Download or read book tude de la structure de couches minces d or par diffraction r flexion diffusion de rayons X written by Marie-France Verhaeghe and published by . This book was released on 1973 with total page 455 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Etude de l'elargissement des raies de diffraction et des deformations elastiques du reseau des microcristaux. etude des rugosites des interfaces des couches minces par reflexion diffuse sous incidence rasante

Download or read book Etude par diffraction des rayons X de la formation d une couche de laiton par d p t d une couche de cuivre et de zinc et diffusion written by Bernard Bolle and published by . This book was released on 1994 with total page 164 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Cette étude présente les travaux réalisés pour analyser, par diffraction des rayons X, une couche de laiton obtenue par dépôt séquentiel de cuivre et de zinc et diffusion. Nous montrons que la diffraction des rayons X est une méthode d'analyse puissante des couches minces. Nous étendons le principe et les méthodes d'analyse quantitative de phases au cas des matériaux hétérogènes. Nous mettons en évidence l'importance du caractère hétérogène dans le calcul des proportions des phases des couches minces. Nous présentons la méthode de Houska de détermination du profil de concentration par simulation d'une raie de diffraction avec un nouveau formalisme permettant de systématiser la résolution (suppression de la méthode d'essai-erreur). Les résultats obtenus ont été confirmés par d'autres méthodes d'analyse. Ils nous ont permis d'étudier avec précision la transformation de phase. L'étude spécifique de nos matériaux nous a également conduit à développer une nouvelle méthode d'évaluation des contraintes internes applicables aussi bien dans le cas des couches minces que dans le cas des échantillons massifs. L'ensemble de ces outils permet une description fidèle et précise de l'état des matériaux au cours du processus de diffusion. Ils ont été appliqués avec succès au cas des couches laitonnées. Ce travail montre qu'il est possible d'utiliser la diffraction des rayons X pour déterminer les phases présentes ainsi que l'homogénéité de composition des phases. Nous montrons aussi qu'il est possible d'utiliser la diffraction des rayons X en contrôle de fabrication

Download or read book Sur l tude de la structure de couches minces m talliques par diffraction des rayons X et par microscopie et diffraction lectronique written by Madeleine Auvray Gandais and published by . This book was released on 1961 with total page pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:

Download or read book Journal de physique th orique et appliqu e written by and published by . This book was released on 1924 with total page 1284 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Beginning in 1920, contains section on bibliography and since 1928 minutes and résumeés of the society's proceedings, as well as other supplementary material (often separately paged).

Download or read book M thodes physiques d tude des min raux et des mat riaux solides written by Jean-Pierre Eberhart and published by . This book was released on 1976 with total page 532 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:

Download or read book Optica Acta written by and published by . This book was released on 1972 with total page 522 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:

Download or read book Handbook of Optics Volume III written by Optical Society of America and published by McGraw Hill Professional. This book was released on 2000-11-15 with total page 818 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: A new volume in the field's bestselling options reference--an entirely new opus focusing on x-ray, nonlinear, and vision optics. Provides the same mix of tutorial writing with in-depth reference material that distinguished Volumes I & II.

Download or read book Nouvelles m thodes d analyse par diffraction des rayons X des variations de texture dans les couches minces written by Kamal El Ghazouli and published by . This book was released on 1998 with total page 192 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Une méthode adoptant des stratégies de mesures différentes qui combine soit les techniques de Schulz et de faible incidence, soit des mesures goniometriques à épaisseur constante de pénétration des rayons X, est décrite pour déterminer les gradients de texture dans les couches minces. Cette nouvelle méthode, qui utilise une seule raie hkl de diffraction, est testée sur des échantillons possédant un gradient de texture artificiel connu : elle est appliquée à l'étude d'un gradient réel de texture d'une couche de la Zircone. Les résultats d'analyse quantitative de la texture par la méthode vectorielle sont présentés.

Download or read book Caract risation microstructurale des mat riaux written by Claude Esnouf and published by EPFL Press. This book was released on 2011-01-01 with total page 598 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Cet ouvrage présente de façons exhaustive et pédagogique les bases physiques et méthodologiques de caractérisation des matériaux basées sur l'utilisation des rayonnements X et électronique. Rédigé par l'un des meilleurs spécialistes francophones du domaine, les six chapitres de cet ouvrage couvrent l'ensemble de la discipline, depuis l'exposé du langage spécialisé de la cristallographie jusqu'aux méthodes fines impliquant les grands instruments scientifiques. Les méthodes basées sur l'usage du rayonnement X et du rayonnement électronique et mettant en oeuvre la diffraction ou l'imagerie sont exposées en détail, tout comme les nombreux modes d'imagerie électronique. Un chapitre entier est par ailleurs dévolu à la présentation des spectroscopies utiles tant à la caractérisation d'ordre chimique que celle d'ordre structural. Illustré de nombreux exemples et d'exercices résolus, ce manuel constitue une véritable référence pour les étudiants de second cycle d'écoles d'ingénieur, de Master, ainsi que pour les praticiens désireux d'approfondir leurs connaissances dans le domaine.

Download or read book Handbook of Optics Third Edition 5 Volume Set written by Optical Society of America and published by McGraw Hill Professional. This book was released on 2010-05-18 with total page 6122 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: The most comprehensive and up-to-date optics resource available Prepared under the auspices of the Optical Society of America, the five carefully architected and cross-referenced volumes of the Handbook of Optics, Third Edition, contain everything a student, scientist, or engineer requires to actively work in the field. From the design of complex optical systems to world-class research and development methods, this definitive publication provides unparalleled access to the fundamentals of the discipline and its greatest minds. Individual chapters are written by the world's most renowned experts who explain, illustrate, and solve the entire field of optics. Each volume contains a complete chapter listing for the entire Handbook, extensive chapter glossaries, and a wealth of references. This pioneering work offers unprecedented coverage of optics data, techniques, and applications. Volume I covers geometrical and physical optics, polarized light, components, and instruments. Volume II covers design, fabrications, testing, sources, detectors, radiometry, and photometry. Volume III, all in full color, covers vision and vision optics. Volume IV covers optical properties of materials, nonlinear optics, and quantum optics. Volume V covers atmospheric optics, modulators, fiber optics, and x-ray and neutron optics. Visit www.HandbookofOpticsOnline.com to search all five volumes and download a comprehensive index.

Download or read book Etude de la structure des couches minces d indium d pos es sous vide sur supports amorphes par diffraction de rayons X diffraction et microscopie lectronique written by Alain Marraud and published by . This book was released on 1966 with total page 96 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:

Download or read book Proceedings of the Second Colloquium on Thin Films Budapest 1967 written by Emil Hahn and published by . This book was released on 1968 with total page 652 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:

Download or read book Japanese Journal of Applied Physics written by and published by . This book was released on 1964 with total page 492 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:

Download or read book Contribution l tude de la r flexion et de la diffusion rasantes des rayons X par les surfaces et les couches minces written by Louis Névot (auteur d'une thèse de sciences.) and published by . This book was released on 1978 with total page 140 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:

Download or read book REFLECTIVITE ET DIFFRACTION DES RAYONS X APPLIQUEES AUX FILMS MINCES ORGANIQUES written by François Rieutord and published by . This book was released on 1987 with total page 151 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: DESCRIPTION D'UNE METHODE D'ANALYSE STRUCTURALE DE FILMS DE MOLECULES AMPHIPHILES (MONOCOUCHE, MULTICOUCHE DE LANGMUIR BLODGETT) UTILISANT TROIS TECHNIQUES CONJUGUEES DE RAYONS X: DIFFRACTION EN TRANSMISSION ET REFLEXION

Download or read book Etude des d fauts de structure par diffraction des rayons X sur poudres written by Olivier Masson and published by . This book was released on 1998 with total page 164 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: CE TRAVAIL PRESENTE LA MISE EN OEUVRE D'UN DIFFRACTOMETRE DE LABORATOIRE A OPTIQUE PARALLELE ET DE METHODES D'ANALYSE MICROSTRUCTURALE PAR DIFFRACTION DES RAYONS X ADAPTEES AUX MATERIAUX CERAMIQUES NANOMETRIQUES. NOUS AVONS ETUDIE LES ABERRATIONS INSTRUMENTALES DU MONTAGE AINSI QUE LEURS EFFETS SUR LA PRECISION ANGULAIRE ET EN INTENSITE ET PROPOSE DIFFERENTES METHODES DE CORRECTION. UNE ETUDE COMPLETE DES ERREURS DE STATISTIQUE D'ECHANTILLON A REVELE LES PROBLEMES POSES PAR LES FAIBLES DIMENSION ET DIVERGENCE EQUATORIALE DU FAISCEAU INCIDENT. LA FONCTION DE RESOLUTION INSTRUMENTALE A ETE DECRITE A L'AIDE DE CINQ ABERRATIONS PHYSIQUES ET GEOMETRIQUES : LES DIMENSION ET DIVERGENCE EQUATORIALES DU FAISCEAU INCIDENT, LA RESOLUTION SPATIALE DU DETECTEUR, LA DISPERSION SPECTRALE ET LA TRANSPARENCE DE L'ECHANTILLON. LE PROFIL INSTRUMENTAL QUANT A LUI A ETE PARFAITEMENT MODELISE PAR UNE TECHNIQUE DE SIMULATION PAR SUIVI DE RAYONS QUI PREND EN COMPTE TOUS LES RAYONS EMIS PAR LA SOURCE ET ATTEIGNANT LE DETECTEUR. CETTE METHODE PERMET D'ACCOMMODER PARFAITEMENT LA DISSYMETRIE DES RAIES DUE A LA DIVERGENCE AXIALE DES RAYONS. LA RESOLUTION ANGULAIRE EST PROCHE DU DIXIEME DE DEGRE. L'ANALYSE FINE DES PROFILS DE RAIES, ASSOCIEE A L'UTILISATION DE LA METHODE DE RIETVELD ET DE METHODES DE REGULARISATION, NOUS A PERMIS : - DE DETERMINER LA MORPHOLOGIE ET LA DISTRIBUTION EN TAILLE DE PARTICULES NANOMETRIQUES D'AEROGEL D'OXYDE DE TITANE ANATASE EN FONCTION DE LA TEMPERATURE DE CALCINATION DES POUDRES ; - DE METTRE EN EVIDENCE DES DIFFERENCES DE COMPORTEMENT VIS A VIS DE LA CRISTALLISATION DE DEUX PRECURSEURS SOL-GELS DE LA ZIRCONE, EN ETUDIANT NOTAMMENT L'EVOLUTION DES MICRODEFORMATIONS ET DE LA TETRAGONALITE DU RESEAU CRISTALLIN AVEC LA DIMENSION DES GRAINS ; - DE MESURER LES CONTRAINTES RESIDUELLES DANS UN MATERIAU COMPOSITE PARTICULAIRE DE SPINELLE-ZIRCONE.

Download or read book Etudes de couches minces par diffraction et fluorescence des rayons X en incidence tr s rasante written by Abdelmounim Bensaid and published by . This book was released on 1988 with total page 134 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: L'utilisation d'un faisceau RX en incidence très rasante permet d'éviter les effets dus au support. Application a la caractérisation de couches de si poreux. Au cours de cette étude : détermination de la densité en surface des couches, mise en évidence de la présence de pores et détermination de leur taille, étude de l'influence de ces pores sur le paramètre cristallin. L'étude de l'épitaxie si/corindon a montré la possibilité d'utiliser les RX en incidence rasante pour le trace de profils de densité en profondeur et pour l'étude des variations structurales à l'interface