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Book Etude des Metaux Par Microscopie Electronique en Transmission

Download or read book Etude des Metaux Par Microscopie Electronique en Transmission written by and published by Ed. Techniques Ingénieur. This book was released on with total page 8 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:

Book Etude par microscopie lectronique et diffraction de rayons X des m canismes de formation de l oxyde dans les alliages argent magn sium

Download or read book Etude par microscopie lectronique et diffraction de rayons X des m canismes de formation de l oxyde dans les alliages argent magn sium written by Alice Becquart-Gallissian and published by . This book was released on 2000 with total page 112 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: L'oxydation interne est un moyen idéal pour suivre une réaction de précipitation à partir des premiers stades Jusqu'à a phase oxyde. Nous avons ainsi étudié les mécanismes de formation et la morphologie de l' oxyde, précipités de MgO ou bandes d'oxydes parallèles à la surface lors de cette reaction dans les alliages Ag-Mg. Les techniques principales d'investigations ont été la microscopie electronique en Transmission Conventionnelle (METC) et Haute Résolution (METHR), Spectrométrie de pertes d'énergie des électrons (EELS), la Diffraction de rayons X la Microscope électronique à balayage (MEB) et la Spectrométrie de rayons X en dispersion d énergie (EDS). Nous avons mis en évidence, pour la première fois, l'existence de deux types de précipitation : inter et intragranulaire dans ce système. De plus, nous avons montré que le meilleur moyen d obtenir des interfaces métal/oxyde bien définies, passe par la formation de précipités cohérents et leur croissance. On obtient ainsi des précipités de forme octaédrique présentant des plans d' accolement (111) avec la matrice. L'analyse chimique par EELS montre l' existence des liaisons de type Ag-O-Mg à l'interface...

Book ETUDE PAR MICROSCOPIE ELECTRONIQUE ET SPECTROSCOPIE DE PERTES D ENERGIE DE PETITES PARTICULES METALLIQUES SUR SUPPORT OXYDE

Download or read book ETUDE PAR MICROSCOPIE ELECTRONIQUE ET SPECTROSCOPIE DE PERTES D ENERGIE DE PETITES PARTICULES METALLIQUES SUR SUPPORT OXYDE written by ELISABETH.. LEFEVRE and published by . This book was released on 1992 with total page pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: LA COMPREHENSION ET LA MAITRISE DE LA REACTIVITE CHIMIQUE D'UN SYSTEME DE PARTICULES METALLIQUES SUR SUPPORT OXYDE IMPLIQUE DE CARACTERISER AU NIVEAU ATOMIQUE LA STRUCTURE ET CHIMIE DE SES CONSTITUANTS. NOUS AVONS DONC UTILISE LA MICROSCOPIE ELECTRONIQUE A BALAYAGE EN TRANSMISSION ET LA SPECTROSCOPIE DES PERTES D'ENERGIE A HAUTE RESOLUTION SPATIALE POUR ETUDIER LES PROPRIETES ELECTRONIQUES DU CATALYSEUR NI/CEO#2 LSA. L'ETUDE A ETE CONCENTREE SUR LES SIGNAUX DE L'OXYGENE, DU CERIUM ET DU NICKEL, LEURS INTENSITES RESPECTIVES PERMETTANT D'EVALUER LA COMPOSITION LOCALE, ET DE VISUALISER AINSI LA REDUCTION DE CEO#2 EN UN COMPOSE SUBSTCHIOMETRIQUE CEO#X SOUS LE FAISCEAU D'ELECTRONS. SIMULTANEMENT, NOUS AVONS OBSERVE UN CHANGEMENT DES STRUCTURES FINES DU SEUIL O-K ET DE LA RESONANCE PRINCIPALE DU SEUIL CE-N#4#5, ET UNE INVERSION DE L'INTENSITE DES PICS CE-M#5 ET M#4. LES OBJECTIFS INITIAUX DE L'ETUDE (DETECTION D'UN TRANSFERT DE CHARGES ENTRE METAL ET SUPPORT PAR ANALYSE DES STRUCTURES FINES EN SPECTROSCOPIE EELS) ETAIENT DONC EN PARTIE MASQUES PAR CES EFFETS D'IRRADIATION. L'INTERPRETATION DES STRUCTURES FINES CONSISTE EN L'ANALYSE DU SEUIL O-K DE CEO#2 DANS UNE APPROCHE D'ORBITALES MOLECULAIRES (INFORMATION SUR LA SYMETRIE LOCALE ET LE TYPE D'ORBITALES OCCUPEES), SES STRUCTURES ELNES (5-40 EV AU-DESSUS DU SEUIL) ET EXELFS (40-200 EV AU-DESSUS DU SEUIL) NOUS INFORMANT SUR L'ENVIRONNEMENT DU SITE EXCITE. L'ETUDE DES SEUILS CEN#4#5 ET M#4#5 NOUS A RENSEIGNES SUR L'OCCUPATION DES ORBITALES F DANS LES ETATS FONDAMENTAL ET EXCITE. DE PLUS, NOUS AVONS PU REVELER DES COMPORTEMENTS TYPIQUES AUX INTERFACES: UN CONTACT PROPRE EN GENERAL, AVEC PARFOIS PRESENCE DE COMPOSES INTERMEDIAIRES (NIO) ASSOCIES A UNE REDUCTION DE L'OXYDE DE CERIUM. EN CONCLUSION, CETTE ETUDE A PERMIS DE DEFINIR LES OUTILS DISPONIBLES POUR UNE CARACTERISATION SPECTROSCOPIQUE LOCALE DES INTERFACES. L'ETAPE SUIVANTE CONSISTERA A LES UTILISER SUR UN SYSTEME MODELE METAL/OXYDE, AVANT D'ABORDER EFFICACEMENT LES SITUATIONS COMPLEXES DES CATALYSEURS A CARACTERE PLUS INDUSTRIEL

Book Etude par microscopie lectronique en transmission et diffraction des rayons X des ph nom nes de d collement aux interfaces barri re de diffusion TiN Ti di lectrique

Download or read book Etude par microscopie lectronique en transmission et diffraction des rayons X des ph nom nes de d collement aux interfaces barri re de diffusion TiN Ti di lectrique written by Lahouari Fares and published by . This book was released on 2000 with total page 73 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: CE TRAVAIL PORTE SUR LA RECHERCHE DE L'ORIGINE DE DECOLLEMENTS QUI SE PRODUISENT EN FIN DE FABRICATION DE CERTAINS CIRCUITS INTEGRES ELABORES PAR ATMEL-ES2. CES DECOLLEMENTS, SURVENANT A L'INTERFACE TI/DIELECTRIQUE LORS D'UNE MONTEE EN TEMPERATURE (SIO 2 OU BPSG = VERRE BOROPHOSPHOSILICATE), SONT PLUS NOMBREUX LORSQUE LE DIELECTRIQUE EST DU BPSG. AFIN DE COMPRENDRE CETTE DIFFERENCE DE COMPORTEMENT, NOUS AVONS REALISE UNE ETUDE COMPARATIVE EN FONCTION DU DIELECTRIQUE, AVANT ET APRES RECUIT, PAR DIFFRACTION DES RAYONS X (MICROSTRUCTURE DES COUCHES CRISTALLINES) ET MICROSCOPIE ELECTRONIQUE EN TRANSMISSION COUPLEE A LA SPECTROSCOPIE D'ELECTRONS EN PERTES D'ENERGIE ET A LA SPECTROSCOPIE DE RAYONS X EN DISPERSION D'ENERGIE (CARACTERISATION DES INTERFACES, DES NANOPHASES FORMEES LORS DU RECUIT). LA DIFFERENCE FONDAMENTALE OBSERVEE EST LA REACTIVITE A L'INTERFACE TI/DIELECTRIQUE : DANS LE CAS DU BPSG, LA FORMATION DE TI 5SI 3 EST PRECEDEE DE CELLE D'UNE COUCHE AMORPHE ENRICHIE EN P. LE TI 5SI 3 SE FORME CETTE FOIS-CI PAR REACTION ENTRE LE TI ET CETTE COUCHE AMORPHE. LA CINETIQUE DE CROISSANCE DU TI 5SI 3 AU DETRIMENT DE LA COUCHE AMORPHE EST AINSI FORTEMENT RALENTIE PAR RAPPORT A LA REACTION TI/SIO 2. OR, LA FORMATION D'UN SILICIURE DE TITANE, A L'INTERFACE TI/DIELECTRIQUE, EST UN MOYEN CONNU D'AMELIORER L'ADHESION. AINSI, L'EXISTENCE DE CETTE COUCHE AMORPHE EN FIN DE FABRICATION DES COMPOSANTS CONSTITUE UNE FAIBLESSE POUVANT CONDUIRE A UNE DELAMINATION. EN CONCLUSION, LA MICROSCOPIE ELECTRONIQUE COUPLEE A L'ANALYSE CHIMIQUE A L'ECHELLE ATOMIQUE NOUS A PERMIS, POUR LA PREMIERE FOIS A NOTRE CONNAISSANCE, D'IDENTIFIER, D'UN POINT DE VUE CHIMIQUE ET STRUCTURAL, LA COUCHE RESPONSABLE DES DECOLLEMENTS AUX INTERFACES TI/BPSG.

Book Microscopie lectronique balayage et microanalyses

Download or read book Microscopie lectronique balayage et microanalyses written by François Brisset and published by EDP Sciences. This book was released on 2012-12-04 with total page 930 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Aussi bien essentielle dans les milieux académiques qu'industriels, la microscopie électronique à balayage et les microanalyses associéessont au coeur de la recherche scientifique et industrielle. L'ensemble des bases théoriques, les principales caractéristiques techniques, ainsi que des compléments pratiques d'utilisation et d'entretien liés à ces disciplines sont développés dans cet ouvrage. Les microscopes électroniques sous haut vide ou vide contrôlé sont exposées profondément, les microanalyses EDS et WDS de dernières générations également. À coté de ces piliers structurants, d'autres techniques d'analyse ou d'observation sont abordées, telles l'analyse EBSD et l'imagerie 3D, le FIB, les simulations de Monte-Carlo et les essais in-situ, etc. Ce volume en langue française est le seul traitant du sujet de façon aussi exhaustive ; il représente la version actualisée et totalement refondue d'une précédente édition de 1979 aujourd'hui épuisée ; il regroupe enfin les cours dispensés lors de l'école d'été de Saint Martin d'Hères en 2006, organisée par le Groupement National de Microscopie Électronique à Balayage et de microAnalyses (GN-MEBA). Ce livre est particulièrement recommandé aux expérimentateurs mais intéressera aussi les spécialistes en science des matériaux (durs ou mous, conducteurs ou non-conducteurs, stratifiés, etc.) désireux de s'investir dans toutes ces techniques d'imagerie et d'analyse, afin d'en exploiter pleinement les forts potentiels. Il a été écrit par les enseignants de l'école d'été, tous chercheurs ou ingénieurs et spécialistes dans leur domaine. Cet ouvrage s'inscrit dans une collection de publications du GN-MEBA consacrée aux principes, aux techniques expérimentales et aux méthodes de calcul et de simulation en Microscopie Électronique à Balayage et en microanalyses.

Book Etude par les techniques avanc es de microscopie lectronique en transmission de mat riaux fragiles

Download or read book Etude par les techniques avanc es de microscopie lectronique en transmission de mat riaux fragiles written by Dris Ihiawakrim and published by . This book was released on 2019 with total page 0 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Le travail présenté dans ce manuscrit a montré l'importance du développement méthodologique et technique pour identifier et débloquer les verrous empêchant l'analyse de matériaux hybrides et complexes qui se dégradent sous irradiation par un faisceau d'électrons. Nous avons mis en évidence que des dégâts sur l'échantillon produits par les électrons n'apparaissent qu'au-dessus d'un certain seuil de densité de courant électronique qui dépend de la nature du matériau et de ses caractéristiques morphologiques et structurales. Ces développements couplés à la Cryo-EM, nous ont permis de mettre en évidence l'architecture des matériaux hybrides à base de carbone, la variation de la distance lamellaire dans une pérovskite en fonction de la molécule insérée et le positionnement du métal, d'identifier les interactions à l'interface entre deux cristaux moléculaires et la quantification 3D de la fonctionnalisation d'un MOF. Dans la dernière partie, nous avons mis en évidence les processus de nucléation et de croissance d'oxyde de fer par MET in-situ en phase liquide.

Book tude g om trique structurale et chimique par microscopie lectronique en transmission de joints de grains de surface dans Si

Download or read book tude g om trique structurale et chimique par microscopie lectronique en transmission de joints de grains de surface dans Si written by Karine Rousseau and published by . This book was released on 2002 with total page 424 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:

Book RELATIONS MATIERES ORGANIQUES METAUX U V N

Download or read book RELATIONS MATIERES ORGANIQUES METAUX U V N written by Sylvie Bonnamy and published by . This book was released on 1981 with total page 85 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: LES TECHNIQUES UTILISEES SONT LA MICROSCOPIE ELECTRONIQUE PAR TRANSMISSION ET L'ANALYSE DES PHOTONS X EMIS PAR L'ECHANTILLON. LES RELATIONS MATIERE CARBONEE-URANIUM SONT ETUDIEES DANS DES ECHANTILLONS PROVENANT DE CLUFF (CANADA) ET D'ARBIT (NIGER). LES RELATIONS MATIERE CARBONEE-VANADIUM ET NICKEL SONT ETUDIEES DANS DES PRODUITS PETROLIERS LOURDS

Book Etude structurale en microscopie lectronique en transmission d h t rostructures GaAs Compos m tallique GaAs pitaxi es par jets mol culaires

Download or read book Etude structurale en microscopie lectronique en transmission d h t rostructures GaAs Compos m tallique GaAs pitaxi es par jets mol culaires written by Béatrice Guenais and published by . This book was released on 1993 with total page 268 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Les hétérostructures élaborées par épitaxie par jets moléculaires (EJM) et comportant soit une épitaxie métallique simple (M) sur semiconducteur III-V (SC), soit une épitaxie métallique enterrée (SC/M/SC), présentent un intérêt potentiel considérable en micro-électronique. Cependant l'association de matériaux aussi dissemblables sur le plan cristallographique et chimique fait peser de lourdes contraintes sur le choix du composé métallique et les conditions d'élaboration de ce type de structures. Parmi les techniques de caractérisation nécessaires à l'optimisation des paramètres de croissance, la microscopie électronique en transmission (MET) est une technique de choix pour étudier l'influence des conditions de croissance sur la qualité cristalline des couches minces épitaxiées. Nous présentons dans ce travail la contribution de la MET à la définition des critères de choix du métal, à l'optimisation de la croissance des matériaux retenus, à l'appréciation de la qualité structurale des couches épitaxiées et des interfaces. Deux familles de composés ont été étudiées : la famille métal de transition-élément III (MT-III), et la famille Terre rare-élément V (TR-V). Nous montrons certaines réalisations très prometteuses, de structures comportant une couche métallique accordée au substrat (composé ternaire de la famille TR-V : Sc0, 2Yb0, 8As), et mettons en lumière certaines difficultés qui subsistent, notamment au niveau des reprises d'épitaxie. Plusieurs techniques de MET ont été mises en oeuvre : la diffraction d'électrons pour étudier les relations d'orientation entre la couche déposée et le substrat, et identifier certaines phases présentées en très haute quantités : la microscopie conventionnelle pour décrire la morphologie des couches et des interfaces, et étudier les défauts structuraux (dislocations, défauts plans, défauts de symétrie) ; enfin la technique haute résolution pour caractériser les interfaces à l'échelle atomique

Book Examen au microscope electronique en transmission de bulles de gaz rare dans les m taux analyse des effets de contraste observ s

Download or read book Examen au microscope electronique en transmission de bulles de gaz rare dans les m taux analyse des effets de contraste observ s written by Viviane Levy and published by . This book was released on 1964 with total page 12 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:

Book Caract risation microstructurale des mat riaux

Download or read book Caract risation microstructurale des mat riaux written by Damien Jacob and published by . This book was released on 2010 with total page 86 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: La microscopie électronique en transmission (MET) est un outil puissant et polyvalent pour les analyses microstructurales des matériaux à l’échelle nanométrique. Sur la même zone d’observation, on peut réaliser une image de la microstructure et de ses défauts, en faire une analyse chimique et une détermination structurale en diffraction. Mon activité de recherche porte sur le développement de méthodes de caractérisation par diffraction électronique quantitative. Par « quantitative », nous entendons la mesure absolue ou relative des intensités diffractées et leur comparaison à des grandeurs simulées. Concernant les matériaux semiconducteurs, mes recherches ont porté sur la mesure des déformations dans les nanostructures épitaxiées. Dans ces systèmes, les champs de déformation jouent un rôle prépondérant sur les propriétés de maintien (mécanique) et sur les propriétés d’usage (opto-électroniques, transport). Il est donc important de les caractériser avec précision. Nous avons développé des méthodes de mesure originales basées sur l’analyse des intensités électroniques recueillies en diffraction en faisceau convergent conventionnel et à grand angle (CBED et LACBED). Les développements récents portent sur la caractérisation des phases cristallines et de leurs défauts structuraux dans les minéraux. Dans ces matériaux, de cristallochimie souvent complexe, l’analyse quantitative des intensités diffractées permet notamment de discerner des phases cristallographiquement proches ou de révéler les relations d’orientation existant entre des domaines voisins. Ceci est essentiel aux analyses microstructurales locales et à leur interprétation en vue de déterminer les conditions de pression et de température ayant prévalu à leur formation. Mon apport dans le domaine est essentiellement basé sur l’utilisation de la précession électronique. Dans le domaine de la minéralogie, un autre type d’étude a été mené parallèlement aux précédentes. Il s’agit de l’analyse des échantillons cométaires provenant de la mission « Stardust » de la NASA. Pour ces études, on utilise toutes les techniques de MET disponibles pour révéler la nature et les mécanismes possibles de formation des échantillons observés: micro-analyse X, imagerie conventionnelle et haute résolution, diffraction. Ma contribution a essentiellement porté sur l’analyse de la microstructure des pyroxènes, qui sont en général des traceurs fiables pour rendre compte du passé thermique et mécanique des minéraux.

Book Caract risation cristallographique et analyse chimique en microscopie lectronique en transmission de l eutectique orient lamellaire NiO ZrO2 CaO

Download or read book Caract risation cristallographique et analyse chimique en microscopie lectronique en transmission de l eutectique orient lamellaire NiO ZrO2 CaO written by Hamid Laroui and published by . This book was released on 1988 with total page 119 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: L'eutectique orienté lamellaire NiO-(ZrO2 ,CaO) a été élaboré par solidification dirigée dans un tour à image. Ses caractéristiques cristallographiques ont été étudiées par radiocristallographie et par diffraction des électrons :-par diffraction X, une relation d'orientation majoritaire (111)Nio // (100)zro2. [101]Nio // [001]zro2 a été mise en évidence-l'existence de cette relation, adoptée par 80% des couples de lamelles, a été confirmée, par diffraction électronique, et les caractéristiques de la population ont été analysées. Une seconde relation d'orientation correspondant à l'épitaxie (hkl)[uvw]Nio // (hkl)[uvw]zro2 a été observée.La stabilité relative des interfaces [(111)Nio//(100)zro2] dans le premier cas, mal définies dans le second a été interprétée en terme de modèle de coïncidence. Dans les deux cas la direction de croissance est contenue dans le plan inter lamellaire, mais n'est pas bien définie cristallographiquement.Par ailleurs, les lamelles de NiO et de ZrO2 ont été analysées en microscopie électronique à balayage en transmission (MEBT) à l'aide d'un spectromètre à dispersion d'énergie. Cette analyse a révélé la présence d'environ 3 à 5 % de Ni dans ZrO2 et, réciproquement, de Zr dans NiO. Ce résultat qui n'a pas été confirmé par spectroscopie de perte d'énergie d'électrons (EELS), a été attribué à un artefact lié à la technique de préparation des échantillons par bombardement ionique, qui provoque une redéposition des matériaux pulvérisés.

Book Initiation la microscopie lectronique par transmission

Download or read book Initiation la microscopie lectronique par transmission written by Société française de minéralogie et de cristallographie and published by . This book was released on 1987 with total page 437 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: