Download or read book Contribution a l etude de l interaction entre un faisceau laser et un milieu semiconducteur applications a l etude du latchup et a l analyse d etats logiques dans les circuits integres en technologie CMOS written by Pascal Fouillat and published by . This book was released on 1990 with total page 0 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt:

Download or read book Contribution l tude de l interaction entre un faisceau laser et un milieu semiconducteur written by Pascal Fouillat (professeur d'électronique) and published by . This book was released on 1990 with total page 213 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: UNE MODELISATION APPROFONDIE DE L'INTERACTION LASER-SEMICONDUCTEUR PERMET L'ETUDE DE L'INFLUENCE DES PARAMETRES PHYSIQUES ET TECHNOLOGIQUES SUR L'EFFET PHOTOELECTRIQUE INDUIT. LES RESULTATS EXPERIMENTAUX SUR LA LOCALISATION ET LA CARACTERISATION DES STRUCTURES BIPOLAIRES PARASITES INHERENTES A LA TECHNOLOGIE CMOS SONT CONFIRMES SIMULATION ELECTRIQUE. UNE SECONDE APPLICATION DEMONTRE LA FAISABILITE D'UNE ANALYSE D'ETATS LOGIQUES INTERNES SANS CONTACT DANS LES CIRCUITS INTEGRES. LE BANC DE TEST PAR FAISCEAU LASER EST COMPARE AUX AUTRES TECHNIQUES DE TEST SANS CONTACT ET SES PERSPECTIVES D'EVOLUTION SONT EVALUEES

Download or read book Handbook of Information Security Threats Vulnerabilities Prevention Detection and Management written by Hossein Bidgoli and published by John Wiley & Sons. This book was released on 2006-03-13 with total page 1154 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: The Handbook of Information Security is a definitive 3-volume handbook that offers coverage of both established and cutting-edge theories and developments on information and computer security. The text contains 180 articles from over 200 leading experts, providing the benchmark resource for information security, network security, information privacy, and information warfare.

Download or read book Secure Smart Embedded Devices Platforms and Applications written by Konstantinos Markantonakis and published by Springer Science & Business Media. This book was released on 2013-09-14 with total page 599 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: New generations of IT users are increasingly abstracted from the underlying devices and platforms that provide and safeguard their services. As a result they may have little awareness that they are critically dependent on the embedded security devices that are becoming pervasive in daily modern life. Secure Smart Embedded Devices, Platforms and Applications provides a broad overview of the many security and practical issues of embedded devices, tokens, and their operation systems, platforms and main applications. It also addresses a diverse range of industry/government initiatives and considerations, while focusing strongly on technical and practical security issues. The benefits and pitfalls of developing and deploying applications that rely on embedded systems and their security functionality are presented. A sufficient level of technical detail to support embedded systems is provided throughout the text, although the book is quite readable for those seeking awareness through an initial overview of the topics. This edited volume benefits from the contributions of industry and academic experts and helps provide a cross-discipline overview of the security and practical issues for embedded systems, tokens, and platforms. It is an ideal complement to the earlier work, Smart Cards Tokens, Security and Applications from the same editors.

Download or read book Smart Cards Tokens Security and Applications written by Keith Mayes and published by Springer. This book was released on 2017-05-18 with total page 552 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: This book provides a broad overview of the many card systems and solutions that are in practical use today. This new edition adds content on RFIDs, embedded security, attacks and countermeasures, security evaluation, javacards, banking or payment cards, identity cards and passports, mobile systems security, and security management. A step-by-step approach educates the reader in card types, production, operating systems, commercial applications, new technologies, security design, attacks, application development, deployment and lifecycle management. By the end of the book the reader should be able to play an educated role in a smart card related project, even to programming a card application. This book is designed as a textbook for graduate level students in computer science. It is also as an invaluable post-graduate level reference for professionals and researchers. This volume offers insight into benefits and pitfalls of diverse industry, government, financial and logistics aspects while providing a sufficient level of technical detail to support technologists, information security specialists, engineers and researchers.

Download or read book D tection et localisation de d fauts dans les circuits int gr s logiques par test sous faisceau laser written by Bertrand Simonin and published by . This book was released on 1988 with total page 340 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: CE TRAVAIL CONSISTE EN LA RECHERCHE DES POSSIBILITES D'UTILISATION, COMME MOYEN DE TEST DE CIRCUITS INTEGRES, DE L'EFFET PHOTOELECTRIQUE INDUIT PAR UN FAISCEAU LASER. LA PARTIE EXPERIMENTALE COMPORTE LA REALISATION D'UNE STATION DE MESURE, SA MISE AU POINT OPTIQUE, ELECTRONIQUE, AINSI QUE LA CONCEPTION DE SON INFORMATIQUE DE COMMANDE. L'ETUDE ET LA MODELISATION DE L'INTERACTION RAYONNEMENT-SEMICONDUCTEUR A APPORTE DES ELEMENTS D'EXPLICATION AUX REPONSES DES CIRCUITS A L'EXCITATION LUMINEUSE. UNE EVALUATION APPROFONDIE DU COMPORTEMENT DE CIRCUITS DE DIVERSES TECHNOLOGIES A ETE EFFECTUEE POUR DES FONCTIONNEMENTS EN TENSION MARGINALE ET VIS-A-VIS DE L'AUTO-AMORCAGE (LATCH-UP). LES CONCLUSIONS ONT PERMIS DE DEFINIR DES PROCEDURES SIGNIFICATIVES DE TEST.

Download or read book D veloppement et applications de techniques laser impulsionnelles pour l analyse de d faillance des circuits int gr s written by Emeric Faraud and published by . This book was released on 2012 with total page 0 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Les techniques de localisation de défauts basées sur la stimulation laser restent aujourd'hui les techniques parmi les plus avancées qui existent. Elles permettent la stimulation thermique ou photoélectrique de façon très localisée sans contact physique. Les travaux dans ce mémoire sont consacrés au développement et à l'application de techniques d'analyse par faisceau laser impulsionnelles destinées à l'analyse des circuits intégrés. Le développement matériel et les investigations de méthodologies d'analyse ont été portés par la motivation du projet MADISON (Méthodes d'Analyse de Défaillances Innovantes par Stimulation Optique dyNamique), qui a pour but d'augmenter le taux de succès des analyses des circuits complexes VLSI par stimulation laser. L'utilisation de systèmes optiques très performants comprenant des sources laser impulsionnelles fibrées nous a permis d'explorer les capacités en termes d'analyse par stimulation laser photoélectrique impulsionelle. Une étude originale de l'étude du phénomène Latchup a montré une augmentation de la résolution latérale avec l'utilisation du processus d'absorption non linéaire.

Download or read book Analyse physique et mod lisation de l interaction LASER silicium written by Hervé Lapuyade and published by . This book was released on 1996 with total page 230 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: L'INTERACTION LASER-SILICIUM EST D'ABORD L'OBJET D'UNE ANALYSE PHYSIQUE: LE TAUX DE GENERATION DE PAIRES ELECTRON-TROU QU'INDUIT L'ONDE LASER DANS LE SILICIUM DES CIRCUITS INTEGRES EST MODELISE. DANS LE CADRE DE LA DIFFUSION AMBIPOLAIRE DES PORTEURS EXCEDENTAIRES EN REGIME DE FAIBLE INJECTION, DISTRIBUTION DES PHOTOPORTEURS ET PHOTOCOURANTS SONT ENSUITE ETABLIS SUR LE PLAN ANALYTIQUE DANS DES STRUCTURES ELEMENTAIRES QU'UN FAISCEAU LASER PHOTO-EXCITE. ENFIN, UNE TECHNIQUE DE CONCEPTION EST PROPOSEE, QUI CONSISTE A INSERER DES CELLULES ACTIVEES PAR FAISCEAU LASER DEDIEES AU TEST INTERNE DES CIRCUITS INTEGRES. LE FONCTIONNEMENT PHYSIQUE ET ELECTRIQUE DE TELLES CELLULES REALISEES EN TECHNOLOGIES CMOS ET BICMOS EST ETUDIE A L'AIDE DE SIMULATIONS PHYSIQUES TRIDIMENSIONNELLES ET MIXTES

Download or read book ETUDE DE L INTERACTION DE RAYONNEMENTS AVEC DES LASERS A SEMI CONDUCTEUR written by ERIC.. PAILHAREY and published by . This book was released on 2000 with total page 180 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: CE MEMOIRE TRAITE DU COMPORTEMENT DE DIODES LASER EN ENVIRONNEMENT RADIATIF. LA PREMIERE PARTIE RAPPELLE LES PRINCIPES DE BASE DE L'INTERACTION RAYONNEMENT-MATIERE APPLIQUES AU CAS DES SEMI-CONDUCTEURS. LES ENVIRONNEMENTS RADIATIFS CONCERNES, LES POINTS ESSENTIELS DU FONCTIONNEMENT DES DIODES LASER ET LES TRAVAUX ACCOMPLIS PAR D'AUTRES GROUPES DE RECHERCHE SONT PRESENTES ET COMMENTES. DANS LA SECONDE PARTIE, LES DIODES LASER (1300 NM) A EMISSION LATERALE SONT TESTEES SYSTEMATIQUEMENT. LA REPONSE A UNE EXCITATION IONISANTE TRANSITOIRE EST EXPLOREE PRINCIPALEMENT A L'AIDE D'UN FAISCEAU LASER A 532 NM. LE TEMPS DE RETOUR A L'EQUILIBRE APRES LA PERTURBATION EST DECOMPOSE EN PLUSIEURS ETAPES : DIMINUTION DE LA PUISSANCE OPTIQUE PENDANT L'EXCITATION, RETARD A L'ALLUMAGE, OSCILLATIONS DE RELAXATION ET INCREMENT DE PUISSANCE. L'ORIGINE DE CES PHENOMENES EST ANALYSEE A PARTIR DE LA STRUCTURE DU COMPOSANT. POUR PRENDRE EN COMPTE L'ENSEMBLE DU COMPORTEMENT DU COMPOSANT DANS LA SIMULATION, UNE ETUDE EXPERIMENTALE DES MATERIAUX RESISTIFS ASSURANT LE CONFINEMENT LATERAL DES LIGNES DE COURANT EST ENTREPRISE. LES EFFETS DU PASSAGE D'UNE PARTICULE UNIQUE DANS LA CAVITE OPTIQUE ET L'ANALYSE DES DOMMAGES PERMANENTS INDUITS PAR UN BOMBARDEMENT NEUTRONIQUE SONT EGALEMENT DETERMINES. LA TROISIEME PARTIE TRAITE DES DIODES LASER A EMISSION VERTICALE (VCSEL) EMETTANT A 850 NM. LE COMPORTEMENT DE CES COMPOSANTS DONT LES PERFORMANCES SONT ENCORE MAL MAITRISEES, EST EXPLORE EN FONCTION DE LA TEMPERATURE ET DE LA POLARISATION. PUIS LES VCSEL SONT SOUMISES A UNE IMPULSION IONISANTE TRANSITOIRE ET LEURS REPONSES COMPAREES A CELLES DES DIODES LASER A EMISSION LATERALE. NOUS AVONS NOTAMMENT REMARQUE QUE LA PRESENCE DE ZONES PROTONEES INDUIT UN COMPORTEMENT SIMILAIRE POUR LES DEUX TECHNOLOGIES. ENFIN LES VCSEL SONT SOUMISES A UNE FLUENCE NEUTRONIQUE, L'INFLUENCE DES DOMMAGES EST ETUDIEE SUR LE COURANT DE SEUIL LASER, LES FIGURES D'EMISSION ET LA PUISSANCE OPTIQUE MAXIMALE ACCESSIBLE.

Download or read book Contribution au d veloppement de techniques de stimulation laser dynamique pour la localisation de d fauts dans les circuits VLSI written by Amjad Deyine and published by . This book was released on 2011 with total page 0 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: L'objectif principal du projet est d'étudier les techniques d'analyses de défaillances des circuits intégrés VLSI basées sur l'emploi de laser. Les études ont été effectuées sur l'équipement à balayage laser MERIDIAN (DCGSystems) et le testeur Diamond D10 (Credence) disponible au CNES. Les travaux de thèse concernent l'amélioration des techniques dynamiques dites DLS comme « Dynamic Laser Stimulation ». Les techniques DLS consistent à perturber le fonctionnement d'un circuit intégré défaillant par effet photoélectrique ou effet photothermique, en fonctionnement dynamique, à l'aide d'un faisceau laser continu balayant la surface du circuit. Un faisceau laser modulé avec des impulsions supérieures à la nanoseconde et de façon synchrone avec le test électrique à l'aide d'un signal TTL peut être également avantageusement utilisé pour localiser des défauts non accessibles par des techniques purement statiques (OBIRCh, OBIC etc.). L'analyse de la réponse des paramètres électriques à la perturbation laser conduit à une identification de l'origine de la défaillance dynamique. L'optimisation des techniques DLS actuelles permet d'augmenter le taux de succès des analyses de défaillance et d'apporter des informations difficilement accessibles jusqu'alors, qui permettent la détermination de la cause racine de la défaillance.Dans un premier temps, le travail réalisé a consisté en l'amélioration du processus d'analyse des techniques DLS par l'intégration étroite avec le test de façon à observer tout paramètre électrique significatif lors du test DLS. Ainsi, les techniques de « Pass-Fail Mapping » ou encore les techniques paramétriques de localisation de défauts ont été implémentées sur le banc de test constitué du Meridian et du D10. La synchronisation du déroulement du test opéré par le testeur avec le balayage laser a permis par la suite d'établir des méthodologies visant à rajouter une information temporelle aux informations spatiales. En effet, en utilisant un laser modulé nous avons montré que nous étions capable d'identifier avec précision quels sont les vecteurs impliqués dans le comportement défaillant en modulant l'éclairement du faisceau laser en fonction de la partie de la séquence de test déroulée. Ainsi nous somme capable de corréler la fonction défaillante et les structures du CI impliquées. Cette technique utilisant le laser modulé est appelée F-DLS pour « Full Dynamic Laser Stimulation ». A l'inverse, nous pouvons connaitre la séquence de test qui pose problème, et par contre ne pas connaitre les structures du CI impliquées. Dans l'optique de rajouter cette l'information, il a été développé une technique de mesure de courant dynamique. Cette technique s'est avérée efficace pour obtenir des informations sur le comportement interne du CI. A titre d'exemple, prenons le cas des composants « latchés » où les signaux sont resynchronisés avant la sortie du composant. Il est difficile, même avec les techniques DLS actuelles, d'avoir des informations sur une dérive temporelle des signaux. Cependant l'activité interne du composant peut être caractérisée en suivant sur un oscilloscope l'évolution du courant lorsque le circuit est actif, sous la stimulation laser. L'information sur la dérive temporelle peut être extraite par observation de cette activité interne.Enfin, ces techniques de stimulation laser dynamique, ont également prouvé leur efficacité pour l'étude de la fiabilité des CI. La capacité de ces techniques à détecter en avance d'infimes variations des valeurs des paramètres opérationnels permet de mettre en évidence l'évolution des marges de ces paramètres lors d'un processus de vieillissement accéléré. L'étude de l'évolution de la robustesse des CI face aux perturbations externes est un atout majeur qu'apportent les techniques DLS à la fiabilité.Les méthodologies développées dans cette thèse, sont intégrées dans les processus d'analyse et de caractérisation de CI au laboratoire.

Download or read book Proof Theory and Automated Deduction written by Jean Goubault-Larrecq and published by Springer Science & Business Media. This book was released on 2001-11-30 with total page 448 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Interest in computer applications has led to a new attitude to applied logic in which researchers tailor a logic in the same way they define a computer language. In response to this attitude, this text for undergraduate and graduate students discusses major algorithmic methodologies, and tableaux and resolution methods. The authors focus on first-order logic, the use of proof theory, and the computer application of automated searches for proofs of mathematical propositions. Annotation copyrighted by Book News, Inc., Portland, OR

Download or read book Global Warming and Climate Change written by Emma Carlson Berne and published by Referencepoint Press. This book was released on 2008 with total page 118 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: Throughout the world, the cause and impact of global warming and climate change is being passionately debated. While many claim that a climate crisis is imminent if greenhouse gases are not curbed, others argue that the effects have been overblown. Through objective overviews, primary sources, and full-color illustrations, this title will examine What Is Global Warming and Climate Change? What Are the Consequences of Global Warming? What Are the Controversies Surrounding Global Warming? What Are the Solutions for Global Warming?

Download or read book Logic for Computer Science written by Jean H. Gallier and published by Courier Dover Publications. This book was released on 2015-06-18 with total page 532 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: This advanced text for undergraduate and graduate students introduces mathematical logic with an emphasis on proof theory and procedures for algorithmic construction of formal proofs. The self-contained treatment is also useful for computer scientists and mathematically inclined readers interested in the formalization of proofs and basics of automatic theorem proving. Topics include propositional logic and its resolution, first-order logic, Gentzen's cut elimination theorem and applications, and Gentzen's sharpened Hauptsatz and Herbrand's theorem. Additional subjects include resolution in first-order logic; SLD-resolution, logic programming, and the foundations of PROLOG; and many-sorted first-order logic. Numerous problems appear throughout the book, and two Appendixes provide practical background information.

Download or read book Fault Analysis in Cryptography written by Marc Joye and published by Springer Science & Business Media. This book was released on 2012-06-21 with total page 352 pages. Available in PDF, EPUB and Kindle. Book excerpt: In the 1970s researchers noticed that radioactive particles produced by elements naturally present in packaging material could cause bits to flip in sensitive areas of electronic chips. Research into the effect of cosmic rays on semiconductors, an area of particular interest in the aerospace industry, led to methods of hardening electronic devices designed for harsh environments. Ultimately various mechanisms for fault creation and propagation were discovered, and in particular it was noted that many cryptographic algorithms succumb to so-called fault attacks. Preventing fault attacks without sacrificing performance is nontrivial and this is the subject of this book. Part I deals with side-channel analysis and its relevance to fault attacks. The chapters in Part II cover fault analysis in secret key cryptography, with chapters on block ciphers, fault analysis of DES and AES, countermeasures for symmetric-key ciphers, and countermeasures against attacks on AES. Part III deals with fault analysis in public key cryptography, with chapters dedicated to classical RSA and RSA-CRT implementations, elliptic curve cryptosystems and countermeasures using fault detection, devices resilient to fault injection attacks, lattice-based fault attacks on signatures, and fault attacks on pairing-based cryptography. Part IV examines fault attacks on stream ciphers and how faults interact with countermeasures used to prevent power analysis attacks. Finally, Part V contains chapters that explain how fault attacks are implemented, with chapters on fault injection technologies for microprocessors, and fault injection and key retrieval experiments on a widely used evaluation board. This is the first book on this topic and will be of interest to researchers and practitioners engaged with cryptographic engineering.