Download or read book CONTRIBUTION AU DEVELOPPEMENT DE LA MICROSCOPIE ELECTRONIQUE ANALYTIQUE PAR UTILISATION QUANTITATIVE DE LA SPECTROSCOPIE DES PERTES D ENERGIE written by Pierre Trebbia and published by . This book was released on 1979 with total page 157 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: PRINCIPES GENERAUX DE LA SPECTROSCOPIE DES PERTES D'ENERGIE, ET DISPOSITIF EXPERIMENTAL. ANALYSE DES PERTES PROCHES, PUIS MICROANALYSE QUANTITATIVE, PAR UTILISATION DES PERTES LOINTAINES. LIMITES ACTUELLES ET PERSPECTIVES

Download or read book Contribution au d veloppement de la microscopie lectronique analytique par utilisation quantitative de la spectroscopie des pertes d nergie written by Pierre Trebbia (auteur d'une thèse de sciences.) and published by . This book was released on 1979 with total page 153 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:

Download or read book The Growth of Electron Microscopy written by and published by Academic Press. This book was released on 1996-08-05 with total page 919 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: As a complement to The Beginnings of Electron Microscopy, Advances in Imaging and Electron Physics is pleased to present Volume 96, The Growth of Electron Microscopy. This comprehensive collection of articles surveys the accomplishments of various national groups that comprise the International Federation of Societies of Electron Microscopy (IFSEM).

Download or read book Scanning Electron Microscopy written by and published by . This book was released on 1982 with total page 488 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Vols. for 1968-77 include the proceedings of the annual Scanning Electron Microscope Symposium, sponsored by the IIT Research Institute, and other workshops.

Download or read book Bulletin de Min ralogie written by and published by . This book was released on 1978 with total page 922 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:

Download or read book ETUDE PAR MICROSCOPIE ELECTRONIQUE ET SPECTROSCOPIE DE PERTES D ENERGIE DE PETITES PARTICULES METALLIQUES SUR SUPPORT OXYDE written by ELISABETH.. LEFEVRE and published by . This book was released on 1992 with total page pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: LA COMPREHENSION ET LA MAITRISE DE LA REACTIVITE CHIMIQUE D'UN SYSTEME DE PARTICULES METALLIQUES SUR SUPPORT OXYDE IMPLIQUE DE CARACTERISER AU NIVEAU ATOMIQUE LA STRUCTURE ET CHIMIE DE SES CONSTITUANTS. NOUS AVONS DONC UTILISE LA MICROSCOPIE ELECTRONIQUE A BALAYAGE EN TRANSMISSION ET LA SPECTROSCOPIE DES PERTES D'ENERGIE A HAUTE RESOLUTION SPATIALE POUR ETUDIER LES PROPRIETES ELECTRONIQUES DU CATALYSEUR NI/CEO#2 LSA. L'ETUDE A ETE CONCENTREE SUR LES SIGNAUX DE L'OXYGENE, DU CERIUM ET DU NICKEL, LEURS INTENSITES RESPECTIVES PERMETTANT D'EVALUER LA COMPOSITION LOCALE, ET DE VISUALISER AINSI LA REDUCTION DE CEO#2 EN UN COMPOSE SUBSTCHIOMETRIQUE CEO#X SOUS LE FAISCEAU D'ELECTRONS. SIMULTANEMENT, NOUS AVONS OBSERVE UN CHANGEMENT DES STRUCTURES FINES DU SEUIL O-K ET DE LA RESONANCE PRINCIPALE DU SEUIL CE-N#4#5, ET UNE INVERSION DE L'INTENSITE DES PICS CE-M#5 ET M#4. LES OBJECTIFS INITIAUX DE L'ETUDE (DETECTION D'UN TRANSFERT DE CHARGES ENTRE METAL ET SUPPORT PAR ANALYSE DES STRUCTURES FINES EN SPECTROSCOPIE EELS) ETAIENT DONC EN PARTIE MASQUES PAR CES EFFETS D'IRRADIATION. L'INTERPRETATION DES STRUCTURES FINES CONSISTE EN L'ANALYSE DU SEUIL O-K DE CEO#2 DANS UNE APPROCHE D'ORBITALES MOLECULAIRES (INFORMATION SUR LA SYMETRIE LOCALE ET LE TYPE D'ORBITALES OCCUPEES), SES STRUCTURES ELNES (5-40 EV AU-DESSUS DU SEUIL) ET EXELFS (40-200 EV AU-DESSUS DU SEUIL) NOUS INFORMANT SUR L'ENVIRONNEMENT DU SITE EXCITE. L'ETUDE DES SEUILS CEN#4#5 ET M#4#5 NOUS A RENSEIGNES SUR L'OCCUPATION DES ORBITALES F DANS LES ETATS FONDAMENTAL ET EXCITE. DE PLUS, NOUS AVONS PU REVELER DES COMPORTEMENTS TYPIQUES AUX INTERFACES: UN CONTACT PROPRE EN GENERAL, AVEC PARFOIS PRESENCE DE COMPOSES INTERMEDIAIRES (NIO) ASSOCIES A UNE REDUCTION DE L'OXYDE DE CERIUM. EN CONCLUSION, CETTE ETUDE A PERMIS DE DEFINIR LES OUTILS DISPONIBLES POUR UNE CARACTERISATION SPECTROSCOPIQUE LOCALE DES INTERFACES. L'ETAPE SUIVANTE CONSISTERA A LES UTILISER SUR UN SYSTEME MODELE METAL/OXYDE, AVANT D'ABORDER EFFICACEMENT LES SITUATIONS COMPLEXES DES CATALYSEURS A CARACTERE PLUS INDUSTRIEL

Download or read book Micromorphologie des sols written by Nicolas Fedoroff and published by . This book was released on 1987 with total page 718 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: ISSS congress

Download or read book Microscopie et spectroscopie lectroniques Application YBa2Cu3O7 delta written by Christine Grigis and published by . This book was released on 1997 with total page 189 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: LA MICROSCOPIE ELECTRONIQUE EN TRANSMISSION (MET) AVEC SES DERNIERS DEVELOPPEMENTS EN IMAGERIE HAUTE RESOLUTION (MEHR) ET EN SPECTROSCOPIE DE PERTES D'ENERGIE D'ELECTRONS (EELS) A ETE EXPLOITEE ET DEVELOPPEE POUR L'ETUDE DE L'ORDRE STRUCTURAL, DE LA COMPOSITION CHIMIQUE ET DE L'ETAT ELECTRONIQUE JUSQU'A L'ECHELLE ATOMIQUE DE COMPOSES Y#1BA#2CU#3O#7#-#. DANS LE CAS DE FILMS MINCES ELABORES PAR DEPOT CHIMIQUE EN PHASE VAPEUR A PARTIR DE COMPOSES ORGANOMETALLIQUES SUR DIFFERENTS SUBSTRATS ET POUR PLUSIEURS CONDITIONS D'ELABORATION, L'ETUDE DE LA TOPOLOGIE EN MET PUIS DE L'ARRANGEMENT ATOMIQUE LOCAL EN MEHR A PERMIS DE VISUALISER DIRECTEMENT L'ENSEMBLE DES IMPERFECTIONS STRUCTURALES ET/OU CHIMIQUES AU SEIN DU FILM ET A L'INTERFACE AVEC LE SUBSTRAT JUSQU'A L'ECHELLE DE LA LONGUEUR DE COHERENCE. DES CORRELATIONS AVEC LES GRANDEURS PHYSIQUES IMPORTANTES POUR LES APPLICATIONS A L'ELECTRONIQUE SUPRACONDUCTRICE ONT ETE PROPOSEES. EN EELS, NOUS AVONS DEVELOPPE L'ETUDE PARALLELE ET COMPLEMENTAIRE DES SIGNATURES ASSOCIEES A L'EXCITATION DES ELECTRONS FAIBLEMENT LIES ET DES ELECTRONS DES NIVEAUX ATOMIQUES PROFONDS. NOUS AVONS MIS AU POINT UN LOGICIEL D'ANALYSE A PARTIR D'UN TRAITEMENT DE KRAMERS-KRONIG DU SIGNAL AFIN D'ACCEDER A DES INFORMATIONS SUR LA DENSITE D'ETATS JOINTS ENTRE LES BANDES DE VALENCE ET DE CONDUCTION. AVEC UNE RESOLUTION D'ANALYSE D'UN ELECTRON-VOLT, NOUS AVONS ANALYSE LES STRUCTURES FINES PRES DES SEUILS D'EXCITATION O-K ET CU-L#2#,#3 ET CORRELE LES RESULTATS AUX ETATS INOCCUPES DU DIAGRAMME DE STRUCTURE DE BANDE. NOUS AVONS AUSSI EXPLOITE LES SIGNATURES DES PROCESSUS D'INTERACTION ELECTRONIQUE EN FONCTION DE LA QUANTITE DE MOUVEMENT TRANSFEREE CONTROLEE DANS L'EXPERIENCE EELS. L'APPLICATION A Y#1BA#2CU#3O#7#-# A PERMIS D'EVALUER , NOTAMMENT A PARTIR DE LA SIGNATURE DU PLASMON DE VOLUME, AINSI QUE DE REVELER L'ANISOTROPIE DES DISTRIBUTIONS ELECTRONIQUES ENTRE LE PLAN (A,B) ET LA DIRECTION C DE LA STRUCTURE ORTHORHOMBIQUE DE Y#1BA#2CU#3O#7#-#, A PARTIR DE L'ETUDE DU SEUIL O-K.

Download or read book MICROSCOPIE ET SPECTROSCOPIE ELECTRONIQUES written by CHRISTINE.. GRIGIS and published by . This book was released on 1997 with total page 189 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: LA MICROSCOPIE ELECTRONIQUE EN TRANSMISSION (MET) AVEC SES DERNIERS DEVELOPPEMENTS EN IMAGERIE HAUTE RESOLUTION (MEHR) ET EN SPECTROSCOPIE DE PERTES D'ENERGIE D'ELECTRONS (EELS) A ETE EXPLOITEE ET DEVELOPPEE POUR L'ETUDE DE L'ORDRE STRUCTURAL, DE LA COMPOSITION CHIMIQUE ET DE L'ETAT ELECTRONIQUE JUSQU'A L'ECHELLE ATOMIQUE DE COMPOSES Y#1BA#2CU#3O#7#-#. DANS LE CAS DE FILMS MINCES ELABORES PAR DEPOT CHIMIQUE EN PHASE VAPEUR A PARTIR DE COMPOSES ORGANOMETALLIQUES SUR DIFFERENTS SUBSTRATS ET POUR PLUSIEURS CONDITIONS D'ELABORATION, L'ETUDE DE LA TOPOLOGIE EN MET PUIS DE L'ARRANGEMENT ATOMIQUE LOCAL EN MEHR A PERMIS DE VISUALISER DIRECTEMENT L'ENSEMBLE DES IMPERFECTIONS STRUCTURALES ET/OU CHIMIQUES AU SEIN DU FILM ET A L'INTERFACE AVEC LE SUBSTRAT JUSQU'A L'ECHELLE DE LA LONGUEUR DE COHERENCE. DES CORRELATIONS AVEC LES GRANDEURS PHYSIQUES IMPORTANTES POUR LES APPLICATIONS A L'ELECTRONIQUE SUPRACONDUCTRICE ONT ETE PROPOSEES. EN EELS, NOUS AVONS DEVELOPPE L'ETUDE PARALLELE ET COMPLEMENTAIRE DES SIGNATURES ASSOCIEES A L'EXCITATION DES ELECTRONS FAIBLEMENT LIES ET DES ELECTRONS DES NIVEAUX ATOMIQUES PROFONDS. NOUS AVONS MIS AU POINT UN LOGICIEL D'ANALYSE A PARTIR D'UN TRAITEMENT DE KRAMERS-KRONIG DU SIGNAL AFIN D'ACCEDER A DES INFORMATIONS SUR LA DENSITE D'ETATS JOINTS ENTRE LES BANDES DE VALENCE ET DE CONDUCTION. AVEC UNE RESOLUTION D'ANALYSE D'UN ELECTRON-VOLT, NOUS AVONS ANALYSE LES STRUCTURES FINES PRES DES SEUILS D'EXCITATION O-K ET CU-L#2#,#3 ET CORRELE LES RESULTATS AUX ETATS INOCCUPES DU DIAGRAMME DE STRUCTURE DE BANDE. NOUS AVONS AUSSI EXPLOITE LES SIGNATURES DES PROCESSUS D'INTERACTION ELECTRONIQUE EN FONCTION DE LA QUANTITE DE MOUVEMENT TRANSFEREE CONTROLEE DANS L'EXPERIENCE EELS. L'APPLICATION A Y#1BA#2CU#3O#7#-# A PERMIS D'EVALUER , NOTAMMENT A PARTIR DE LA SIGNATURE DU PLASMON DE VOLUME, AINSI QUE DE REVELER L'ANISOTROPIE DES DISTRIBUTIONS ELECTRONIQUES ENTRE LE PLAN (A,B) ET LA DIRECTION C DE LA STRUCTURE ORTHORHOMBIQUE DE Y#1BA#2CU#3O#7#-#, A PARTIR DE L'ETUDE DU SEUIL O-K.

Download or read book Microscopie electronique selective en transmission contribution a l etude de l ordre dans la matiere written by SERGE GALAUP and published by . This book was released on 1996 with total page 175 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: L'ADAPTATION SUR LES MICROSCOPES ELECTRONIQUES EN TRANSMISSION DE SYSTEMES DISPERSIFS EN ENERGIE D'ELECTRONS ET DE NOUVEAUX DISPOSITIFS DE DETECTION (SYSTEMES SCINTILLATEUR-PHOTOMULTIPLICATEUR, RESEAUX DE PHOTODIODES OU CCD) PERMET D'ENVISAGER UNE DETERMINATION QUANTITATIVE PRECISE DE LA CONTRIBUTION DES PROCESSUS DE DIFFUSION ELASTIQUE ET INELASTIQUE A LA FORMATION DES IMAGES ET DES DIAGRAMMES DE DIFFRACTION ELECTRONIQUE. ELLE CONSTITUE UNE ETAPE ESSENTIELLE POUR LA CONNAISSANCE DE L'ORDRE DANS LA MATIERE A L'ECHELLE ATOMIQUE. LE DEVELOPPEMENT RECENT DE SYSTEMES DE FILTRAGE D'IMAGES CONFIRME CET INTERET, CEPENDANT LES SYSTEMES PROPOSES RESTENT ONEREUX ET SONT ENCORE PEU ACCESSIBLES. A PARTIR D'UN SYSTEME DISPERSIF CONSTITUE D'UN PRISME MAGNETIQUE, DISPOSE SOUS LA COLONNE D'UN MICROSCOPE, NOUS AVONS DEVELOPPE UN SYSTEME DE FILTRAGE EN ENERGIE DES INTENSITES. IL EST EXPLOITABLE LORSQUE L'INFORMATION UTILE EST DISTRIBUEE SUIVANT UNE DIRECTION COMME C'EST LE CAS DANS LES DIAGRAMMES DE DIFFRACTION ELECTRONIQUE OU DANS LES IMAGES DE RESEAUX DE FRANGES ET D'INTERFACES. DANS NOTRE MONTAGE LE MICROSCOPE EST PILOTE PAR UN MICROORDINATEUR QUI PERMET DE COMMANDER LA DEFLEXION DU DIAGRAMME OU DE L'IMAGE DEVANT L'OUVERTURE D'ENTREE DU SPECTROMETRE UTILISE COMME MONOCHROMATEUR. CET ORDINATEUR EST INTERFACE AVEC LE SPECTROMETRE POUR L'ACQUISITION ET LE TRAITEMENT DES DONNEES. LE SYSTEME DE COMPTAGE SCINTILLATEUR-PHOTOMULTIPLICATEUR POSSEDE UNE DYNAMIQUE SUFFISAMMENT LARGE (6 DECADES) POUR PERMETTRE LE TRAITEMENT DE LA PLUPART DES TYPES DE PROFILS D'INTENSITE OBTENUS A PARTIR DES IMAGES OU DES DIAGRAMMES. LE SYSTEME PEUT ETRE UTILISE POUR ETUDIER LES PROCESSUS DE DIFFUSION ELASTIQUE ET INELASTIQUE ET LEUR CONTRIBUTION A LA FORMATION DES IMAGES ET DES DIAGRAMMES DE DIFFRACTION. UNE DES APPLICATIONS IMPORTANTES DE CE DISPOSITIF CONCERNE LA DETERMINATION DE L'ORDRE A COURTE DISTANCE DANS LES MATERIAUX AMORPHES OU POLYCRISTALLINS. ELLE PEUT ETRE FAITE AVEC UNE PRECISION DE 3.10#-#3 NM POUR DES VALEURS DE CES DISTANCES ALLANT JUSQU'A 1,2 NM. ELLE A ETE UTILISEE POUR L'ETUDE DE MATERIAUX CERAMIQUES.

Download or read book Microscopie lectronique s lective en transmission Contribution l tude de l ordre dans la mati re written by Serge Galaup and published by . This book was released on 1996 with total page 161 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: L'ADAPTATION SUR LES MICROSCOPES ELECTRONIQUES EN TRANSMISSION DE SYSTEMES DISPERSIFS EN ENERGIE D'ELECTRONS ET DE NOUVEAUX DISPOSITIFS DE DETECTION (SYSTEMES SCINTILLATEUR-PHOTOMULTIPLICATEUR, RESEAUX DE PHOTODIODES OU CCD) PERMET D'ENVISAGER UNE DETERMINATION QUANTITATIVE PRECISE DE LA CONTRIBUTION DES PROCESSUS DE DIFFUSION ELASTIQUE ET INELASTIQUE A LA FORMATION DES IMAGES ET DES DIAGRAMMES DE DIFFRACTION ELECTRONIQUE. ELLE CONSTITUE UNE ETAPE ESSENTIELLE POUR LA CONNAISSANCE DE L'ORDRE DANS LA MATIERE A L'ECHELLE ATOMIQUE. LE DEVELOPPEMENT RECENT DE SYSTEMES DE FILTRAGE D'IMAGES CONFIRME CET INTERET, CEPENDANT LES SYSTEMES PROPOSES RESTENT ONEREUX ET SONT ENCORE PEU ACCESSIBLES. A PARTIR D'UN SYSTEME DISPERSIF CONSTITUE D'UN PRISME MAGNETIQUE, DISPOSE SOUS LA COLONNE D'UN MICROSCOPE, NOUS AVONS DEVELOPPE UN SYSTEME DE FILTRAGE EN ENERGIE DES INTENSITES. IL EST EXPLOITABLE LORSQUE L'INFORMATION UTILE EST DISTRIBUEE SUIVANT UNE DIRECTION COMME C'EST LE CAS DANS LES DIAGRAMMES DE DIFFRACTION ELECTRONIQUE OU DANS LES IMAGES DE RESEAUX DE FRANGES ET D'INTERFACES. DANS NOTRE MONTAGE LE MICROSCOPE EST PILOTE PAR UN MICROORDINATEUR QUI PERMET DE COMMANDER LA DEFLEXION DU DIAGRAMME OU DE L'IMAGE DEVANT L'OUVERTURE D'ENTREE DU SPECTROMETRE UTILISE COMME MONOCHROMATEUR. CET ORDINATEUR EST INTERFACE AVEC LE SPECTROMETRE POUR L'ACQUISITION ET LE TRAITEMENT DES DONNEES. LE SYSTEME DE COMPTAGE SCINTILLATEUR-PHOTOMULTIPLICATEUR POSSEDE UNE DYNAMIQUE SUFFISAMMENT LARGE (6 DECADES) POUR PERMETTRE LE TRAITEMENT DE LA PLUPART DES TYPES DE PROFILS D'INTENSITE OBTENUS A PARTIR DES IMAGES OU DES DIAGRAMMES. LE SYSTEME PEUT ETRE UTILISE POUR ETUDIER LES PROCESSUS DE DIFFUSION ELASTIQUE ET INELASTIQUE ET LEUR CONTRIBUTION A LA FORMATION DES IMAGES ET DES DIAGRAMMES DE DIFFRACTION. UNE DES APPLICATIONS IMPORTANTES DE CE DISPOSITIF CONCERNE LA DETERMINATION DE L'ORDRE A COURTE DISTANCE DANS LES MATERIAUX AMORPHES OU POLYCRISTALLINS. ELLE PEUT ETRE FAITE AVEC UNE PRECISION DE 3.10#-#3 NM POUR DES VALEURS DE CES DISTANCES ALLANT JUSQU'A 1,2 NM. ELLE A ETE UTILISEE POUR L'ETUDE DE MATERIAUX CERAMIQUES

Download or read book Microscopie lectronique transmission en haute r solution num rique et quantitative written by Henri Souchay and published by . This book was released on 1999 with total page 199 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Dans le contexte actuel de la microscopie à transmission quantitative a haute résolution, ce travail se propose de faire le lien entre les manipulations expérimentales et les analyses quantitatives auxquelles elles peuvent donner lieu. Pour y parvenir, trois éléments sont nécessaires : une théorie de la formation de l'image qui puisse donner lieu à des calculs numériques assez rapides ; un détecteur d'images électroniques performant ; et un outil logiciel permettant l'acquisition et le traitement des images, leur comparaison avec des simulations et les outils de base pour des reconstructions. Les principaux aspects de la formation d'image en haute résolution sont repris dans le premier chapitre, avec des rappels importants, et un calcul de l'image développe jusqu'aux effets non linéaires et la cohérence partielle pour des défauts cristallins. Dans le second chapitre, après un état de l'art des capteurs d'images électroniques, la propagation est décrite en détail, notamment les effets de l'étalement du signal sur sa variance. Le résultat montre que le bruit crée par la double scintillation était jusque-là sous-estime. Le développement d'une caméra, associe à ce travail, permet de présenter les méthodes de caractérisation de ce type de capteur, en insistant sur la distinction entre le transfert du bruit et du signal. Enfin, le dernier chapitre présente un cahier des charges pour le logiciel et explicite certains des algorithmes utilises, avant de proposer quelques applications : corrections du transfert dans la camera, alignement d'images, et application de la méthode des phases géométriques

Download or read book Contribution l am lioration de l imagerie en microscopie lectronique transmission written by Gerard Balossier and published by . This book was released on 1981 with total page 354 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:

Download or read book MICROSCOPIE ELECTRONIQUE A BALAYAGE ANALYTIQUE written by CHANG ZHONG.. JIANG and published by . This book was released on 1999 with total page 211 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: EN MICROSCOPIE ELECTRONIQUE A BALAYAGE (MEB), LE CONTRASTE DU MATERIAU ET LE CONTRASTE TOPOGRAPHIQUE DES ELECTRONS RETRODIFFUSES DEPEND NOTABLEMENT DES ANGLES D'INCIDENCE ET DE COLLECTION. DANS UNE PREMIERE PARTIE NOUS PROPOSONS UNE GEOMETRIE PARTICULIERE CORRESPONDANT A UNE DETECTION COAXIALE DES ELECTRONS RETRODIFFUSES. NOUS MONTRONS QUE L'AVANTAGE PRINCIPAL DE CETTE GEOMETRIE EST D'AUGMENTER LA SENSIBILITE AU NUMERO ATOMIQUE TOUT EN MINIMISANT LE CONTRASTE TOPOGRAPHIQUE. LES CARACTERISTIQUES DU MICROSCOPE A EMPLOYER SONT ETUDIEES POUR DEFINIR LES CONDITIONS D'OBTENTION D'UN FAIBLE DIAMETRE DE FAISCEAU. LE SYSTEME EXPERIMENTAL PRESENTE UN ENSEMBLE DES PARAMETRES AJUSTABLES (ENERGIE PRIMAIRE, PERTE D'ENERGIE, ANGLE D'INCIDENCE ET ANGLE DE COLLECTION) DONT LES INFLUENCES CONJUGUEES SONT DIFFICILES A PREVOIR. POUR PRECISER LES CONDITIONS EXPERIMENTALES, NOUS AVONS CHOISI DE SIMULER LES TRAJECTOIRES ELECTRONIQUES DANS LES MATERIAUX D'ETUDE. NOS SIMULATIONS SONT FAITES EN UTILISANT LA METHODE DE MONTE CARLO ET EN SUPPOSANT UN ECHANTILLON AMORPHE BOMBARDE PAR UN FAISCEAU PONCTUEL D'ELECTRON. L'INTERACTION ELECTRON-MATIERE ET LA TECHNIQUE DE MONTE CARLO SONT DECRITES DANS LA DEUXIEME PARTIE. NOUS AVONS UTILISE DES SECTIONS EFFICACES ELASTIQUES CALCULEES PAR LA METHODE DU DEVELOPPEMENT EN ONDES PARTIELLES. NOUS DECRIVONS L'INTERACTION INELASTIQUE EN UTILISANT L'APPROXIMATION DES PERTES CONTINUES DE BETHE. DANS LA DERNIERE PARTIE, NOUS AVONS PRESENTE LES RESULTATS DE LA SIMULATION ET DISCUTE EN DETAIL LES INFLUENCES DES DIFFERENTS PARAMETRES SUR LES TAUX DE RETRODIFFUSION D'UN ECHANTILLON MASSIF ET D'UNE COUCHE MINCE. LES CARACTERISTIQUES LES PLUS IMPORTANTES (PAR EXEMPLE : CONTRASTE EN Z, CONTRASTE TOPOGRAPHIQUE, RAPPORT SIGNAL SUR BRUIT, RESOLUTION SPATIALE, ETC.) SONT AUSSI DISCUTEES. LA SIMULATION PERMET DE TROUVER COMMENT AJUSTER LES PARAMETRES DISPONIBLES DU MICROSCOPE, PAR RAPPORT AUX VALEURS DE Z MISES EN JEU, POUR ATTEINDRE LES OBJECTIFS JUGES PRIORITAIRES.

Download or read book Quelques d veloppements r cents de la spectroscopie de pertes d nergie en STEM written by Christian Jeanguillaume and published by . This book was released on 1982 with total page 155 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:

Download or read book Mesure par spectroscopie des pertes d nergie lectroniques de la section efficace des dommages caus s par l impact des lectrons de basse nergie sur des films condens s de t trahydrofurane written by Simon-Philippe Breton and published by . This book was released on 2005 with total page 76 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:

Download or read book Pertes d nergie en microscopie lectronique tr s haute tension written by José-Philippe Pérez and published by . This book was released on 1976 with total page 220 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: AFIN D'ETUDIER LA NATURE DES PERTES D'ENERGIE ET LEUR ROLE DANS LA FORMATION DES IMAGES EN MICROSCOPIE ELECTRONIQUE A TRES HAUTE TENSION, ON A ADAPTE UN ANALYSEUR D'ENERGIE SUR LES MICROSCOPES. ON A CHOISI UN SYSTEME DISPERSIF, DU TYPE PRISME MAGNETIQUE. PERTES D'ENERGIE D'ELECTRONS RAPIDES PAR CREATION DE PLASMONS DE VOLUME, PAR EXCITATION DE NIVEAUX ATOMIQUES PROFONDS, PAR DIFFUSION MULTIPLE.