energy Dispersive X-ray spectroscopy). Si la tomographie électronique STEM-EDX a bénéficié d'avancées technologiques récentes, comme de nouvelles sources électroniques 'X'-FEG (Field Emission Gun) et des détecteurs X sensibles, les SDD (Silicon Drift Detectors), elle reste chronophage avec une statistique de comptage souvent faible pour éviter des durées prohibitives et une dégradation de l'échantillon par irradiation électronique. L'empilement des projections STEM-EDX, acquises sous différents angles d'inclinaison, est par ailleurs très volumineux et les logiciels commerciaux actuels ne peuvent pas le traiter automatiquement et de manière optimale. Pour améliorer cette situation, nous avons développé un programme utilisant la librairie Hyperspy en langage python, dédiée au traitement de données multi-dimensionnelles. L'analyse statistique multivariée permet d'optimiser et d'automatiser le débruitage des données, la calibration des spectres et la séparation des raies d'émission X superposées pour l'obtention de reconstructions tridimensionnelles quantitatives. Une technique de reconstruction avancée, l'acquisition comprimée, a aussi été mise en œuvre, diminuant le nombre de projections sans réduire l'information 3D finale. La méthode développée a été utilisée pour l'analyse chimique 3D de quatre nanostructures issues de la microélectronique : des transistors FET multi-grilles, HEMT et GAA, et un film mince GeTe. Les échantillons ont été taillés en pointe par FIB (Focused Ion Beam: Faisceau d'ions focalisés), et les données obtenues sur un microscope Titan Themis muni d'un système à 4 détecteurs SDD. L'évaluation du programme atteste qu'il permet d'obtenir des résultats précis et fiables sur les architectures 3D étudiées. Des pistes d'améliorations sont discutées en perspective d'un futur logiciel dédié au traitement de données en tomographie électronique analytique.

Download or read book Microscopie lectronique s lective en transmission Contribution l tude de l ordre dans la mati re written by Serge Galaup and published by . This book was released on 1996 with total page 161 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: L'ADAPTATION SUR LES MICROSCOPES ELECTRONIQUES EN TRANSMISSION DE SYSTEMES DISPERSIFS EN ENERGIE D'ELECTRONS ET DE NOUVEAUX DISPOSITIFS DE DETECTION (SYSTEMES SCINTILLATEUR-PHOTOMULTIPLICATEUR, RESEAUX DE PHOTODIODES OU CCD) PERMET D'ENVISAGER UNE DETERMINATION QUANTITATIVE PRECISE DE LA CONTRIBUTION DES PROCESSUS DE DIFFUSION ELASTIQUE ET INELASTIQUE A LA FORMATION DES IMAGES ET DES DIAGRAMMES DE DIFFRACTION ELECTRONIQUE. ELLE CONSTITUE UNE ETAPE ESSENTIELLE POUR LA CONNAISSANCE DE L'ORDRE DANS LA MATIERE A L'ECHELLE ATOMIQUE. LE DEVELOPPEMENT RECENT DE SYSTEMES DE FILTRAGE D'IMAGES CONFIRME CET INTERET, CEPENDANT LES SYSTEMES PROPOSES RESTENT ONEREUX ET SONT ENCORE PEU ACCESSIBLES. A PARTIR D'UN SYSTEME DISPERSIF CONSTITUE D'UN PRISME MAGNETIQUE, DISPOSE SOUS LA COLONNE D'UN MICROSCOPE, NOUS AVONS DEVELOPPE UN SYSTEME DE FILTRAGE EN ENERGIE DES INTENSITES. IL EST EXPLOITABLE LORSQUE L'INFORMATION UTILE EST DISTRIBUEE SUIVANT UNE DIRECTION COMME C'EST LE CAS DANS LES DIAGRAMMES DE DIFFRACTION ELECTRONIQUE OU DANS LES IMAGES DE RESEAUX DE FRANGES ET D'INTERFACES. DANS NOTRE MONTAGE LE MICROSCOPE EST PILOTE PAR UN MICROORDINATEUR QUI PERMET DE COMMANDER LA DEFLEXION DU DIAGRAMME OU DE L'IMAGE DEVANT L'OUVERTURE D'ENTREE DU SPECTROMETRE UTILISE COMME MONOCHROMATEUR. CET ORDINATEUR EST INTERFACE AVEC LE SPECTROMETRE POUR L'ACQUISITION ET LE TRAITEMENT DES DONNEES. LE SYSTEME DE COMPTAGE SCINTILLATEUR-PHOTOMULTIPLICATEUR POSSEDE UNE DYNAMIQUE SUFFISAMMENT LARGE (6 DECADES) POUR PERMETTRE LE TRAITEMENT DE LA PLUPART DES TYPES DE PROFILS D'INTENSITE OBTENUS A PARTIR DES IMAGES OU DES DIAGRAMMES. LE SYSTEME PEUT ETRE UTILISE POUR ETUDIER LES PROCESSUS DE DIFFUSION ELASTIQUE ET INELASTIQUE ET LEUR CONTRIBUTION A LA FORMATION DES IMAGES ET DES DIAGRAMMES DE DIFFRACTION. UNE DES APPLICATIONS IMPORTANTES DE CE DISPOSITIF CONCERNE LA DETERMINATION DE L'ORDRE A COURTE DISTANCE DANS LES MATERIAUX AMORPHES OU POLYCRISTALLINS. ELLE PEUT ETRE FAITE AVEC UNE PRECISION DE 3.10#-#3 NM POUR DES VALEURS DE CES DISTANCES ALLANT JUSQU'A 1,2 NM. ELLE A ETE UTILISEE POUR L'ETUDE DE MATERIAUX CERAMIQUES

Download or read book Microscopie lectronique transmission en haute r solution num rique et quantitative written by Henri Souchay and published by . This book was released on 1999 with total page 199 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Dans le contexte actuel de la microscopie à transmission quantitative a haute résolution, ce travail se propose de faire le lien entre les manipulations expérimentales et les analyses quantitatives auxquelles elles peuvent donner lieu. Pour y parvenir, trois éléments sont nécessaires : une théorie de la formation de l'image qui puisse donner lieu à des calculs numériques assez rapides ; un détecteur d'images électroniques performant ; et un outil logiciel permettant l'acquisition et le traitement des images, leur comparaison avec des simulations et les outils de base pour des reconstructions. Les principaux aspects de la formation d'image en haute résolution sont repris dans le premier chapitre, avec des rappels importants, et un calcul de l'image développe jusqu'aux effets non linéaires et la cohérence partielle pour des défauts cristallins. Dans le second chapitre, après un état de l'art des capteurs d'images électroniques, la propagation est décrite en détail, notamment les effets de l'étalement du signal sur sa variance. Le résultat montre que le bruit crée par la double scintillation était jusque-là sous-estime. Le développement d'une caméra, associe à ce travail, permet de présenter les méthodes de caractérisation de ce type de capteur, en insistant sur la distinction entre le transfert du bruit et du signal. Enfin, le dernier chapitre présente un cahier des charges pour le logiciel et explicite certains des algorithmes utilises, avant de proposer quelques applications : corrections du transfert dans la camera, alignement d'images, et application de la méthode des phases géométriques

Download or read book D veloppement d algorithmes de m trologie d di s la caract risation de nano objets partir d informations h t rog nes written by Alexandre Derville and published by . This book was released on 2018 with total page 0 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Ces travaux de thèse s'inscrivent dans le contexte technico/économique des nanomatériaux notamment les nanoparticules et les copolymères. Aujourd'hui, une révolution technologique est en cours avec l'introduction de ces matériaux dans des matrices plus ou moins complexes présentes dans notre quotidien (santé, cosmétique, bâtiment, agroalimentaire...). Ces matériaux confèrent à ces produits des propriétés uniques (mécanique, électrique, chimique, thermique, ...). Cette omniprésence associée aux enjeux économiques engendre deux problématiques liées au contrôle des procédés de fabrication et à la métrologie associée. La première est de garantir une traçabilité de ces nanomatériaux afin de prévenir tout risque sanitaire et environnemental et la seconde est d'optimiser le développement des procédés afin de pérenniser des filières économiques rentables. Pour cela, les deux techniques les plus courantes de métrologie utilisées sont : la microscopie électronique à balayage (MEB) et la microscopie à force atomique (AFM).Le premier volet des travaux est consacré au développement d'une méthodologie de fusion de données permettant d'analyser automatiquement les données en provenance de chaque microscope et d'utiliser leurs points forts respectifs afin de réduire les incertitudes de mesure en trois dimensions. Une première partie a été consacrée à la correction d'un défaut majeur d'asservissement de l'AFM qui génère des dérives et/ou sauts dans les signaux. Nous présentons une technique dirigée par les données permettant une correction de ces signaux. La méthode présentée a l'avantage de ne pas faire d'hypothèses sur les objets et leurs positions. Elle peut être utilisée en routine automatique pour l'amélioration du signal avant l'analyse des objets.La deuxième partie est consacrée au développement d'une méthode d'analyse automatique des images de nanoparticules sphériques en provenance d'un AFM ou d'un MEB. Dans le but de développer une traçabilité en 3D, il est nécessaire d'identifier et de mesurer les nanoparticules identiques qui ont été mesurées à la fois sur l'AFM et sur le MEB. Afin d'obtenir deux estimations du diamètre sur la même particule physique, nous avons développé une technique qui permet de mettre en correspondance les particules. Partant des estimations pour les deux types de microscopie, avec des particules présentes dans les deux types d'images ou non, nous présentons une technique qui permet l'agrégation d'estimateurs sur les populations de diamètres afin d'obtenir une valeur plus fiable des propriétés du diamètre des particules.Le second volet de cette thèse est dédié à l'optimisation d'un procédé de fabrication de copolymères à blocs (structures lamellaires) afin d'exploiter toutes les grandeurs caractéristiques utilisées pour la validation du procédé (largeur de ligne, période, rugosité, taux de défauts) notamment à partir d'images MEB afin de les mettre en correspondance avec un ensemble de paramètres de procédé. En effet, lors du développement d'un nouveau procédé, un plan d'expériences est effectué. L'analyse de ce dernier permet d'estimer manuellement une fenêtre de procédé plus ou moins précise (estimation liée à l'expertise de l'ingénieur matériaux). L'étape est réitérée jusqu'à l'obtention des caractéristiques souhaitées. Afin d'accélérer le développement, nous avons étudié une façon de prédire le résultat du procédé de fabrication sur l'espace des paramètres. Pour cela, nous avons étudié différentes techniques de régression que nous présentons afin de proposer une méthodologie automatique d'optimisation des paramètres d'un procédé alimentée par les caractéristiques d'images AFM et/ou MEB.Ces travaux d'agrégations d'estimateurs et d'optimisation de fenêtre de procédés permettent d'envisager le développement d'une standardisation d'analyse automatique de données issues de MEB et d'AFM en vue du développement d'une norme de traçabilité des nanomatériaux.

Download or read book Terra 2008 written by Leslie Rainer and published by Getty Publications. This book was released on 2011-06-14 with total page 438 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Earthen architecture constitutes one of the most diverse forms of cultural heritage and one of the most challenging to preserve. It dates from all periods and is found on all continents but is particularly prevalent in Africa, where it has been a building tradition for centuries. Sites range from ancestral cities in Mali to the palaces of Abomey in Benin, from monuments and mosques in Iran and Buddhist temples on the Silk Road to Spanish missions in California. This volume's sixty-four papers address such themes as earthen architecture in Mali, the conservation of living sites, local knowledge systems and intangible aspects, seismic and other natural forces, the conservation and management of archaeological sites, research advances, and training.

Download or read book ICREEC 2019 written by Ahmed Belasri and published by Springer Nature. This book was released on 2020-06-10 with total page 659 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: This book highlights peer reviewed articles from the 1st International Conference on Renewable Energy and Energy Conversion, ICREEC 2019, held at Oran in Algeria. It presents recent advances, brings together researchers and professionals in the area and presents a platform to exchange ideas and establish opportunities for a sustainable future. Topics covered in this proceedings, but not limited to, are photovoltaic systems, bioenergy, laser and plasma technology, fluid and flow for energy, software for energy and impact of energy on the environment.

Download or read book An Introduction to Surface Analysis by XPS and AES written by John F. Watts and published by John Wiley & Sons. This book was released on 2019-08-27 with total page 307 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Provides a concise yet comprehensive introduction to XPS and AES techniques in surface analysis This accessible second edition of the bestselling book, An Introduction to Surface Analysis by XPS and AES, 2nd Edition explores the basic principles and applications of X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) and Auger Electron Spectroscopy (AES) techniques. It starts with an examination of the basic concepts of electron spectroscopy and electron spectrometer design, followed by a qualitative and quantitative interpretation of the electron spectrum. Chapters examine recent innovations in instrument design and key applications in metallurgy, biomaterials, and electronics. Practical and concise, it includes compositional depth profiling; multi-technique analysis; and everything about samples—including their handling, preparation, stability, and more. Topics discussed in more depth include peak fitting, energy loss background analysis, multi-technique analysis, and multi-technique profiling. The book finishes with chapters on applications of electron spectroscopy in materials science and the comparison of XPS and AES with other analytical techniques. Extensively revised and updated with new material on NAPXPS, twin anode monochromators, gas cluster ion sources, valence band spectra, hydrogen detection, and quantification Explores key spectroscopic techniques in surface analysis Provides descriptions of latest instruments and techniques Includes a detailed glossary of key surface analysis terms Features an extensive bibliography of key references and additional reading Uses a non-theoretical style to appeal to industrial surface analysis sectors An Introduction to Surface Analysis by XPS and AES, 2nd Edition is an excellent introductory text for undergraduates, first-year postgraduates, and industrial users of XPS and AES.

Download or read book Cyclodextrins and Their Complexes written by Helena Dodziuk and published by John Wiley & Sons. This book was released on 2006-08-21 with total page 507 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Offering comprehensive and up-to-date know-how in one compact book, an experienced editor and top authors cover every aspect of these important molecules from molecular recognition to cyclodextrins as enzyme models. Chapters include reactivity and chemistry, chromatography, X-ray, NMR plus other physicochemical methods, as well as model calculations, rotaxane and catenane structures, and applications in the pharmaceutical industry. The book also discusses other applications such as in the cosmetics, toiletries, textile and wrapping industries, agrochemistry, electrochemical sensors, and devices. A must for everyone working with these substances.

Download or read book Physical Principles of Electron Microscopy written by Ray Egerton and published by Springer Science & Business Media. This book was released on 2011-02-11 with total page 224 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Scanning and stationary-beam electron microscopes are indispensable tools for both research and routine evaluation in materials science, the semiconductor industry, nanotechnology and the biological, forensic, and medical sciences. This book introduces current theory and practice of electron microscopy, primarily for undergraduates who need to understand how the principles of physics apply in an area of technology that has contributed greatly to our understanding of life processes and "inner space." Physical Principles of Electron Microscopy will appeal to technologists who use electron microscopes and to graduate students, university teachers and researchers who need a concise reference on the basic principles of microscopy.

Download or read book Poly lactic acid Science and Technology written by Alfonso Jiménez and published by Royal Society of Chemistry. This book was released on 2015 with total page 374 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: A comprehensive overview of the synthesis, characterisation, properties and applications of poly(lactic acid) science and technology covering scientific, ecological, social and economic issues.

Download or read book Properties of UO2 written by J. Belle and published by . This book was released on 1957 with total page 146 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:

Download or read book Model Cellulosic Surfaces written by Maren Roman and published by OUP USA. This book was released on 2010-04-08 with total page 0 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: This book provides an overview of the different methods of model cellulosic surface preparation and presents recent studies on the properties of these surfaces. The topics covered are considered relatively new and would serve as the launch pad for further research in this area.